一种温控转台定位重复性检测方法技术

本发明专利技术公开的一种温控转台定位重复性检测方法，通过电子经纬仪获取常温下的多组方位角和俯仰角；再控制温控转台的温度箱的温度，通过电子经纬仪获取每个温度点下的多组方位角和俯仰角；最后根据所有方位角数据计算方位角重复性，即内框定位重复性。电子经纬仪不需要和反光组件的法线方向严格等高，且不易受到外界光线干扰，因此采用电子经纬仪通过温度箱玻璃窗口能够准确地瞄准和读数，可实现在高低温条件下对各型号温控转台内框定位重复性检测，使用简单、方便灵活，在各型号温控转台内框定位重复性检测中拥有广阔的应用前景。定位重复性检测中拥有广阔的应用前景。定位重复性检测中拥有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种温控转台定位重复性检测方法


[0001]本专利技术属于，尤其涉及一种在高低温条件下温控转台内框定位重复性检测方法。

技术介绍

[0002]目前，通常依据GJB 1801
‑
93《惯性技术测试设备主要性能试验方法》，使用23面棱体和光电自准直仪，在常温下对温控转台内框的定位重复性进行检测。
[0003]温控转台自带温度箱，在高温或低温条件下进行定位重复性检测时，先关闭温度箱箱门后，再设置温度箱的温度为高温或低温，光电自准直仪需要通过温度箱玻璃窗口进行瞄准和读数。但是，在进行成像瞄准时要求光电自准直仪与平面镜的法线方向严格处于一个水平面高度，因此，光电自准直仪通过温度箱玻璃窗口难以实现成像瞄准；同时，光电自准直仪容易受到外界光线的干扰，在光线较弱或者较强时，都会导致成像困难或者读数不停地变化，通过温度箱玻璃窗口时光线强度变得比较弱，光电自准直仪难以实现瞄准和读数，综上可知，利用光电自准直仪难以实现在高低温条件下温控转台内框的定位重复性检测。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种温控转台定位重复性检测方法，以解决现有技术无法利用光电自准直仪实现高低温条件下温控转台内框的定位重复性检测的问题。
[0005]本专利技术是通过如下的技术方案来解决上述技术问题的：一种温控转台定位重复性检测方法，在所述温控转台的内框台面上设有反光组件，在所述温控转台附近架设有电子经纬仪，所述检测方法包括以下步骤：
[0006]步骤1：调整所述电子经纬仪，使其光轴垂直于反光组件，读取常温下所述电子经纬仪上显示的方位角α1(T1)和俯仰角β1(T1)，并记此时温控转台内框的位置为初始位置；
[0007]步骤2：控制所述温控转台的内框转动360
°
，调整所述电子经纬仪，使其光轴垂直于反光组件，读取常温下所述电子经纬仪上显示的方位角α2(T1)和俯仰角β2(T1)；
[0008]步骤3：重复所述步骤2n次，得到常温下n组方位角α
i
(T1)和俯仰角β
i
(T1)，进而得到常温下N组方位角α
i
(T1)和俯仰角β
i
(T1)，其中N＝n+2；
[0009]步骤4：控制所述温控转台的温度箱的温度达到并保持在T2；
[0010]步骤5：重复所述步骤1～3，得到温度为T2时N组方位角α
i
(T2)和俯仰角β
i
(T2)；
[0011]步骤6：控制所述温控转台的温度箱的温度达到并保持在下一个温度点，重复所述步骤4～5，直到完成所有温度点下方位角和俯仰角的测试，得到不同温度点下N组方位角和俯仰角；
[0012]步骤7：根据所述步骤6中不同温度点下N组方位角和俯仰角计算方位角重复性，即内框定位重复性。
[0013]进一步地，所述温控转台为温控单轴转台、温控双轴转台或温控三轴转台。
[0014]进一步地，所述反光组件为平面镜组件或棱镜组件。
[0015]进一步地，所述反光组件位于内框轴的中心位置。
[0016]进一步地，所述温度点包括检测温度范围内每间隔5℃的所有温度点。
[0017]进一步地，所述步骤7中，方位角重复性计算公式为：
[0018][0019]其中，σ为方位角重复性，α
i
(T
j
)为温度T
j
下的第i个方位角，N为每个温度点下得到的方位角数量，M为温度点的数量，为所有温度点下所有方位角的平均值。
[0020]进一步地，在所述步骤1之前还包括调平步骤，所述调平步骤的具体实现过程为：
