一种光电一体芯片自动耦合测试平台制造技术

本实用新型专利技术涉及光电测试技术领域，目的在于提供一种光电一体芯片自动耦合测试平台，解决耦合效率低、损耗大的问题。采用的技术方案为：一种光电一体芯片自动耦合测试平台，包括全自动位移调节台、光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块和上位机，光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块均搭载在全自动位移调节台上，光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块的输出均与上位机通信相连。全自动位移调节台能够对光纤耦合的自动控制，再配合光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块能够自动实现对光纤的自动耦合，耦合效率高。全自动位移调节台的调节精度高，光纤的耦合损耗较小。该耦合测试平台可应用于LD、PD、MOD等光电芯片的自动对接耦合及测试。耦合及测试。耦合及测试。

【技术实现步骤摘要】
一种光电一体芯片自动耦合测试平台


[0001]本技术涉及光电测试
，具体涉及一种光电一体芯片自动耦合测试平台。

技术介绍

[0002]前各国都在大力推广FTTH、FTTx的工程，国内随着FTTx(光纤接入网)建设的深入开展，市场对于PLC光分路器的需求明显增大，PLC光分路器可能是下一步无源器件市场需求的重点。作为系统的必要器件，PLC光分路器的使用数量将随着FTTX网络的部署节节上升。
[0003]现有的耦合系统在PLC芯片的耦合过程中大多数采用手动的方式，但是手动耦合的方式不仅效率比较低，而且损耗较大。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种光电一体芯片自动耦合测试平台，解决耦合效率低、损耗大的问题。
[0005]为实现上述技术目的，本技术所采用的技术方案是：一种光电一体芯片自动耦合测试平台，包括全自动位移调节台、光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块和上位机，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块均搭载在全自动位移调节台上，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块的输出均与上位机通信相连。
[0006]优选地，所述光耦合及测试模块包括光源、CCD、光功率计、光纤、光电芯片，所述CCD、光电芯片搭载于全自动位移调节台上，所述光电芯片通过光纤接收所述光源发出的光信号，所述光功率计通过光纤接收经光电芯片处理后的光信号，所述光功率计、CCD均与上位机通信相连。
[0007]优选地，所述全自动位移调节台包括底座，所述底座上设有呈倒U形的支架，所述支架的顶部设有滑轨，所述CCD滑动连接在滑轨上；
[0008]位于支架的一侧的底座上设有一对六维调节架，所述六维调节架上设有用于固定光纤的定位组件；两个所述六维调节架之间设有波导底座，所述光电芯片安装在波导底座上；
[0009]所述底座上还设有三维旋转台，所述三维旋转台的顶部连接有磁吸板，所述磁吸板上吸附有射频探针。
[0010]优选地，所述定位组件包括连接在六维调节架顶部的安装座，所述安装座上可拆卸连接有安装件，所述安装件包括针管，所述光纤穿设在针管内，所述针管上设有将光纤顶紧在针管内的锁紧件。
[0011]优选地，所述安装座包括第一连接板，所述第一连接板安装在六维调节架，所述第一连接板的一侧连接有第二连接板，所述第二连接板上设有安装孔，所述针管插设在安装孔内，所述第二连接板的侧壁上设有用于锁紧针管的锁紧螺钉。
[0012]优选地，所述支架上还设有涂胶机构，所述涂胶机构包括滑动连接在轨道上的安装板，所述安装板上设有涂胶机，所述CCD也安装在安装板上。
[0013]本技术的有益效果集中体现在：
[0014]1、本技术的耦合测试平台主要由全自动位移调节台、光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块和上位机构成，全自动位移调节台能够对光纤耦合的自动控制，再配合光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块能够自动实现对光纤的自动耦合，耦合效率高。
[0015]2、本技术的全自动位移调节台的调节精度高，光纤的耦合损耗较小。
[0016]3、本技术的耦合测试平台可应用于LD、PD、MOD等光电芯片的自动对接耦合及测试。
附图说明
[0017]图1是本技术测试平台整体结构示意图；
[0018]图2是本技术六维调节架结构图；
[0019]图3是本技术波导底座结构图；
[0020]图4是本技术定位组件结构示意图；
[0021]图5是本技术针管结构示意图；
[0022]图6是本技术针管内部结构示意图；
