用于光源测试的多点自动拉力测试机制造技术

本实用新型专利技术涉及发光芯片光源测试的技术领域，公开了用于光源测试的多点自动拉力测试机，包括底座，所述底座的顶端一侧设置有拉力机构，所述拉力机构的输出端延伸至底座顶端另一侧的基板平台，所述基板平台的顶端中部设置有置物槽，所述置物槽用于放置基板，所述拉力机构的输出端上设置有拉板，所述拉板延伸至置物槽中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动。本实用新型专利技术通过在拉板上设置一排测试板，且测试板采用塑胶制成，在对发光芯片进行拉力测试时，通过接触部与拉板实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业。利于生产连续作业。利于生产连续作业。

【技术实现步骤摘要】
用于光源测试的多点自动拉力测试机


[0001]本技术专利涉及发光芯片光源测试的
，具体而言，涉及用于光源测试的多点自动拉力测试机。

技术介绍

[0002]发光芯片固晶在基板上后，并对发光芯片与基板之间进行焊接金线，进行电性连接，布置好发光芯片后，需要测试发光芯片与基板之间连接的稳固性，一般会对发光芯片施加拉力，测试在设定范围的拉力作用下，发光芯片是否会与基板之间出现错位移动。
[0003]但是由于基板上设有多个发光芯片，每次只能单个单个测试发光芯片与基板之间是否出现错位移动，耗时较长，效率低，不利于生产连续作业。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供用于光源测试的多点自动拉力测试机，通过在拉板上设置一排测试板，通过接触部与拉板实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业，旨在解决现有技术中由于基板上设有多个发光芯片，每次只能单个单个测试发光芯片与基板之间是否出现错位移动，耗时较长，效率低，不利于生产连续作业的问题。
[0005]本技术是这样实现的，用于光源测试的多点自动拉力测试机，包括底座，所述底座的顶端一侧设置有拉力机构，所述拉力机构的输出端延伸至底座顶端另一侧的基板平台，所述基板平台的顶端中部设置有置物槽，所述置物槽用于放置基板，所述拉力机构的输出端上设置有拉板，所述拉板延伸至置物槽中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动。
[0006]进一步地，所述置物槽的两侧底壁上均设置有扣口，所述扣口实现与基板的两侧相扣接实现固定。
[0007]进一步地，所述拉板的下部侧壁上均匀设置有多个测试板，所述测试板的底部设置有接触部，所述接触部与基板上的发光芯片相抵触。
[0008]进一步地，所述测试板的下部一侧设置有铰链，所述铰链固定在拉板上，在所述拉力机构拉伸时，所述测试板在铰链作用下无阻力，在所述拉力机构收缩时，所述测试板与发光芯片相抵触进行错位测试。
[0009]进一步地，所述拉力机构包括设置伺服电机，所述伺服电机的输出端连接有联轴器，所述联轴器设置在轴架上。
[0010]进一步地，所述轴架的一侧设置有底板，所述底板间设置有支撑座，所述支撑座内设置有丝杠，所述丝杠上滑动设置有滑块。
[0011]进一步地，所述滑块的两侧均设置有连接片，所述连接片上设置有螺钉，所述螺钉穿过连接片与固定杆相固定。
[0012]进一步地，所述固定杆延伸至基板平台上且末端设置有杆座，所述杆座的中部设
置有固定螺栓。
[0013]进一步地，所述固定螺栓依次穿过杆座、拉板，所述杆座与拉板在固定螺栓作用下实现抵接固定。
[0014]进一步地，所述拉板的上部两侧均嵌套有固定套，所述固定套与固定螺栓相适配。
[0015]与现有技术相比，本技术提供的用于光源测试的多点自动拉力测试机，具备以下有益效果：
[0016]1、通过在拉板上设置一排测试板，且测试板采用塑胶制成，在对发光芯片进行拉力测试时，若未出现错位移动在弹性力作用下自动从接触部滑出至第二排的发光芯片上进行测试，通过接触部与拉板实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性，测试效率高，利于生产连续作业；
[0017]2、通过设置的拉力机构实现对拉板的收缩与拉伸，拉力机构通过伺服电机进行传动，利用联轴器实现带动丝杠转动，丝杠带动滑块移动，滑块在固定杆的作用下带动拉板实现移动，并且测试板在拉伸时由于铰链作用，不会产生抵触力，而进行收缩时抵触发光芯片进行测试，扣口实现对基板进行固定，保证基板在测试时不会移动，以提升测试结果的精准性。
附图说明
[0018]图1为本技术提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机的结构示意图；
[0019]图2为本技术提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中拉板的结构示意图；
[0020]图3为本技术提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中基板平台的结构示意图；
[0021]图4为本技术提出的用于光源测试的多点自动拉力测试机中测试板的结构示意图。
[0022]图中：1
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底座、2
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拉力机构、3
