传感器电性能测试夹具制造技术

本申请适用于测试仪器技术领域，提供了一种传感器电性能测试夹具。传感器电性能测试夹具，用于对待测传感器进行测试，待测传感器包括传感器本体和第一引脚；传感器电性能测试夹具包括绝缘底座、测试供电部以及按压部，测试供电部设置于绝缘底座上；按压部设置于绝缘底座上，按压部包括按压本体和第一绝缘按压件，第一绝缘按压件设置于按压本体上；待测传感器放置于测试供电部上，并通过第一引脚抵接测试供电部，第一绝缘按压件按压在第一引脚上。本申请的这种设计提高了各第一引脚与测试供电部的接触面积，降低了各第一引脚与测试供电部之间的接触电阻，尽可能避免了待测传感器在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。这类问题的发生。这类问题的发生。

【技术实现步骤摘要】
传感器电性能测试夹具


[0001]本申请属于测试仪器
，更具体地说，是涉及一种传感器电性能测试夹具。

技术介绍

[0002]芯片式霍尔电流传感器(以下简称霍尔电流传感器)是基于霍尔效应并采用半导体工艺在硅基上进行制备成型的一种传感器，其主要用来将被测电流信号按一定规律变换成符合一定标准需要的电信号或者其他所需形式的信号。
[0003]目前封装方式为SOP
‑
8型的霍尔电流传感器最大的被测电流为50A，输出电压信号为4.5V，同时加上产品外形太小，该款霍尔电流传感器的尺寸为5.0mm*6.0mm*1.75mm，传统的传感器电性能测试夹具耐流能力不够，在大电流的条件下，霍尔电流传感器的引出端与测试夹具接触后会产生的大量热量，易出现夹具或者产品烧毁的现象。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种传感器电性能测试夹具，旨在解决现有技术中传感器在大电流的条件下测试很容易造成夹具或者产品烧毁的技术问题。
[0005]为实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种传感器电性能测试夹具，用于对待测传感器进行测试，待测传感器包括传感器本体和第一引脚，第一引脚设置于传感器本体上，且与传感器本体电连接；传感器电性能测试夹具包括绝缘底座、测试供电部以及按压部，测试供电部设置于绝缘底座上，用于为待测传感器提供测试电流；按压部设置于绝缘底座上，按压部包括按压本体和第一绝缘按压件，第一绝缘按压件设置于按压本体上，按压本体设置于测试供电部远离绝缘底座的一侧；待测传感器放置于测试供电部上，并通过第一引脚抵接测试供电部，并与测试供电部电连接，第一绝缘按压件按压在第一引脚上。
[0006]可选地，测试供电部设置于绝缘底座上，传感器电性能测试夹具还包括罩设部，罩设部内部空心设置，且罩设在测试供电部上，罩设部的侧壁开设有多个第一散热孔。
[0007]可选地，绝缘底座的上表面开设有散热槽，测试供电部与散热槽对应设置，绝缘底座内部空心设置，且侧壁和底壁均开设有多个第二散热孔。
[0008]可选地，按压部还包括压紧组件，压紧组件可转动地设置于绝缘底座上，压紧组件的输出端具有初始位置以及朝向测试供电部的方向按压按压本体的按压位置。
[0009]可选地，压紧组件包括承载座、传动结构以及按压件，承载座设置于绝缘底座上，传动结构可转动地设置于承载座上，按压件与传动结构的输出端驱动连接，按压件为按压柱，按压柱形成压紧组件的输出端。
[0010]可选地，压紧组件还包括调节螺杆和调节螺帽，调节螺杆的第一端与按压柱固定连接，调节螺帽固定连接在传动结构的输出端上，调节螺杆的第二端与调节螺帽螺纹连接。
[0011]可选地，待测传感器还包括第二引脚，第二引脚设置于传感器本体上，且与传感器本体电连接；传感器电性能测试夹具还包括信号输出组件，信号输出组件包括PCB、第一接线柱、第二接线柱、第三接线柱以及第四接线柱，PCB设置于测试供电部的一侧，用于与待测
传感器的第二引脚电连接；第一接线柱与PCB电连接，用于与外界电压源的正极电连接；第二接线柱与PCB电连接，用于与检测设备的输入端电连接；第三接线柱与PCB电连接，用于与滤波设备的输入端电连接；第四接线柱与PCB电连接，用于与外界电压源的负极、检测设备的输出端以及滤波设备的输出端电连接。