[0023]图例说明：0、光纤；1、底座；2、支架；3、滑轨；4、CCD；5、六维调节架；6、波导底座；7、三维旋转台；8、磁吸板；9、安装板；10、涂胶机；11、针管；12、第一连接板；13、第二连接板；14、安装孔；15、锁紧螺钉；16、盲孔；17、压板；18、限位块；19、弹簧；20、硅胶层；21、弧形槽；22、柱体；23、条形孔。
具体实施方式
[0024]为了使本领域的技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步的详细说明。
[0025]如图1所示，一种光电一体芯片自动耦合测试平台，包括全自动位移调节台、光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块和上位机，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块均搭载在全自动位移调节台上，全自动位移调节台能够自动对上述的两个测试模块进行高精度对芯调节，人工操作相对较少，光电芯片和光纤0的耦合效率高，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块的输出均与上位机通信相连，其中光耦合及测试模块主要用于对光纤0和光电芯片进行耦合，同时测试插入损耗；在本实施例中上位机为一台PC机或计算机。
[0026]进一步地，所述光耦合及测试模块包括光源、CCD4、光功率计、光纤0、光电芯片，所述CCD4、光电芯片搭载于全自动位移调节台上，在本实施例中CCD4总共设置两个，其中一个水平设置，另一个竖直设置，也就是说其中一个CCD4位于光电芯片的上方，另一个CCD4位于光电芯片的后方，CCD4用于监测光纤0和光电芯片之间的对准情况；光功率计用于对光纤0的损耗进行监测，在将监测结构发送到上位机进行查看，所述光电芯片通过光纤0接收所述光源发出的光信号，所述光功率计通过光纤0接收经光电芯片处理后的光信号，所述光功率计、CCD4均与上位机通信相连，CCD4检测到的对准位置信息发送至上位机进行查看。
[0027]进一步地，所述全自动位移调节台包括底座1，所述底座1上设有呈倒U形的支架2，所述支架2的顶部设有滑轨3，所述CCD4滑动连接在滑轨3上，两个CCD4同时安装在滑轨3上，两个CCD4的移动同步；
[0028]如图2所示，位于支架2的一侧的底座1上设有一对六维调节架5，在本实施例中六维调节架5优选采用HM6高精度移动台，该六维调节架5能够实现自动对耦合角度的多维调节，精度高；所述六维调节架5上设有用于固定光纤0的定位组件；两个所述六维调节架5之间设有波导底座61，如图3所示，所述光电芯片安装在波导底座61上，在本实施例中，光电芯片可以是LD、PD、MOD等；
[0029]所述底座1上还设有三维旋转台7，所述三维旋转台7的顶部连接有磁吸板8，所述磁吸板8上吸附有射频探针，在本实施例中三维旋转台7优选采用X33型转台，射频探针通过三维旋转台7自动调整位置，射频探针能够直接为光电芯片加直流信号驱动芯片发光，然后在利用六维调节架5调整光纤0的位置进行耦合，倘若芯片的类型是芯片类型是不发光的，先调节光纤0位置进行光耦合，然后调节射频探针的位置给芯片加射频信号，进行射频信号测试。
[0030]进一步地，如图4所示，所述定位组件包括连接在六维调节架5顶部的安装座，所述安装座上可拆卸连接有安装件，在本实施例中所述安装座包括第一连接板12和第二连接板13，其中第一连接板12上设置有一对条形孔23，第一连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电一体芯片自动耦合测试平台，其特征在于：包括全自动位移调节台、光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块和上位机，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块均搭载在全自动位移调节台上，所述光耦合及测试模块、射频耦合及测试模块的输出均与上位机通信相连。2.根据权利要求1所述的一种光电一体芯片自动耦合测试平台，其特征在于：所述光耦合及测试模块包括光源、CCD(4)、光功率计、光纤(0)、光电芯片，所述CCD(4)、光电芯片搭载于全自动位移调节台上，所述光电芯片通过光纤(0)接收所述光源发出的光信号，所述光功率计通过光纤(0)接收经光电芯片处理后的光信号，所述光功率计、CCD(4)均与上位机通信相连。3.根据权利要求2所述的一种光电一体芯片自动耦合测试平台，其特征在于：所述全自动位移调节台包括底座(1)，所述底座(1)上设有呈倒U形的支架(2)，所述支架(2)的顶部设有滑轨(3)，所述CCD(4)滑动连接在滑轨(3)上；位于支架(2)的一侧的底座(1)上设有一对六维调节架(5)，所述六维调节架(5)上设有用于固定光纤(0)的定位组件；两个所述六维调节架(5)之间设有波导底座(6)，所述光电芯片安装在波导底座(6)...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙振华，
申请(专利权)人：成都讯速信远科技有限公司，
类型：新型
国别省市：