电子元器件检测方法、装置及自动质检设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及器件检测技术领域，提供一种电子元器件检测方法、装置及自动质检设备，首先获取待检测对象的原始图像，并从原始图像中提取待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；然后基于预先确定的目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；最后确定遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于各像素点的像素值，确定待检测对象中目标电子元器件的安装信息。该方法在对电子元器件进行检测时不需要人工参与，不仅避免了人为因素对检测结果的影响，提高了检测结果的准确性，还可以提高检测效率。而且，还可以避免对检测人员进行培训带来的检测成本。的检测成本。的检测成本。

【技术实现步骤摘要】
电子元器件检测方法、装置及自动质检设备


[0001]本专利技术涉及器件检测
，尤其涉及一种电子元器件检测方法、装置及自动质检设备。

技术介绍

[0002]主板，也叫母板，安装在计算机等服务器内，是服务器实现功能的核心。主板上包括大量电子元器件，例如卡板器件、跳帽元器件等。在主板研发、测试和生产等阶段，往往需要对主板进行质量检测，质量检测的核心即进行电子元器件的检测，以判断主板上是否存在电子元器件以及电子元器件的安装位置。
[0003]现有技术中，在对电子元器件进行检测时，通常采用人工检测方式实现，即需要事先对检测人员进行培训，培训后需要检测人员对主板图像进行观察，以通过主板图像确定电子元器件的有无及其安装位置，极其考验检测人员的视力和专注度，失误率高、检测效率低、覆盖面小且由于质检标准不一导致不同质检人员对同一主板图像进行检测会得出不同的检测结果。
[0004]基于此，现急需提供一种电子元器件检测方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种电子元器件检测方法、装置及自动质检设备，用以解决现有技术中存在的缺陷。
[0006]本专利技术提供一种电子元器件检测方法，包括：
[0007]获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；
[0008]基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；所述掩膜用于覆盖掉所述目标图像中的非目标电子元器件安装区域，保留所述目标图像中的目标电子元器件安装区域；
[0009]确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。
[0010]根据本专利技术提供的一种电子元器件检测方法，所述从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像，具体包括：
[0011]确定所述待检测对象对应的基准对象的标准图像；
[0012]将所述标准图像与所述原始图像进行特征匹配，得到匹配结果；
[0013]基于所述匹配结果，确定所述目标图像。
[0014]根据本专利技术提供的一种电子元器件检测方法，所述掩膜包括基于所述目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜；
[0015]相应地，所述基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像，具体包括：
[0016]确定所述目标图像在所述目标颜色空间下的指定图像；
[0017]基于所述目标掩膜，对所述指定图像进行遮罩，得到所述遮罩图像。
[0018]根据本专利技术提供的一种电子元器件检测方法，所述目标掩膜的确定方法包括：
[0019]基于所述目标颜色信息的取值范围，确定所述目标电子元器件的掩膜保留范围；
[0020]基于所述掩膜保留范围，确定所述目标掩膜。
[0021]根据本专利技术提供的一种电子元器件检测方法，所述目标颜色空间，具体包括：RGB颜色空间、灰度空间以及HSV颜色空间中的一种。
[0022]根据本专利技术提供的一种电子元器件检测方法，所述待检测对象包括主板，所述目标电子元器件包括跳帽元器件。
[0023]本专利技术还提供一种电子元器件检测装置，包括：
[0024]图像获取模块，用于获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；
[0025]遮罩模块，用于基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；所述掩膜用于覆盖掉所述目标图像中的非目标电子元器件安装区域，保留所述目标图像中的目标电子元器件安装区域；
[0026]检测模块，用于确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。
[0027]本专利技术还提供一种自动质检设备，包括图像采集装置以及上述的电子元器件检测装置，所述图像采集装置与所述电子元器件检测装置连接；
[0028]所述图像采集装置用于采集待检测对象的原始图像，并将所述原始图像发送至所述电子元器件检测装置；
[0029]所述电子元器件检测装置用于获取所述原始图像，并基于所述原始图像，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。
[0030]本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述的电子元器件检测方法。
[0031]本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的电子元器件检测方法。
[0032]本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的电子元器件检测方法。
[0033]本专利技术提供的电子元器件检测方法、装置及自动质检设备，首先获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；然后基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；最后确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。该方法在对电子元器件进行检测时不需要人工参与，不仅避免了人为因素对检测结果的影响，提高了检测结果的准确性，还可以提高检测效率。而且，还可以避免对检测人员进行培训带来的检测成本以及不同质检人员得出不同检测结果后的复检成本。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0035]图1是本专利技术提供的电子元器件检测方法的流程示意图；
[0036]图2是本专利技术提供的电子元器件检测方法中目标图像的示意图；
[0037]图3是本专利技术提供的电子元器件检测方法中遮罩图像的示意图；
[0038]图4是本专利技术提供的电子元器件检测装置的结构示意图；
[0039]图5是本专利技术提供的自动质检设备的结构示意图；
[0040]图6是本专利技术提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0042]由于现有技术中，在对电子本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件检测方法，其特征在于，包括：获取待检测对象的原始图像，并从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像；基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像；所述掩膜用于覆盖掉所述目标图像中的非目标电子元器件安装区域，保留所述目标图像中的目标电子元器件安装区域；确定所述遮罩图像中的各像素点的像素值，并基于所述各像素点的像素值，确定所述待检测对象中所述目标电子元器件的安装信息。2.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述从所述原始图像中提取所述待检测对象内用于安装目标电子元器件的整体区域的目标图像，具体包括：确定所述待检测对象对应的基准对象的标准图像；将所述标准图像与所述原始图像进行特征匹配，得到匹配结果；基于所述匹配结果，确定所述目标图像。3.根据权利要求1所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述掩膜包括基于所述目标电子元器件在目标颜色空间内的目标颜色信息确定的目标掩膜；相应地，所述基于预先确定的所述目标电子元器件的颜色信息对应的掩膜，对所述目标图像进行遮罩，得到遮罩图像，具体包括：确定所述目标图像在所述目标颜色空间下的指定图像；基于所述目标掩膜，对所述指定图像进行遮罩，得到所述遮罩图像。4.根据权利要求3所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述目标掩膜的确定方法包括：基于所述目标颜色信息的取值范围，确定所述目标电子元器件的掩膜保留范围；基于所述掩膜保留范围，确定所述目标掩膜。5.根据权利要求4所述的电子元器件检测方法，其特征在于，所述目标颜色空间，具体包括：RGB颜色空间、灰度空间以及HSV颜色空间中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王悦，
申请(专利权)人：浪潮通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：