[0012]可选地，测试供电部包括依次间隔设置的第一供电体、第二供电体以及第三供电体，按压部设置有两个，两个按压部中的一个按压部与第一供电体和第二供电体对应设置，另一个按压部与第二供电体和第三供电体对应设置；传感器电性能测试夹具还包括第五接线柱，第五接线柱设置有三个，三个第五接线柱中的一个第五接线柱分别与第一供电体、第二供电体及第三供电体电连接。
[0013]可选地，传感器电性能测试夹具还包括限位部，限位部设置于罩设部上，限位部内开设有用于放置按压本体的第一放置槽，第一放置槽的槽底开设有用于限位第一引脚和第二引脚的限位通槽，以及用于放置传感器本体的第二放置槽，第一引脚能够放置于限位通槽内，且与测试供电部抵接，第二引脚能够放置于限位通槽内，且与PCB抵接；传感器电性能测试夹具还包括支撑柱，支撑柱设置于罩设部内，支撑柱远离绝缘底座的端面设置有用于隔离电磁场的隔离层。
[0014]可选地，传感器电性能测试夹具还包括调节组件，调节组件设置于按压柱上，调节组件包括齿条、齿轮、驱动杆、棘轮、棘爪以及驱动手轮，齿条沿按压柱的长度方向可滑动地设置于按压柱上，按压柱上开设有供齿条滑动的滑动槽，齿条的第一端设置于按压柱的内部，齿条的第二端设置于按压柱的外部，且与按压本体可拆卸连接；齿轮可转动地设置于按压柱内，且与齿条相啮合；驱动杆的第一端与齿轮固定连接，驱动杆的第二端设置于按压柱的外部；棘轮设置于按压柱的外部，棘轮套设在驱动杆的外周，且与驱动杆固定连接；棘爪可转动地设置于按压柱的外壁上，驱动杆通过棘轮和棘爪的配合保持静止；驱动手轮套设在驱动杆的第二端，且与驱动杆的第二端固定连接；
[0015]传感器电性能测试夹具还包括固定组件，固定组件包括固定杆、复位弹簧以及牵引绳，按压本体上开设有用于容纳齿条第二端的容纳槽，容纳槽的槽壁开设有安装槽，固定杆设置于安装槽内，固定杆的长度方向与齿条的长度方向相垂直，齿条第二端的外壁开设有供固定杆插入的固定槽，齿条与按压本体通过固定杆和固定槽的配合连接；复位弹簧设置于固定杆与安装槽的槽底之间，复位弹簧的第一端与固定杆固定连接，复位弹簧的第二端与安装槽的槽底固定连接；牵引绳的第一端与固定杆靠近复位弹簧的一端固定连接，按压本体上开设有供牵引绳向外穿出的穿设孔，牵引绳的第二端通过穿设孔到达按压本体的外部。
[0016]本申请提供的传感器电性能测试夹具的有益效果在于：与现有技术相比，在待测传感器测试的情况下，第一绝缘按压件与第一引脚一一对应设置，使每个第一引脚均能够接收到对应的第一绝缘按压件施加的按压力，从而使每个第一引脚均能够与测试供电部实现良好的接触，本申请的这种设计提高了各第一引脚与测试供电部的接触面积，降低了各第一引脚与测试供电部之间的接触电阻，减少了待测传感器与测试供电部在导通有测试电流的条件下产生的热量，尽可能避免了待测传感器在大电流的条件下测试而造成夹具或者产品烧毁等这类问题的发生。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具一个视角下的结构示意图；
[0019]图2为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具另一个视角下的结构示意图；
[0020]图3为本申请实施例提供的压紧组件的结构示意图；
[0021]图4为本申请实施例提供的传感器电性能测试夹具的正视局部剖视示意图图；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器电性能测试夹具，用于对待测传感器(1100)进行测试，所述待测传感器(1100)包括传感器本体(1110)和第一引脚(1120)，所述第一引脚(1120)设置于所述传感器本体(1110)上，且与所述传感器本体(1110)电连接，其特征在于，所述传感器电性能测试夹具包括：绝缘底座(100)；测试供电部(300)，所述测试供电部(300)设置于所述绝缘底座(100)上，用于为待测传感器(1100)提供测试电流；以及，按压部(400)，所述按压部(400)设置于所述绝缘底座(100)上，所述按压部(400)包括按压本体(410)和第一绝缘按压件(420)，所述第一绝缘按压件(420)设置于所述按压本体(410)上，所述按压本体(410)设置于所述测试供电部(300)远离所述绝缘底座(100)的一侧；所述待测传感器(1100)放置于所述测试供电部(300)上，并通过所述第一引脚(1120)抵接所述测试供电部(300)，并与所述测试供电部(300)电连接，所述第一绝缘按压件(420)按压在所述第一引脚(1120)上。