本发明专利技术涉及折射率技术领域，尤其是一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，包括玻璃板、激光灯，还包括：工作板；半环框架，半环框架设在工作板上侧；若干连接杆，连接杆上侧均固定在半环框架的下侧，连接杆下侧均固定在工作板的上侧；H型弧形块，半环框架外侧设有弧形孔，H型弧形块可滑动在弧形孔内侧，H型弧形块一侧设有定位组件；安装罩，激光灯固定在安装罩内侧，安装罩与H型弧形块之间设有可调连接组件。本发明专利技术，通过设置工作板、半环框架、连接杆、H型弧形块、弧形孔、安装罩、支撑框、导向杆，使其具有方位可调、快速定位、角度调节、锁紧固定、防松装夹、高效换料、便于计算。便于计算。便于计算。
【技术实现步骤摘要】
一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置
[0001]本专利技术涉及折射率
，尤其涉及一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置。
技术介绍
[0002]折射率，光在真空中的传播速度与光在该介质中的传播速度之比。材料的折射率越高，使入射光发生折射的能力越强。折射率越高，镜片越薄，即镜片中心厚度相同，相同度数同种材料，折射率高的比折射率低的镜片边缘更薄。折射率与介质的电磁性质密切相关。
[0003]低折射率玻璃是指传输光线的非晶态(玻璃态)光介质材料。可用以做成棱镜、透镜、滤光片等各种光学元件，光线通过后可改变传播方向、位相及强度等。低折射率光学玻璃是光电技术产业的基础和重要组成部分。特别是在20世纪90年代以后，随着光学与电子信息科学、新材料科学的不断融合，作为光电子基础材料的光学玻璃在光传输、光储存和光电显示三大领域的应用更是突飞猛进，成为社会信息化尤其是光电信息技术发展的基础条件之一。低折射率玻璃在加工完成或在测量其折射率时，则需要使用折射率测量设备进行测量。
[0004]现有技术中的折射率测量设备在使用时，无法快速调节测量方向和测量角度，从而不便于使用，且会造成测量效率较低，为此，我们提出了一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，用于解决上述问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的是为了解决现有技术中的折射率测量设备在使用时，无法快速调节测量方向和测量角度，从而不便于使用，且会造成测量效率较低的缺点，而提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0007]设计一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，包括玻璃板、激光灯，还包括：
[0008]工作板；
[0009]半环框架，所述半环框架设在工作板上侧；
[0010]若干连接杆，所述连接杆上侧均固定在半环框架的下侧，所述连接杆下侧均固定在工作板的上侧；
[0011]H型弧形块，所述半环框架外侧设有弧形孔，所述H型弧形块可滑动在弧形孔内侧，所述H型弧形块一侧设有定位组件；
[0012]安装罩，所述激光灯固定在安装罩内侧，所述安装罩与H型弧形块之间设有可调连接组件；
[0013]支撑框，所述支撑框下侧固定设有若干导向杆，所述导向杆下端均固定在工作板的上侧，所述玻璃板设在支撑框上侧，所述支撑框上侧设有下压固定组件；
[0014]标尺，所述标尺设在工作板与支撑框之间，所述标尺相远离的两侧均设有调高组件。
[0015]优选的，所述工作板下侧固定设有若干支撑块。
[0016]优选的，所述定位组件包括定位框，所述定位框固定在H型弧形块一侧上，所述定位框内侧固定设有定位盒，所述定位盒内侧可滑动设有定位摩擦块，所述定位摩擦块一侧可与半环框架一侧相接触，所述定位摩擦块一侧与定位盒内一侧之间固定设有弹簧，所述定位摩擦块一侧固定设有把手，所述定位盒一侧设有通孔，所述把手可滑动在通孔内侧。
[0017]优选的，所述可调连接组件包括转动轴，所述转动轴外侧可转动设有两个连接座，所述连接座均固定在H型弧形块的下侧，所述转动轴外侧固定设有转动座，所述转动座固定在安装罩的上侧，所述H型弧形块下侧固定设有U型锁紧座，所述U型锁紧座内侧可滑动设有夹紧头，所述转动轴设在U型锁紧座与夹紧头之间，所述夹紧头下侧可转动设有锁紧螺栓，所述锁紧螺栓外侧通过螺纹连接设有固定板，所述固定板固定在U型锁紧座的下侧，所述转动轴一端固定设有拧动片。
[0018]优选的，所述下压固定组件包括下压框，所述下压框相远离的两侧均固定设有L型架，所述支撑框相远离的两侧均固定设有导向框，所述L型架分别均可滑动在导向框内侧，所述L型架上侧均固定设有第二把手，所述玻璃板设在下压框与支撑框之间。
[0019]优选的，所述下压框下侧、支撑框上侧均固定设有防护垫。
[0020]优选的，所述调高组件包括T型调节块，所述T型调节块固定在标尺一侧上，所述T型调节块上侧设有两个导向孔，两个所述导向杆分别均可滑动在导向孔内侧，所述T型调节块一侧设有螺纹孔，所述螺纹孔内侧通过螺纹连接设有顶紧螺栓，所述顶紧螺栓一端可与导向杆一侧相接触。