[0021]采用电子水平仪对所述温控转台和电子经纬仪的水平度进行调整，使温控转台内框台面上的反光组件与电子水平仪处于同一水平上。
[0022]有益效果
[0023]与现有技术相比，本专利技术的优点在于：
[0024]本专利技术所提供的一种温控转台定位重复性检测方法，在每个温度点下先在初始位置采集一组方位角和俯仰角，再每转动360
°
采集一组方位角和俯仰角，电子经纬仪不需要和反光组件的法线方向严格等高，且不易受到外界光线干扰，因此采用电子经纬仪通过温度箱玻璃窗口能够准确地瞄准和读数，可实现在高低温条件下对各型号温控转台内框定位重复性检测，使用简单、方便灵活，在各型号温控转台内框定位重复性检测中拥有广阔的应用前景。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一个实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1是本专利技术实施例中温控转台内框定位重复性检测装置的结构示意图；
[0027]图2是本专利技术实施例中温控转台定位重复性检测方法流程图。
[0028]其中，1
‑
温控转台，2
‑
反光组件，3
‑
温度箱玻璃窗口，4
‑
内框台面，5
‑
电子经纬仪。
具体实施方式
[0029]下面结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]下面以具体地实施例对本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
[0031]图1为温控转台内框定位重复性检测装置的结构示意图，将反光组件2固定在温控转台1的内框台面4上，关闭温度箱箱门，在温控转台1的附近架设电子经纬仪5，电子经纬仪5自带光源。温控转台1和电子经纬仪5处于同一隔振地基上，采用电子水平仪调整温控转台1和电子经纬仪5的水平度，使电子水平仪5和温控转台1内框台面上的反光组件3处于同一水平上，这样光线的传播方向为水平传播和水平反射，便于后续电子经纬仪5瞄准成像，同
时降低了电子经纬仪5的读数误差。在本专利技术的一个具体实施方式中，温控转台的水平度误差≤5
″
，电子经纬仪的水平度误差1
″
。
[0032]在本专利技术的一个具体实施方式中，反光组件为平面镜或棱镜。
[0033]在本专利技术的一个具体实施方式中，反光组件位于温控转台内框轴的中心位置，便于电子经纬仪瞄准成像。
[0034]如图2所示，本专利技术实施例提供的一种温控转台定位重复性检测方法，包括以下步骤：
[0035]步骤1：常温下初始位置的方位角和俯仰角测试
[0036]温控转台的温度箱的温度为常温T1，启动温控转台，使温控转台各轴均处于角位置控制状态，通过调整电子经本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温控转台定位重复性检测方法，其特征在于，在所述温控转台的内框台面上设有反光组件，在所述温控转台附近架设有电子经纬仪，所述检测方法包括以下步骤：步骤1：调整所述电子经纬仪，使其光轴垂直于反光组件，读取常温下所述电子经纬仪上显示的方位角α1(T1)和俯仰角β1(T1)，并记此时温控转台内框的位置为初始位置；步骤2：控制所述温控转台的内框转动360
°
，调整所述电子经纬仪，使其光轴垂直于反光组件，读取常温下所述电子经纬仪上显示的方位角α2(T1)和俯仰角β2(T1)；步骤3：重复所述步骤2n次，得到常温下n组方位角α
i
(T1)和俯仰角β
i
(T1)，进而得到常温下N组方位角α
i
(T1)和俯仰角β
i
(T1)，其中N＝n+2；步骤4：控制所述温控转台的温度箱的温度达到并保持在T2；步骤5：重复所述步骤1～3，得到温度为T2时N组方位角α
i
(T2)和俯仰角β
i
(T2)；步骤6：控制所述温控转台的温度箱的温度达到并保持在下一个温度点，重复所述步骤4～5，直到完成所有温度点下方位角和俯仰角的测试，得到不同温度点下N组方位角和俯仰角...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨锐，丁涛，盛家辉，李俊，吴松，尹安民，王学文，孙皓，
申请(专利权)人：湖南航天机电设备与特种材料研究所，
类型：发明
国别省市：