2.根据权利要求1所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述测试供电部(300)设置于所述绝缘底座(100)上，所述传感器电性能测试夹具还包括罩设部(200)，所述罩设部(200)内部空心设置，且罩设在所述测试供电部(300)上，所述罩设部(200)的侧壁开设有多个第一散热孔(210)。3.根据权利要求1所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述绝缘底座(100)的上表面开设有散热槽，所述测试供电部(300)与所述散热槽对应设置，所述绝缘底座(100)内部空心设置，且侧壁和底壁均开设有多个第二散热孔(110)。4.根据权利要求2所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述按压部(400)还包括压紧组件(430)，所述压紧组件(430)可转动地设置于所述绝缘底座(100)上，所述压紧组件(430)的输出端具有初始位置以及朝向所述测试供电部(300)的方向按压所述按压本体(410)的按压位置。5.根据权利要求4所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述压紧组件(430)包括承载座(431)、传动结构以及按压件，所述承载座(431)设置于所述绝缘底座(100)上，所述传动结构可转动地设置于所述承载座(431)上，所述按压件与所述传动结构的输出端驱动连接，所述按压件为按压柱(433)，所述按压柱(433)形成所述压紧组件(430)的输出端。6.根据权利要求5所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述压紧组件(430)还包括调节螺杆(437)和调节螺帽(438)，所述调节螺杆(437)的第一端与所述按压柱(433)固定连接，所述调节螺帽(438)固定连接在所述传动结构的输出端上，所述调节螺杆(437)的第二端与所述调节螺帽(438)螺纹连接。7.根据权利要求2、4、5以及6中任一项所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述待测传感器(1100)还包括第二引脚，所述第二引脚设置于所述传感器本体(1110)上，且与所述传感器本体(1110)电连接；所述传感器电性能测试夹具还包括信号输出组件(500)，所述信号输出组件(500)包括：PCB(510)，所述PCB(510)设置于所述测试供电部(300)的一侧，用于与所述待测传感器
(1100)的所述第二引脚电连接；第一接线柱(520)，所述第一接线柱(520)与所述PCB(510)电连接，用于与外界电压源的正极电连接；第二接线柱(530)，所述第二接线柱(530)与所述PCB(510)电连接，用于与检测设备的输入端电连接；第三接线柱(540)，所述第三接线柱(540)与所述PCB(510)电连接，用于与滤波设备的输入端电连接；第四接线柱(550)，所述第四接线柱(550)与所述PCB(510)电连接，用于与所述外界电压源的负极、所述检测设备的输出端以及所述滤波设备的输出端电连接。8.根据权利要求1至6中任一项所述的传感器电性能测试夹具，其特征在于，所述测试供电部(300)包括依次...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴猛雄，王上衡，肖倩，王东，刘季超，佟宇，王智会，
申请(专利权)人：深圳振华富电子有限公司，
类型：发明
国别省市：