基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:35156630 阅读:76 留言:0更新日期:2022-10-05 10:39
本公开实施例中提供了一种基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法及装置,所述方法包括:采集被测样件的三维点云信息,并将所述三维点云信息转化为三维空间坐标信息;将所述三维空间坐标信息转换为空间扫描坐标矩阵,并将所述空间扫描坐标矩阵转化为姿态矩阵;按照所述姿态矩阵轨迹对被测样件进行扫描,并采集多频段的回波信号;将所述多频段的回波信号进行融合,并生成所述被测样件的三维图像。通过本公开的处理方案,在提升系统带宽同时可以实现对大曲率物体的有效检测。大曲率物体的有效检测。大曲率物体的有效检测。

【技术实现步骤摘要】
基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及太赫兹雷达成像
,具体涉及一种基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法及装置。

技术介绍

[0002]由于太赫兹波独特的穿透性与非电离特性,太赫兹无损检测技术已成功用于艺术品保护、工业产品质量控制和封装集成电路(IC)无损检测等领域。太赫兹调频连续波成像技术具有高功率、小型化、低成本和三维成像等特点,在太赫兹无损检测领域受到了广泛的关注。
[0003]现有的太赫兹调频连续波系统仅针对平面物体进行无损检测,而随着物体曲率的增大,就无法获取物体有效的回波信息,从而极大限制了太赫兹调频连续波系统的应用场景。
[0004]为有效获取不规则物体的信息,现有技术通过采用单点频的太赫兹层析成像方式,其原理借鉴于X射线层析透射式的成像方式,利用材料对太赫兹波的吸收强度差异,经算法重建得到物体三维强度分布。但此种成像方式需要采集大量的投影数据,且要求样品在所检测频段具有极高的穿透性,从而限制了实际应用场所。
[0005]另一现有技术采用太赫兹调频连续波阵列成像方式,通过多个收本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:采集被测样件的三维点云信息,并将所述三维点云信息转化为三维空间坐标信息;将所述三维空间坐标信息转换为空间扫描坐标矩阵,并将所述空间扫描坐标矩阵转化为姿态矩阵;按照所述姿态矩阵对被测样件进行扫描,并采集多频段的回波信号;将所述多频段的回波信号进行融合,并生成所述被测样件的三维图像。2.根据权利要求1所述的基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法,其特征在于,所述方法还包括:对太赫兹雷达工具坐标系和所述被测样件的工具坐标系进行标定。3.根据权利要求1所述的基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法,其特征在于,所述方法还包括:通过给定的姿态矩阵轨迹确定所述基于太赫兹雷达的曲面物体无损检测方法的扫描范围。4.根据权利要求1所述的基于太赫兹雷达的曲面物体检测方法,其特征在于,所述按照所述姿态矩阵对被测样件进行扫描包括以下步骤:辐射出多频段的垂直极化太赫兹波束和水平极化太赫兹波束;将所述多频段的垂直极化的太赫兹波束和水平极化的太赫兹波束准直为平面波;所述平面波经过聚焦透镜后被聚焦至所述被测样件上,并生成回波;将所述回波按极化方向分束得到所述被测样件的多频段的回波信号。5.一种基于太赫兹雷达的曲面物体检测装置,其特征在于,所述装置包括:第一数据采集模块,用于采集被测样件的三维点云信息,并将所述三维点云信息转化为三维空间坐标信息;数据处理模块,用于将所述三维空间坐标信息转换为空间扫描坐标矩阵,并将所述空间扫描坐标矩阵转化为姿态矩阵;控制模块,按照所述姿态矩阵对被测样件进行...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡伟东许志浩蒋环宇姚智宇张凯琪刘阳赵鹏
申请(专利权)人:北京理工大学
类型:发明
国别省市:

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