【技术实现步骤摘要】
一种基于半导体浮地数字测试装置
[0001]本专利技术涉及一种用于浮地源系统测试数字类产品的装置，属于IC测试
技术介绍
[0002]随着数字类产品的日益发展，对数字类产品的一些模拟参数的要求越发严苛，要求低功耗，低压参数，耐压参数，等；很多参数再现有的测试方案无法达到高精度，低纹波的测试方案。
[0003]现有的数字测试平台基本都是共地源测试方案，多site公用同一个地平面；地平面需要保证同一电平，然而在大电流使用的情况下，地平面很难实现等电位，由于电势差的不同导致在数字测试时很容易出现测试不稳定的现象，特别时在熔断测试时，很多数字芯片测试时不可逆的情况下，如果出现不稳定时会导致芯片的状态错误，对于精度要求、以及功能要求较高的条件，这种测试时致命的。
技术实现思路
[0004]专利技术目的：为了克服现有技术中存在的不足，本专利技术提供一种精度高、测试稳定的基于半导体浮地数字测试装置。
[0005]技术方案：为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种基于半导体浮地数字测试装置，...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于半导体浮地数字测试装置，其特征在于：包括电源、FPGA板卡、数字底板以及两个以上的数字测试板，所述电源通过数字底板与数字测试板连接，所述FPGA板卡通过数字底板与数字测试板连接，所述数字底板用于电源与数字测试板之间的电源隔离,每个数字测试板作为独立浮动源的模式，电源电压作为电势差的使用；所述数字底板用...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄浩，包智杰，李全任，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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