【技术实现步骤摘要】
一种元件错贴检测方法
[0001]本专利技术涉及液晶显示屏、触摸屏等领域,尤其涉及一种元件错贴检测方法。
技术介绍
[0002]在目前的液晶模组行业中,FPC SMT厂家在制作FPC过程中都使用AOI(Automated Optical Inspection,自动光学检测仪)检测FPC,再通过人工目视化审核每一个FPC上的器件是否上件。一般FPC上器件多达40多颗,目视化判定方式存在局限性,容易误判;AOI无法识别器件是否横贴还是竖贴的问题。
[0003]因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是克服现有技术的不足,提供一种元件错贴检测方法。
[0005]本专利技术的技术方案如下:本专利技术提供一种元件错贴检测方法,包括以下步骤:步骤1:通过EDA软件生成FPC的3D图片;步骤2:拍摄生产的FPC实物的照片,并将照片与3D图片进行对比;步骤3:判断生产的FPC实物是否合格。
[0006]进一步地,在所述步骤1中:用EDA软件先按照器件实物规格参数制作出对应3D器件封装库,再调用3D器件封装库,把需要的3D器件一一设计到不同项目的FPC上,生成3D图片,同时在3D图片中选择FPC上对位MARK作为原点坐标,将3D图片保存在系统中。
[0007]进一步地,所述步骤2中,通过高清摄像头拍摄生产的FPC实物的照片,并且照片上中的FPC实物的对位MARK作为照片的原点坐标。
[0008]进一步地,所述步骤3中,当照片与3D图片对比无差 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种元件错贴检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:通过EDA软件生成FPC的3D图片;步骤2:拍摄生产的FPC实物的照片,并将照片与3D图片进行对比;步骤3:判断生产的FPC实物是否合格。2.根据权利要求1所述的元件错贴检测方法,其特征在于,在所述步骤1中:用EDA软件先按照器件实物规格参数制作出对应3D器件封装库,再调用3D器件封装库,把需要的3D器件一一设计到不同项目的FPC上,生成3D图片,同时在3D图片中选择FPC上对位MARK作为原点坐标,将3D图片保存在系统中。...
【专利技术属性】
技术研发人员:田野,曾小马,黄平洋,张丽霞,巫帮锡,
申请(专利权)人:深圳同兴达科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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