一种辅助测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子产品测试技术领域，公开了一种辅助测量装置，包括固定座和多个测试件，固定座用于承载待测产品，多个测试件沿水平方向间隔排布，水平方向垂直于固定座的高度方向，每个测试件包括调节架和探针组件，调节架通过磁吸方式与固定座可拆卸连接，探针组件可调节地设置于调节架上，用于与待测产品相抵触。本实用新型专利技术的辅助测量装置通过固定座和多个测试件配合，以在水平方向和固定座的高度方向上灵活调整测试件的位置，能够实现多方位、多角度、多测量点同时测量，满足不同的测试需求，且省时省力。且省时省力。且省时省力。

【技术实现步骤摘要】
一种辅助测量装置


[0001]本技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种辅助测量装置。

技术介绍

[0002]在电子产品生产过程中，对于工作正常的电子产品，为确认产品是否达到质量要求，需要对电子产品的电信号进行量测，观测波形是否正常；对于工作异常的电子产品，也需要对产品的电信号进行量测，以找出故障原因。现有技术中，有些是通过将金属连接线焊接到电子产品主板上的信号点位所对应的电子元件上，以获取电子产品的电信号，但该种方式费时费力且容易损伤电子产品。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种辅助测量装置，能满足不同的测试需求，且便于调节、省时省力。
[0004]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0005]一种辅助测量装置，包括：
[0006]固定座，用于承载待测产品；
[0007]多个测试件，多个所述测试件沿水平方向间隔排布，所述水平方向垂直于所述固定座的高度方向，每个所述测试件包括调节架和探针组件，所述调节架通过磁吸方式与所述固定座可拆卸连接，所述探针组件可调节地设置于所述调节架上，用于与所述待测产品相抵触。
[0008]作为优选，还包括多个磁吸块，多个所述磁吸块分别磁吸固定于所述固定座上，多个所述磁吸块与所述固定座配合以在所述水平方向上限位所述待测产品，所述磁吸块具有相互垂直且连接的两个侧面，每个所述侧面上设有磁体，所述磁吸块的两个所述侧面能够分别磁吸于所述固定座和所述待测产品上。
[0009]作为优选，所述固定座上呈夹角设置有第一限位条和第二限位条，所述第一限位条和所述第二限位条相连接以在所述固定座上形成一个用于放置所述待测产品和所述磁吸块的直角区域，所述磁吸块的一个所述侧面能够磁吸于所述第一限位条或所述第二限位条。
[0010]作为优选，所述调节架包括底支架和上支架，所述底支架与所述固定座通过磁吸方式可拆卸连接，所述上支架转动设置于所述底支架上，所述探针组件可调节地设置于所述上支架上。
[0011]作为优选，所述调节架还包括转动设置于所述底支架上的第一转轴和套设于所述第一转轴上的第一套环，所述上支架连接于所述第一套环。
[0012]作为优选，所述底支架包括底座、立柱以及设置于所述立柱上的第一支座，所述底座与所述固定座通过磁吸方式可拆卸连接，所述立柱设置于所述底座上，所述第一转轴转动设置于所述第一支座上。
[0013]作为优选，所述调节架还包括转动设置于所述上支架上的第二转轴和套设于所述第二转轴上的第二套环，所述探针组件连接于所述第二套环。
[0014]作为优选，所述上支架包括支柱和设置于所述支柱上的第二支座，所述支柱转动连接于所述底支架，所述第二转轴转动设置于所述第二支座上。
[0015]作为优选，所述探针组件包括壳体、探针和金属芯，所述壳体转动设置于所述调节架上，所述探针可拆卸安装于所述壳体上，用于与所述待测产品相抵触，所述金属芯设置于所述壳体内并与所述探针相抵触。
[0016]作为优选，所述壳体为管状结构，所述金属芯穿设于所述壳体中，所述壳体的一端设置有与所述金属芯连接的金属环，所述壳体的另一端可拆卸套设有固定帽，所述探针可拆卸安装于所述固定帽上。
[0017]本技术的有益效果：
[0018]本技术的辅助测量装置，通过固定座承载待测产品，通过磁吸固定于固定座上的多个磁吸块与固定座配合以沿水平方向限位待测产品，确保待测产品在测试过程中被固定在固定座上；通过多个测试件以对待测产品上的多个测量点同时测量，同时利用调节架将探针组件磁吸于固定座上，即将调节架与固定座通过可拆卸的方式连接以适应不同测试需求下的探针灵活布置，再配合探针组件可调节地设置在调节架上，以在水平方向和固定座的高度方向上灵活地调整测试件的位置，满足不同的测试需求。本技术的辅助测量装置具有高自由度，在固定座、多个磁吸块和多个测试件的配合下，能快速地实现多方位、多角度以及多测量点同时测量，省时省力。