[0021]本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，有益效果在于：
[0022](1)、通过设置工作板、半环框架、连接杆、H型弧形块、弧形孔、定位框、定位盒、定位摩擦块、弹簧、把手，使其具有方位可调、快速定位功能，可调节激光灯的照射方向，且在调节完成后可快速固定在当前位置。
[0023](2)、通过设置H型弧形块、安装罩、转动轴、连接座、转动座、U型锁紧座、夹紧头、锁紧螺栓、固定板、拧动片，使其具有角度调节、锁紧固定功能，可调节激光灯与H型弧形块之间的角度，进而可满足多种测量要求。
[0024](3)、通过设置支撑框、导向杆、下压框、L型架、导向框、第二把手、防护垫，使其具有防松装夹、高效换料功能，可在测量过程中对玻璃板进行装夹固定，具有较高的稳定性，且可快速更换玻璃板。
[0025](4)、通过设置导向杆、标尺、T型调节块、顶紧螺栓，使其具有便于计算、高度可调节功能，便于计算玻璃板的折射率，且可调节标尺与玻璃板之间的距离，可满足多种使用需求。
附图说明
[0026]图1为本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置的正面立体结构示意图；
[0027]图2为本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置的正面剖切立体结构示意图；
[0028]图3为本专利技术中提出的图2中A区的局部放大结构示意图；
[0029]图4为本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置的侧面剖切立体结构示意图；
[0030]图5为本专利技术中提出的图4中B区的局部放大结构示意图；
[0031]图6为本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置的侧面局部剖切立体结构示意图；
[0032]图7为本专利技术提出的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置的背面局部剖切立体结构示意图。
[0033]图中：1玻璃板、2激光灯、3工作板、4半环框架、5连接杆、6H型弧形块、7弧形孔、8安装罩、9支撑框、10导向杆、11标尺、12支撑块、13定位框、14定位盒、15定位摩擦块、16弹簧、17把手、18转动轴、19连接座、20转动座、21U型锁紧座、22夹紧头、23锁紧螺栓、24固定板、25拧动片、26下压框、27L型架、28导向框、29第二把手、30防护垫、31T型调节块、32顶紧螺栓。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0035]参照图1
‑
7，一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，包括玻璃板1、激光灯本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，包括玻璃板(1)、激光灯(2)，其特征在于，还包括：工作板(3)；半环框架(4)，所述半环框架(4)设在工作板(3)上侧；若干连接杆(5)，所述连接杆(5)上侧均固定在半环框架(4)的下侧，所述连接杆(5)下侧均固定在工作板(3)的上侧；H型弧形块(6)，所述半环框架(4)外侧设有弧形孔(7)，所述H型弧形块(6)可滑动在弧形孔(7)内侧，所述H型弧形块(6)一侧设有定位组件；安装罩(8)，所述激光灯(2)固定在安装罩(8)内侧，所述安装罩(8)与H型弧形块(6)之间设有可调连接组件；支撑框(9)，所述支撑框(9)下侧固定设有若干导向杆(10)，所述导向杆(10)下端均固定在工作板(3)的上侧，所述玻璃板(1)设在支撑框(9)上侧，所述支撑框(9)上侧设有下压固定组件；标尺(11)，所述标尺(11)设在工作板(3)与支撑框(9)之间，所述标尺(11)相远离的两侧均设有调高组件。2.根据权利要求1所述的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，其特征在于，所述工作板(3)下侧固定设有若干支撑块(12)。3.根据权利要求1所述的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，其特征在于，所述定位组件包括定位框(13)，所述定位框(13)固定在H型弧形块(6)一侧上，所述定位框(13)内侧固定设有定位盒(14)，所述定位盒(14)内侧可滑动设有定位摩擦块(15)，所述定位摩擦块(15)一侧可与半环框架(4)一侧相接触，所述定位摩擦块(15)一侧与定位盒(14)内一侧之间固定设有弹簧(16)，所述定位摩擦块(15)一侧固定设有把手(17)，所述定位盒(14)一侧设有通孔，所述把手(17)可滑动在通孔内侧。4.根据权利要求1所述的一种基于光学原理测量低折射率玻璃折射率的装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙宝印，徐亚东，周坤，杨俊义，
申请(专利权)人：苏州大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。