本实用新型专利技术公开了一种焦平面探测器检测装置，焦平面探测器检测装置包括壳体、放置单元、第一遮挡单元、辐射源、接收单元，壳体具有第一侧壁，第一侧壁上开设有通孔；放置单元用于放置焦平面探测器，并驱动焦平面探测器进入壳体并能够运动至第一位置；第一遮挡单元安装于壳体上并用于打开或覆盖通孔；辐射源，置于壳体外部，焦平面探测器运动至第一位置时，辐射源能够通过通孔辐照于焦平面探测器的感光面；接收单元，与焦平面探测器电连接，接收单元用于采集数据。通过放置单元引导以控制焦平面探测器的移动，便于操作，无需手动更换焦平面探测器并调整其位置，避免焦平面探测器受辐照位置发生偏移，提高测试结果准确度。提高测试结果准确度。提高测试结果准确度。
【技术实现步骤摘要】
焦平面探测器检测装置
[0001]本技术涉及一种焦平面探测器检测装置。
技术介绍
[0002]光电技术在市场应用中大面积铺开推广，目前在激光通信、车载雷达方面使用颇多，并随着技术进步和产业化升级，人们对光电系统的需求与日俱增，从而大幅增加了焦平面探测器的使用频率，这要求相关制造行业对焦平面探测器出厂前的电学性能品质检测和筛选具有快速精准的特点。
[0003]但是，现有技术中，需要手动更换焦平面探测器以逐个检测探测器的电学性能，容易导致探测器受辐照位置发生偏移，进而影响测试结果的准确性，难以得到产品性能的真实反馈，并且操作难度大。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中更换焦平面探测器时容易导致探测器受辐照位置发生偏移，进而影响测试结果准确性的缺陷，提供一种焦平面探测器检测装置。
[0005]本技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
[0006]本技术提供了一种焦平面探测器检测装置，所述焦平面探测器检测装置包括：
[0007]壳体，具有第一侧壁，所述第一侧壁上开设有通孔；
[0008]放置单元，用于放置所述焦平面探测器，并驱动所述焦平面探测器进入所述壳体并能够运动至第一位置；
[0009]第一遮挡单元，安装于所述壳体上并用于打开或覆盖所述通孔；
[0010]辐射源，置于所述壳体外部，所述焦平面探测器运动至所述第一位置时，所述辐射源能够通过所述通孔辐照于所述焦平面探测器的感光面；
[0011]接收单元，与所述焦平面探测器电连接，所述接收单元用于采集数据。
[0012]在本方案中，采用上述结构形式，通过放置单元引导以控制焦平面探测器的移动，便于操作，无需手动更换焦平面探测器并调整其位置，避免焦平面探测器受辐照位置发生偏移，减少人工干预在测试过程中引入的额外因素干预，提高测试结果准确度。另外，通过控制第一遮挡单元以实现焦平面探测器在不同环境下的模拟测试，无需手动遮挡，降低人工操作难度。此外，放置单元上可依次放置多个焦平面探测器，逐个进入壳体并依次运动至第一位置，依次进行检测，实现批量化检测，进一步显著提高电学性能检测速度，且在电学性能检测过程中，减少人工操作、探测器更换频次、对测试系统参数的修改次数，保证测试方法及标准一致，使产品性能得到真实反馈，提升测试效率，最终减低焦平面探测器测试成本，有利于焦平面探测器的行业发展。
[0013]较佳地，所述放置单元包括导轨和放置本体，所述放置本体用于放置所述焦平面
探测器，所述导轨贯穿所述壳体，所述放置本体与所述导轨滑动连接。
[0014]在本方案中，采用上述结构形式，通过导轨和放置本体的滑动配合，使得放置本体在导轨上移动过程中受到的摩擦阻力较小，移动更加顺滑，提高移动效率。
[0015]较佳地，所述放置单元还包括基座，所述基座固接于所述壳体内，所述焦平面探测器运动至所述第一位置时，所述放置本体能够与所述基座磁性连接。
[0016]在本方案中，采用上述结构形式，通过放置本体与基座之间的磁性连接，使得焦平面探测器能够定位于第一位置，避免焦平面探测器在测试过程中受辐照位置发生偏移。
[0017]较佳地，所述导轨上开设有滑槽，所述放置本体部分置于所述滑槽内并在所述滑槽内滑动。
[0018]在本方案中，采用上述结构形式，通过滑槽实现放置本体的滑动，即实现焦平面探测器的移动，在导轨上开设滑槽，便于加工，且空间布局合理。
[0019]较佳地，所述滑槽的数量为两个，所述放置本体的两侧分别置于两个所述滑槽内。
[0020]在本方案中，采用上述结构形式，放置本体在导轨上滑动时，稳定性高。
[0021]较佳地，所述滑槽内安装有滚动件。
[0022]在本方案中，采用上述结构形式，减少了放置本体滑动过程中的阻力，较少或避免产生阻滞。
[0023]较佳地，所述壳体上与所述第一侧壁相邻的两个第二侧壁上开设贯穿孔，所述导轨通过所述贯穿孔贯穿所述壳体；
