一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置。所述方法包括：对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签；获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式；根据确定的解析方式，利用所述测试参数的测试值确定各所述测试参数的实际测试结果；根据各所述测试参数的实际测试结果确定所述测试实例的实际测试结果；根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试。本发明专利技术可以通过解析的方式，有效避免了由于测试插桩导致的系统宕机，从而有效的提高了测试效率。从而有效的提高了测试效率。从而有效的提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及铁路系统测试
，特别是涉及一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置。

技术介绍

[0002]铁路信号控制设备依托嵌入式系统为载体，依据设定的系统需求，在嵌入式系统上开发应用软件，实现系统的控制功能，现已利用嵌入式系统开发出新型列控无线闭塞系统。
[0003]在新型列控无线闭塞系统上线使用前，需要对新型无线闭塞系统进行测试，并通过测试判断新型列控无线闭塞系统逻辑处理的正确性。现有对新型列控无线闭塞系统进行测试的方式常常为，通过在新型列控无线闭塞系统的代码内插桩打印的方式，以判断新型列控无线闭塞系统逻辑处理的正确性。
[0004]但由于嵌入式系统自身属性的原因，在使用代码内插桩打印的方式，判断新型列控无线闭塞系统的逻辑处理的正确性时，当打印的参数过多，会导致系统资源过分消耗导致嵌入式系统宕机，当打印的参数较少时，会出现相关参数测试不足导致正确性验证结果不完整。综上所述，现有技术在对新型列控无线闭塞系统的逻辑处理的正确性进行判断时不够灵活，亟需一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提供一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置，通过解析的方式，有效避免了由于测试插桩导致的系统宕机，从而有效的提高了测试效率。
[0006]为达到上述目的，本专利技术主要提供如下技术方案：第一方面，本专利技术提供了一种列控无线闭塞系统的测试方法，所述方法包括：对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签；获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式；根据确定的解析方式，利用所述测试参数的测试值确定各所述测试参数的实际测试结果；根据各所述测试参数的实际测试结果确定所述测试实例的实际测试结果；根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试。
[0007]第二方面，本专利技术提供了一种列控无线闭塞系统的测试装置，所述装置包括：解析模块，用于对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签；确定模块，用于获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式；处理模块，用于根据确定的解析方式，利用所述测试参数的测试值确定各所述测
试参数的实际测试结果；生成模块，用于根据各所述测试参数的实际测试结果确定所述测试实例的实际测试结果；测试模块，用于根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试。
[0008]借由上述技术方案，本专利技术提供了一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置，具体记载了首先对接收的测试实例进行解析，以确定测试实例中各测试参数的参数标签，进而可以利用各测试参数的参数标签，确定各测试参数所对应测试值的解析方式，并得到各测试参数的实际测试结果，进而可以利用各测试参数的实际测试结果确定测试实例的实际测试结果，并根据该测试实例所对应的预设测试结果，利用测试实例的实际测试结果确定列控无线闭塞系统是否通过测试。本专利技术通过对利用测试实例中测试参数的参数标签，准确的选择不同测试参数的测试值的解析方式，进而通过对测试值进行解析，有效的防止了由于测试插桩导致的系统宕机的情况，从而有效提高了测试效率，同时有效的避免了通过打印的测试方式，导致嵌入式系统由于测试插桩导致的系统宕机的情况。
[0009]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1为本专利技术公开的一种列控无线闭塞系统的测试方法流程示意图；图2为本专利技术公开的一种测试结果展示方法流程示意图；图3为本专利技术公开的一种列控无线闭塞系统的测试装置示意图；图4为本专利技术公开的又一种列控无线闭塞系统的测试装置示意图。
具体实施方式
[0012]下面将参照附图更详细地描述本专利技术的示例性实施例。虽然附图中显示了本专利技术的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本专利技术，并且能够将本专利技术的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0013]专利技术人通过利用测试实例中测试参数的参数标签，确定测试参数对应测试值的解析方式，以得到测试参数的实际测试结果及测试实例的实际测试结果，从而根据测试实例的实际测试结果确定列控无线闭塞系统是否通过测试。
[0014]综上所述，本专利技术实施例提供了一种列控无线闭塞系统的测试方法，具体步骤如图1所示，所述方法包括：步骤101，对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签。
[0015]本实施例中，在接收测试实施例并对测试实例进行解析之前，首先获取列控无线闭塞系统的源代码，对源代码进行插桩后，将插桩后的源代码进行编译并烧录至嵌入式系统，从而对列控无线闭塞系统进行测试，在完成上述步骤后，接收测试实例，其中，测试实例由多个测试参数组成，用于对列控无线闭塞系统的逻辑处理的正确性进行测试，在接收到测试实例后，对测试实例进行解析，从而确定测试实例中各个参数及每个测试参数的参数标签。具体的，在确定每个测试参数的参数标签时，获取测试实例的解析结果中各个测试参数的参数名称，根据参数名称与参数标签的映射关系，从而准确的确定各个测试参数的参数标签，其中，参数名称与参数标签的映射关系为预先配置的。例如，测试实例包括6个测试参数，在对测试实例进行解析后，测试参数分别为b_Flag_M2、l_inStaTrack、l_trainMode、l_bOnlyTrain、l_routeOpen、l_sigOpen，并根据各个参数名称与参数标签的映射关系，确定b_Flag_M2对应的参数标签、l_inStaTrack对应的参数标签、l_trainMode对应的参数标签、l_bOnlyTrain对应的参数标签、l_routeOpen对应的参数标签、l_sigOpen的参数标签，从而测试实例中各个测试参数的参数标签。
[0016]步骤102，获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式。
[0017]本实施例中，在执行步骤101之后，首先在系统里运行测试参数，并得到各个测试参数的测试值，在得到各个测试参数的测试值后，根据步骤101中确定的参数标签，确定每个测试参数所对应测试值的解析方式。具体的，在根据参数标签确定每个测试参数所对应测试值的解析方式时，获取各个参数标签的所属类别，确定每个参数标签的解析方式。例如，在分别确定b_Flag_M2对应的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种列控无线闭塞系统的测试方法，其特征在于，所述方法包括：对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签；获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式；根据确定的解析方式，利用所述测试参数的测试值确定各所述测试参数的实际测试结果；根据各所述测试参数的实际测试结果确定所述测试实例的实际测试结果；根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签，包括：获取各所述测试参数的参数名称；基于所述参数名称与所述参数标签的映射关系，确定各所述测试参数的所述参数标签。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式，包括：获取各所述测试参数所对应参数标签的所属类别；根据所述参数标签的类别确定所述测试参数所对应所述测试值的解析方式。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据确定的解析方式，确定各所述测试参数的实际测试结果，包括：获取所述测试参数的测试值的字符串长度；根据所述测试值的字符串长度，利用所述测试值所对应的解析方式，确定各所述测试参数的实际测试结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试时，所述方法还包括：获取各所述测试参数的实际测试结果；将各所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐龙涛，沈晨，夏明，李乐川，周奕轩，曹欣，
申请(专利权)人：卡斯柯信号北京有限公司，
类型：发明
国别省市：