探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质技术方案

本发明专利技术公开了一种探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质，其中检测探测器缺陷像元的系统，包括辐照源、衰减片架与衰减片；辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置；衰减片架位于辐照源与探测器之间；辐照源用于辐射光子供探测器探测，辐照源的辐照端为辐照源向外辐射光子的一端，探测器的探测端为探测器接收光子的一端；衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。本发明专利技术通过衰减片架，可以实现不改变辐照源本身的情形下，改变辐照源辐射向探测器的能量，使得变量的控制更为精准，从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体光电子，尤其涉及一种探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质。

技术介绍

1、现有的探测器可以将探测到的光信号转换成电信号，经过探测器转换得到的电信号在经过图像处理后便可以投射到屏幕进行成像，也可传输至特定的接收装置，从而针对接收到的图像进行反馈，在生产、军事、医疗以及各种领域当中均发挥着巨大的作用。在探测器的生产与使用中，需要检测探测器中是否存在缺陷像元以及缺陷像元的数量，由于在不同的使用场景中对探测器像元的精度有着不同的需求，因此，对缺陷像元的检测标准也就存在着不同。在现有的缺陷像元检测方法中，同一检测系统仅能对一种检测标准下的探测器进行检测，因此在需要对一个探测器的不同标准进行检测时，需要频繁更换检测系统结构，很不便捷，且由于不同设备之间的其他参数不能做到完全的统一，检测结果的准确性也比较低。

技术实现思路

1、本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中对一个探测器的不同标准进行检测时，不便捷且检测结果的准确性低的缺陷，提供一种探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质。

2、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，包括辐照源、衰减片架与衰减片；

2.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块与第一传动系统；

3.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；

4.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括锁紧插座；

5.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括遮光盒；

6.一种探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，所述探测...

【技术特征摘要】

1.一种探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，包括辐照源、衰减片架与衰减片；

2.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块与第一传动系统；

3.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；

4.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括锁紧插座；

5.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括遮光盒；

6.一种探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，所述探测器缺陷像元的检测方法采用权利要求1至5中任意一项所述的探测器缺陷像元的检测系统实现，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：张镇峰，杨睿杰，孙夺，李淘，刘大福，李雪，
申请(专利权)人：无锡中科德芯感知科技有限公司，
类型：发明
国别省市：