【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体光电子，尤其涉及一种探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质。
技术介绍
1、现有的探测器可以将探测到的光信号转换成电信号，经过探测器转换得到的电信号在经过图像处理后便可以投射到屏幕进行成像，也可传输至特定的接收装置，从而针对接收到的图像进行反馈，在生产、军事、医疗以及各种领域当中均发挥着巨大的作用。在探测器的生产与使用中，需要检测探测器中是否存在缺陷像元以及缺陷像元的数量，由于在不同的使用场景中对探测器像元的精度有着不同的需求，因此，对缺陷像元的检测标准也就存在着不同。在现有的缺陷像元检测方法中，同一检测系统仅能对一种检测标准下的探测器进行检测，因此在需要对一个探测器的不同标准进行检测时，需要频繁更换检测系统结构，很不便捷，且由于不同设备之间的其他参数不能做到完全的统一，检测结果的准确性也比较低。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中对一个探测器的不同标准进行检测时，不便捷且检测结果的准确性低的缺陷，提供一种探测器缺陷像元的检测系统、方法及介质。
2、本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
3、本专利技术提供一种探测器缺陷像元的检测系统，包括辐照源、衰减片架与衰减片；
4、所述辐照源的辐照端与探测器的探测端对应放置；
5、所述衰减片架位于所述辐照源与所述探测器之间；
6、所述辐照源用于辐射光子供所述探测器探测，所述辐照源的辐照端为所述辐照源向外辐射光子的一端，所述探测
7、所述衰减片架用于放置不同滤光性的衰减片。
8、较佳地，还包括测试电子模块与第一传动系统；
9、所述第一传动系统用于将衰减片传送至所述衰减片架上；
10、所述测试电子模块与所述第一传动系统电连接；
11、所述测试电子模块驱动所述第一传动系统以传送衰减片至所述衰减片架。
12、较佳地，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；
13、所述测试电子模块与所述第二传动系统电连接；
14、所述测试工装模块与探测器可拆卸连接；
15、所述测试工装模块与所述旋转固定平台固定连接；
16、所述测试电子模块用于驱动所述第二传动系统以带动所述旋转固定平台旋转所述测试工装模块。
17、较佳地，所述测试工装模块包括锁紧插座；
18、所述锁紧插座设置于所述测试工装模块内；
19、所述锁紧插座用于放置所述探测器。
20、较佳地，所述测试工装模块包括遮光盒；
21、所述探测器位于所述遮光盒中。
22、本专利技术还提供一种探测器缺陷像元的检测方法，所述探测器缺陷像元的检测方法采用上述探测器缺陷像元的检测系统实现，包括以下步骤：
23、所述辐照源辐射光子供所述探测器探测；
24、传送不同滤光性的衰减片至所述衰减片架上；
25、所述辐照源经不同衰减片的衰减后剩余的能量入射探测器，所述探测器探测光子后输出与不同大小能量对应的输出信号；
26、存储并处理所有的输出信号以得到缺陷像元。
27、较佳地，检测系统还包括测试电子模块与第一传动系统，所述传送不同滤光性的衰减片至所述衰减片架上具体包括：
28、测试电子模块驱动所述第一传动系统以传送不同滤光性的衰减片至所述衰减片架上。
29、较佳地，所述存储并处理所有的输出信号以得到缺陷像元具体包括：
30、计算辐照源经过不同滤光性的衰减片后的能量大小；
31、绘制探测器的输出信号随能量变化的实验曲线，所述探测器的输出信号包括同一探测器的多个像元在不同测试条件下的输出信号；
32、基于同一探测器的多个像元在不同测试条件下的数据，分别计算各条件下的缺陷像元并记录。
33、将不同测试条件下得到的缺陷像元进行汇总，输出总的缺陷情况。
34、较佳地，检测系统还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台，所述探测器探测光子后输出与不同衰减片对应的输出信号具体包括：
35、所述测试电子模块驱动所述第二传动系统以带动所述旋转固定平台旋转所述测试工装模块，以改变探测器与辐照源之间的角度；
36、所述探测器于不同角度下输出与不同衰减片对应的多个输出信号。
37、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本专利技术的探测器缺陷像元的检测方法的步骤。
38、本专利技术的积极进步效果在于：通过衰减片架，可以实现不改变辐照源在各光谱段的能量强度下，仅改变辐照源辐射向探测器的能量，使得变量的控制更为精准，从而可以提升在不同辐照能量下对缺陷像元进行检测的精确度；通过电子模块与传动系统实现对衰减片的便捷更换，也可便捷且精确的改变探测器与辐照源之间的角度，从而使缺陷像元检测系统更为方便操作，且具备更多方面的检测功能；通过得到不同标准下的缺陷像元，使得缺陷像元的判断更为准确，且能够便捷的实现缺陷像元的检测功能。
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1.一种探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，包括辐照源、衰减片架与衰减片；
2.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块与第一传动系统；
3.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；
4.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括锁紧插座；
5.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括遮光盒；
6.一种探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，所述探测器缺陷像元的检测方法采用权利要求1至5中任意一项所述的探测器缺陷像元的检测系统实现，包括以下步骤：
7.如权利要求6所述的探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，检测系统还包括测试电子模块与第一传动系统，所述传送不同滤光性的衰减片至所述衰减片架上具体包括：
8.如权利要求6所述的探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，所述存储并处理所有的输出信号以得到缺陷像元具体包括：
...【技术特征摘要】
1.一种探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，包括辐照源、衰减片架与衰减片；
2.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块与第一传动系统；
3.如权利要求1所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，还包括测试电子模块、测试工装模块、第二传动系统与旋转固定平台；
4.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括锁紧插座；
5.如权利要求3所述的探测器缺陷像元的检测系统，其特征在于，所述测试工装模块包括遮光盒；
6.一种探测器缺陷像元的检测方法，其特征在于，所述探测器缺陷像元的检测方法采用权利要求1至5中任意一项所述的探测器缺陷像元的检测系统实现，包...
【专利技术属性】
技术研发人员：张镇峰，杨睿杰，孙夺，李淘，刘大福，李雪，
申请(专利权)人：无锡中科德芯感知科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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