[0024]所述焦平面探测器检测装置还包括第二遮挡单元，所述第二遮挡单元安装在所述壳体上并至少覆盖所述贯穿孔和所述放置单元之间的间隙。
[0025]在本方案中，采用上述结构形式，放置单元穿过第二侧壁的过程中，通过第二遮挡单元对放置单元和壳体之间的间隙进行遮挡，保证壳体内部黑暗、封闭，进一步提高测试结果的准确性。
[0026]较佳地，所述第二遮挡单元柔性设置，所述第二遮挡单元的上端与所述壳体连接，且所述第二遮挡单元与所述壳体之间的连接点位于所述贯穿孔的上方。
[0027]在本方案中，采用上述结构形式，无需人工调整第二遮挡单元的位置，依靠第二遮挡单元的重力作用实现对放置单元和壳体之间的间隙进行遮挡，降低人力成本。
[0028]较佳地，所述放置本体包括印刷线路板和放置基座，所述印刷线路板与所述导轨滑动连接，所述放置基座用于放置所述焦平面探测器，所述放置基座置于所述印刷线路板上靠近所述通孔的一侧。
[0029]较佳地，所述第一遮挡单元包括多个依次排布的遮挡件，所述遮挡件具有第一状态和第二状态，所述遮挡件位于所述第一状态时，多个所述遮挡件相互抵接以覆盖所述通孔，所述遮挡件位于所述第二状态时，多个所述遮挡件相对所述第一侧壁倾斜设置以打开所述通孔。
[0030]在本方案中，采用上述结构形式，可以通过外部控制伺服驱动器，控制遮挡件在第一状态和第二状态之间切换，从而实现第一遮挡单元覆盖或打开通孔，进一步降低人工操作难度，提升测试效率。
[0031]本技术的积极进步效果在于：
[0032]本技术中的焦平面探测器检测装置通过放置单元引导以控制焦平面探测器
的移动，便于操作，无需手动更换焦平面探测器并调整其位置，避免焦平面探测器受辐照位置发生偏移，减少人工干预在测试过程中引入的额外因素干预，提高测试结果准确度。另外，通过控制第一遮挡单元以实现焦平面探测器在不同环境下的模拟测试，无需手动遮挡，降低人工操作难度。此外，放置单元上可依次放置多个焦平面探测器，逐个进入壳体并依次运动至第一位置，依次进行检测，实现批量化检测，进一步显著提高电学性能检测速度，且在电学性能检测过程中，减少人工操作、探测器更换频次、对测试系统参数的修改次数，保证测试方法及标准一致，使产品性能得到真实反馈，提升测试效率，最终减低焦平面探测器测试成本，有利于焦平面探测器的行业发展。
附图说明
[0033]图1为本技术较佳实施例的焦平面探测器检测装置的结构示意图。
[0034]图2为本技术较佳实施例的焦平面探测器检测装置另一角度的结构示意图。
[0035]图3为本技术较佳实施例的焦平面探测器检测装置的剖视图。
[0036]图4为本技术较佳实施例的焦平面探测器检测装置的内部结构示意图。
[0037]附图标记说明：
[0038]壳体1
[0039]第一侧壁11
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种焦平面探测器检测装置，其特征在于，所述焦平面探测器检测装置包括：壳体，具有第一侧壁，所述第一侧壁上开设有通孔；放置单元，用于放置所述焦平面探测器，并驱动所述焦平面探测器进入所述壳体并能够运动至第一位置；第一遮挡单元，安装于所述壳体上并用于打开或覆盖所述通孔；辐射源，置于所述壳体外部，所述焦平面探测器运动至所述第一位置时，所述辐射源能够通过所述通孔辐照于所述焦平面探测器的感光面；接收单元，与所述焦平面探测器电连接，所述接收单元用于采集数据。2.如权利要求1所述的焦平面探测器检测装置，其特征在于，所述放置单元包括导轨和放置本体，所述放置本体用于放置所述焦平面探测器，所述导轨贯穿所述壳体，所述放置本体与所述导轨滑动连接。3.如权利要求2所述焦平面探测器检测装置，其特征在于，所述放置单元还包括基座，所述基座固接于所述壳体内，所述焦平面探测器运动至所述第一位置时，所述放置本体能够与所述基座磁性连接。4.如权利要求2所述的焦平面探测器检测装置，其特征在于，所述导轨上开设有滑槽，所述放置本体部分置于所述滑槽内并在所述滑槽内滑动。5.如权利要求4所述的焦平面探测器检测装置，其特征在于，所述滑槽的数量为两个，所述放置本体的两侧分别置于两个所述滑槽内。6.如权利要求4...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨睿杰，张镇峰，孙夺，李淘，刘大福，李雪，
申请(专利权)人：无锡中科德芯感知科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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