本实用新型专利技术涉及机床测量检验技术领域，提出了一种倒立式数控机床的测量检验装置，包括底板，所述底板的底部滑动连接有滑动底座，所述滑动底座的一端伸至底板的一侧固定连接有滑动架，所述滑动架靠近底板的一侧面滑动连接有滑动块，所述滑动块的侧面且位于底板的上方固定连接有接触式测量仪；所述接触式测量仪包括外筒体、活动体，所述活动体的一端位于外筒体内部滑动，另一端伸出外筒体，测量时，活动体伸出外筒体的端部与被测量件的表面接触。通过上述技术方案，以解决现有的测量检验通常采用光学检测仪器进行检测，检测设备的成本比较高，操作比较复杂问题。操作比较复杂问题。操作比较复杂问题。
【技术实现步骤摘要】
一种倒立式数控机床的测量检验装置
[0001]本技术涉及机床测量检验
，具体的，涉及一种倒立式数控机床的测量检验装置。
技术介绍
[0002]数控机床，是一种装有程序控制系统的自动化机床。该控制系统能够逻辑地处理具有控制编码或其他符号指令规定的程序，并将其译码，用代码化的数字表示，通过信息载体输入数控装置，相比于普通机床，自动化程度高、加工精度高、操作简便、更适合加工复杂曲面，加工机床在使用一段时间后，内部的刀轴(主轴)、滑轨等结构会产生一定的变形或者磨损，影响机床的精度，机床使用一段时间后进行，需要对其进行测量检验。
[0003]现有的测量检验通常采用光学检测仪器进行检测，检测设备的成本比较高，操作比较复杂。
技术实现思路
[0004]本技术提出一种倒立式数控机床的测量检验装置，解决了现有的测量检验通常采用光学检测仪器进行检测，检测设备的成本比较高，操作比较复杂的问题。
[0005]本技术的技术方案如下：一种倒立式数控机床的测量检验装置，包括底板，所述底板的底部滑动连接有滑动底座，所述滑动底座的一端伸至底板的一侧固定连接有滑动架，所述滑动架靠近底板的一侧面滑动连接有滑动块，所述滑动块的侧面且位于底板的上方固定连接有接触式测量仪；
[0006]所述接触式测量仪包括外筒体、活动体，所述活动体的一端位于外筒体内部滑动，另一端伸出外筒体，测量时，活动体伸出外筒体的端部与被测量件的表面接触；
[0007]还包括：固定结构，所述固定结构设置在滑动底座的上表面。
[0008]优选的，所述底板的底部开设有长矩形槽、短矩形槽，所述长矩形槽与短矩形槽的底部均设置有滑槽，所述底板的底部且位于长矩形槽与短矩形槽之间形成间隔板，所述间隔板的侧面开设有连接口，所述连接口连接长矩形槽的滑槽与短矩形槽的滑槽。
[0009]优选的，所述滑动底座的上表面设置有导柱，所述滑动底座位于长矩形槽的内部，所述导柱位于长矩形槽的滑槽内，所述导柱的一端贯穿连接口伸至短矩形槽的滑槽内部，且固定连接有限位板，所述限位板靠近间隔板的一侧面设置有防撞弹性块。
[0010]优选的，所述底板的顶部且位于接触式测量仪的正下方活动连接有旋转台，所述旋转台可以围绕其轴心转动。
[0011]优选的，所述底板的侧面固定连接有侧架，所述侧架的底部固定连接有防滑垫片。
[0012]优选的，所述滑动架的侧面开设有滑孔，所述滑动架靠近底板的一侧面固定连接有滑轨，所述滑轨的数量设置有两个，平行分布在滑孔的两侧。
[0013]优选的，所述滑轨与滑孔均竖直设置。
[0014]优选的，所述滑动块的侧面开设有滑口，所述滑口与滑轨相对应，所述滑动块的侧
面且位于滑孔的内部固定连接有把手杆，所述把手杆的侧面固定连接有限位盘。
[0015]优选的，所述固定结构包括滑动底座上表面开设有的螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有平头螺钉，所述平头螺钉的端部向下设置。
[0016]优选的，所述外筒体的一端与滑动块固定连接，所述外筒体的侧面开设有侧孔，所述外筒体的侧面设置有刻度，所述侧孔的长度方向、刻度的分布方向均与外筒体的轴向平行，所述活动体位于外筒体内侧的一端固定连接有推环，所述推环与滑动块的侧面之间设置有弹簧；
[0017]还包括：记数环，所述记数环的轴心与外筒体的轴心共线，所述记数环的数量设置有两个，分别位于推环的两侧；
[0018]所述记数环具有外环、内环、连接体，所述外环设置在外筒体的外侧，所述内环设置在外筒体的内部，所述连接体设置在侧孔的内部，且两端分别与外环与内环的侧面固定连接。
[0019]本技术的工作原理及有益效果为：
[0020]1、本技术中的滑动底座可以相对于底板进行滑动，以便于进行调整接触式测量仪的位置，使活动体伸出外筒体的端部与被测量件的表面接触(可以理解为顶在被测量件的表面)，使用者手动进行上下移动滑动块，带动接触式测量仪移动一个测量区间(可以从上向下滑动或者从下向上滑动)，通过观察活动体的移动量，能够直接得出被测量件的弯曲程度，变形程度，相对于光学检测设备，本装置的成本低，测量结构能够满足基本要求，占地面积比较小，方便进行移动，使用比较方便。
附图说明
