用于测量数据视长的电路以及测量数据视长的方法技术

技术编号:3502571 阅读:162 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种测量视长的电路,该电路通过对具有恢复时钟信号的接收数据进行取样来产生第一取样数据,并通过对具有移位时钟信号的接收数据进行取样来产生第二取样数据,其中从接收数据中恢复具有不同相位的恢复时钟信号。通过将至少一个恢复时钟信号的每一个相位进行相应预定相位的移位来获得移位时钟信号。该电路产生错误计数,用于通过比较第一取样数据和第二取样数据来计算接收数据的视长,并通过获得其中错误计数等于零的相位范围来测量视长。因此,该电路可以在没有接收数据的频率偏移和/或抖动的干扰的情况下来测量视长。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用来测量视长的电路,包括:    取样器,被配置来通过基于至少一个移位时钟信号对接收数据进行取样来产生第一取样数据,其中通过对至少一个恢复时钟信号的每一个相位进行相应预定相位的移位来获得所述至少一个移位时钟信号,所述恢复时钟信号具有彼此不同的相位并从接收数据中被恢复;以及    错误计数器,被配置来通过比较第一取样数据与第二取样数据来产生用于计算接收数据的视长的错误计数,其中通过基于至少一个恢复时钟信号对接收数据进行取样来获得第二取样数据。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:冈村均
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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