附图说明
[0019]图1是本技术实施例提供的辅助测量装置的结构示意图一；
[0020]图2是本技术实施例提供的辅助测量装置的结构示意图二；
[0021]图3是本技术实施例提供的辅助测量装置的结构示意图三；
[0022]图4是本技术实施例提供的辅助测量装置的磁吸块的结构示意图；
[0023]图5是本技术实施例提供的辅助测量装置的测试件的结构示意图一；
[0024]图6是本技术实施例提供的辅助测量装置的测试件的结构示意图二；
[0025]图7是本技术实施例提供的测试件的调节架与探针组件的结构示意图。
[0026]图中：
[0027]100
‑
待测产品；
[0028]1‑
固定座；110
‑
直角区域；11
‑
第一限位条；12
‑
第二限位条；
[0029]2‑
磁吸块；21
‑
侧面；22
‑
磁体；
[0030]3‑
测试件；
[0031]31
‑
调节架；311
‑
底支架；3111
‑
底座；3112
‑
立柱；3113
‑
第一支座；312
‑
上支架；3121
‑
支柱；3122
‑
第二支座；313
‑
第一转轴；3131
‑
第一套环；3132
‑
第一把手；314
‑
第二转轴；3141
‑
第二套环；3142
‑
第二把手；3143
‑
连接头；
[0032]32
‑
探针组件；321
‑
壳体；3211
‑
连接环；322
‑
探针；323
‑
固定帽；324
‑
金属环。
具体实施方式
[0033]下面详细描述本技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的零部件或具有相同或类似功能的零部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0034]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0035]在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辅助测量装置，其特征在于，包括：固定座(1)，用于承载待测产品(100)；多个测试件(3)，多个所述测试件(3)沿水平方向间隔排布，所述水平方向垂直于所述固定座(1)的高度方向，每个所述测试件(3)包括调节架(31)和探针组件(32)，所述调节架(31)通过磁吸方式与所述固定座(1)可拆卸连接，所述探针组件(32)可调节地设置于所述调节架(31)上，用于与所述待测产品(100)相抵触。2.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，还包括多个磁吸块(2)，多个所述磁吸块(2)分别磁吸固定于所述固定座(1)上，多个所述磁吸块(2)与所述固定座(1)配合以在所述水平方向上限位所述待测产品(100)，所述磁吸块(2)具有相互垂直且连接的两个侧面(21)，每个所述侧面(21)上设有磁体(22)，所述磁吸块(2)的两个所述侧面(21)能够分别磁吸于所述固定座(1)和所述待测产品(100)上。3.根据权利要求2所述的辅助测量装置，其特征在于，所述固定座(1)上呈夹角设置有第一限位条(11)和第二限位条(12)，所述第一限位条(11)和所述第二限位条(12)相连接以在所述固定座(1)上形成一个用于放置所述待测产品(100)和所述磁吸块(2)的直角区域(110)，所述磁吸块(2)的一个所述侧面(21)能够磁吸于所述第一限位条(11)或所述第二限位条(12)。4.根据权利要求1所述的辅助测量装置，其特征在于，所述调节架(31)包括底支架(311)和上支架(312)，所述底支架(311)与所述固定座(1)通过磁吸方式可拆卸连接，所述上支架(312)转动设置于所述底支架(311)上，所述探针组件(32)可调节地设置于所述上支架(312)上。5.根据权利要求4所述的辅助测量装置，其特征在于，所述调节架(31)还包括转动设置于所述底支架(311)上的第一转轴(313...

【专利技术属性】
技术研发人员：周君贤，孙灯群，潘黎峰，张少杰，刘秀亮，郁剑豪，刘钿，朱昌建，李冬，
申请(专利权)人：立臻精密智造昆山有限公司，
类型：新型
国别省市：