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伺服电机、4
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联轴器、5
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轴架、6
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底板、7
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支撑座、8
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丝杠、9
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滑块、10
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连接片、11
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固定杆、12
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杆座、13
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拉板、14
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测试板、15
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铰链、16
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接触部、17
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基板平台、18
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置物槽、19
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扣口。
具体实施方式
[0023]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0024]以下结合具体实施例对本技术的实现进行详细的描述。
[0025]本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0026]参照图1
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4所示，用于光源测试的多点自动拉力测试机，包括底座1，底座1的顶端一侧设置有拉力机构2，拉力机构2的输出端延伸至底座1顶端另一侧的基板平台17，基板平台17的顶端中部设置有置物槽18，置物槽18用于放置基板，拉力机构2的输出端上设置有拉板13，拉板13延伸至置物槽18中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动，拉板13的下部侧壁上均匀设置有多个测试板14，测试板14的底部设置有接触部16，接触部16与基板上的发光芯片相抵触，通过在拉板13上设置一排测试板14，且测试板14采用塑胶制成，在受到外力挤压时会发生形变，从而从发光芯片上滑出，在对发光芯片进行拉力测试时，若未出现错位移动在弹性力作用下自动从接触部16滑出至第二排的发光芯片上进行测试，通过接触部16与拉板13实现拉力抵接测试，且能够对多个发光芯片同时实际设定范围内的水平拉力，以测试发光芯片固晶后的稳固性。
[0027]在本实施例中，置物槽18的两侧底壁上均设置有扣口19，扣口19实现与基板的两侧相扣接实现固定，扣口本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于光源测试的多点自动拉力测试机，其特征在于，包括底座，所述底座的顶端一侧设置有拉力机构，所述拉力机构的输出端延伸至底座顶端另一侧的基板平台，所述基板平台的顶端中部设置有置物槽，所述置物槽用于放置基板，所述拉力机构的输出端上设置有拉板，所述拉板延伸至置物槽中与基板上的发光芯片相接触测试是否出现错位移动。2.如权利要求1所述的用于光源测试的多点自动拉力测试机，其特征在于，所述置物槽的两侧底壁上均设置有扣口，所述扣口实现与基板的两侧相扣接实现固定。3.如权利要求2所述的用于光源测试的多点自动拉力测试机，其特征在于，所述拉板的下部侧壁上均匀设置有多个测试板，所述测试板的底部设置有接触部，所述接触部与基板上的发光芯片相抵触。4.如权利要求3所述的用于光源测试的多点自动拉力测试机，其特征在于，所述测试板的下部一侧设置有铰链，所述铰链固定在拉板上，在所述拉力机构拉伸时，所述测试板在铰链作用下无阻力，在所述拉力机构收缩时，所述测试板与发光芯片相抵触进行错位测试。5.如权利要求1
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【专利技术属性】
技术研发人员：杨帆，刘建强，陶洪波，
申请(专利权)人：深圳市同一方光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：