[0021]下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。
[0022]图1为本技术立体结构示意图；
[0023]图2为本技术正面结构示意图；
[0024]图3为图2中A处放大图；
[0025]图4为本技术侧面结构示意图；
[0026]图5为本技术俯视结构示意图；
[0027]图6为本技术仰视结构示意图；
[0028]图中：1、底板；11、长矩形槽；12、短矩形槽；13、间隔板；14、滑槽；2、旋转台；3、侧架；4、滑动架；41、滑轨；42、滑孔；5、滑动块；51、把手杆；52、限位盘；6、接触式测量仪；61、外筒体；611、侧孔；612、刻度；62、活动体；63、记数环；631、外环；632、内环；633、连接体；7、滑动底座；71、导柱；72、限位板；73、防撞弹性块；8、固定结构。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都涉及本技术保护的范围。
[0030]实施例1
[0031]如图1～图6所示，本实施例提出了一种倒立式数控机床的测量检验装置，包括底板1，底板1的底部滑动连接有滑动底座7，滑动底座7可以进行手动的调节滑动位置，滑动底座7的一端伸至底板1的一侧固定连接有滑动架4，滑动架4竖直设置，与滑动底座7相垂直，滑动架4靠近底板1的一侧面滑动连接有滑动块5，滑动块5的侧面且位于底板1的上方固定连接有接触式测量仪6，可以手动进行控制滑动块5上下滑动，进而控制接触式测量仪6上下滑动；
[0032]接触式测量仪6包括外筒体61、活动体62，活动体62的一端位于外筒体61内部滑动，另一端伸出外筒体61，且伸出的端部设置为圆头形状，便于顶在被测量件的表面，测量时，活动体62伸出外筒体61的端部与被测量件的表面接触，测量过程就是控制接触式测量仪6上下滑动，上下滑动的过程中外筒体61水平方向上不移动，而活动体62的一端顶在被测量件的表面，当被测量件局部磨损或者发生弯曲变形的时候，活动体62就会发生水平方向的移动，与外筒体61之间产生相对移动，通过观察相对移动量，能够进行得到检测结果；
[0033]还包括：固定结构8，固定结构8设置在滑动底座7的上表面，由于被测量件的位置和大小不同，在测量前，进行调节滑动底座7的位置，进而调节滑动架4的位置，调节完成后利用固定结构8进行固定滑动底座7的位置；
[0034]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种倒立式数控机床的测量检验装置，其特征在于，包括底板(1)，所述底板(1)的底部滑动连接有滑动底座(7)，所述滑动底座(7)的一端伸至底板(1)的一侧固定连接有滑动架(4)，所述滑动架(4)靠近底板(1)的一侧面滑动连接有滑动块(5)，所述滑动块(5)的侧面且位于底板(1)的上方固定连接有接触式测量仪(6)；所述接触式测量仪(6)包括外筒体(61)、活动体(62)，所述活动体(62)的一端位于外筒体(61)内部滑动，另一端伸出外筒体(61)，测量时，活动体(62)伸出外筒体(61)的端部与被测量件的表面接触；还包括：固定结构(8)，所述固定结构(8)设置在滑动底座(7)的上表面。2.根据权利要求1所述的一种倒立式数控机床的测量检验装置，其特征在于，所述底板(1)的底部开设有长矩形槽(11)、短矩形槽(12)，所述长矩形槽(11)与短矩形槽(12)的底部均设置有滑槽(14)，所述底板(1)的底部且位于长矩形槽(11)与短矩形槽(12)之间形成间隔板(13)，所述间隔板(13)的侧面开设有连接口，所述连接口连接长矩形槽(11)的滑槽与短矩形槽(12)的滑槽。3.根据权利要求2所述的一种倒立式数控机床的测量检验装置，其特征在于，所述滑动底座(7)的上表面设置有导柱(71)，所述滑动底座(7)位于长矩形槽(11)的内部，所述导柱(71)位于长矩形槽(11)的滑槽内，所述导柱(71)的一端贯穿连接口伸至短矩形槽(12)的滑槽内部，且固定连接有限位板(72)，所述限位板(72)靠近间隔板(13)的一侧面设置有防撞弹性块(73)。4.根据权利要求1所述的一种倒立式数控机床的测量检验装置，其特征在于，所述底板(1)的顶部且位于接触式测量仪(6)的正下方活动连接有旋转台(2)，所述旋转台(2)可以围绕其轴心转动。5.根据权利要求1所述的一种倒立式数控机床的测量检验装置，其特征在于，所述底板(1)的侧面固定连接有侧架(3)，所述侧架(3)的底...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐金立，
申请(专利权)人：邢台润立数控机械制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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