一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法技术方案

本申请提供一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法，光源向待测钛扩散直波导芯片输入光后，待测钛扩散直波导芯片输出的光束经偏振控制器调节分别得到TE模式和TM模式，利用光功率计分别测量TE模式和TM模式的光功率，能够得到待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。以上方案中，通过在待测钛扩散直波导芯片和光功率计之间加入偏振控制器，调整偏振控制器达到对待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗测试，无需分别针对待测钛扩散直波导芯片的对接输出尾纤，简化了测试过程，节约了测试时间，而且无需受到输出尾纤与待测钛扩散直波导芯片耦合精度的影响，提高了测试结果的稳定性和准确性。定性和准确性。定性和准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法


[0001]本申请涉及光波导器件
，具体涉及一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法。

技术介绍

[0002]基于钛扩散工艺的铌酸锂(Li NbO3)相位调制器芯片[以下称之为钛扩散直波导芯片]可以传输两个正交的偏振模式，并在它们之间引入调制相位差，是一种双折射相位调制器，其具有响应速度快，调制带宽大，易于集成等优点，在光纤系统中得到越来越广泛的应用。基于其重要性，需要对其偏振相关的损耗进行测试。
[0003]目前，对于钛扩散直波导芯片的性能测试方法中，由于钛扩散直波导芯片为双偏振工作模式，所以原有技术在测试芯片偏振相关损耗时需要将在钛扩散直波导工作在不同偏振工作模式时分别接入输入端尾纤和输出端尾纤对准芯片后再通过输出端尾纤与消光比测试仪相接测量，因此，对于输入端尾纤与芯片的耦合度、输出端尾纤与芯片的耦合度要求很高，导致在测试过程中耗费时间长，测试数据时不稳定。

技术实现思路

[0004]本申请要解决的技术问题是现有钛扩散直波导芯片的性能测试方法存在的耗时长、稳定性差的问题，为此，本申请提出了一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法。
[0005]针对上述技术问题，本申请提供如下技术方案：
[0006]本申请实施例提供一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其包括：
[0007]光源，其输出端与待测钛扩散直波导芯片的输入端连接，所述光源向所述待测钛扩散直波导芯片输入光；
[0008]偏振控制器，沿光传播方向设置于所述待测钛扩散直波导芯片的输出端之后，对所述待测钛扩散直波导芯片的输出光进行调节后输出TE模式和TM模式；
[0009]光功率计，沿光传播方向设置于所述偏振控制器之后，接收TE模式和TM模式，并测量TE模式的光功率和TM模式的光功率；
[0010]损耗计算模块，根据所述TE模式的光功率和所述TM模式的光功率，得到所述待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。
[0011]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，还包括：
[0012]透镜校准装置，沿光传播方向设置于所述偏振控制器和所述光功率计之间；
[0013]所述透镜准直装置用于将所述偏振控制器输出的TE模式和TM模式进行校准后传输至所述光功率计。
[0014]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，所述透镜校准装置包括固定支架和安装于所述固定支架上的透镜。
[0015]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，所述偏振控制
器包括固定装置以及依序设置于所述固定装置上的前置准直透镜、线偏振控制片和后置准直透镜。
[0016]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，旋转所述线偏振控制器中的所述线偏振控制片至第一角度时所述线偏振控制器输出TE模式；旋转所述线偏振控制器中的所述线偏振控制片至第二角度时所述线偏振控制器输出TM模式；所述第一角度和所述第二角度具有90
°
角度差。
[0017]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，所述固定支架和所述固定装置配置有高度调节部；调整所述高度调节部以调节所述透镜和所述线偏振控制片至相同高度。
[0018]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，还包括光学平台：
[0019]所述待测钛扩散直波导芯片、所述偏振控制器、所述透镜校准装置和所述光功率模块沿光传播方向依次设置于所述光学平台上。
[0020]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，所述光学平台的表面开设有固定槽，所述待测钛扩散直波导芯片、所述偏振控制器、所述透镜校准装置和所述光功率模块依次设置于所述固定槽内。
[0021]在一些实施例中提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，所述光源为与所述待测钛扩散直波导芯片具有相同工作波长的消偏光源；所述光功率计与所述待测钛扩散直波导芯片具有相同工作波长。
[0022]本申请实施例中还提供一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试方法，通过以上任一项方案所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统对钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗进行测试，所述方法包括如下步骤：
[0023]步骤一：将光源、待测钛扩散直波导芯片、偏振控制器和所述光功率计按顺序沿光传播方向排列；
[0024]步骤二：启动所述光源，向所述待测钛扩散直波导芯片输入光；
[0025]步骤三：调整所述偏振控制器，将所述待测钛扩散直波导芯片的输出光调整为TE模式和TM模式；
[0026]步骤四：所述光功率计，在接收TE模式时得到TE模式的光功率，在接收TM模式时得到TM模式的光功率；
[0027]步骤五：根据所述TE模式的光功率和所述TM模式的光功率，得到所述待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。
[0028]本申请的技术方案相对现有技术具有如下技术效果：
[0029]本申请提供的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统及方法，光源向待测钛扩散直波导芯片输入光后，待测钛扩散直波导芯片的输出光经偏振控制器调节从而分别得到TE模式和TM模式，之后利用光功率计分别测量TE模式和TM模式的光功率，进而能够得到待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。以上方案中，通过在待测钛扩散直波导芯片和光功率计之间加入偏振控制器，通过调整偏振控制器达到对待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗测试目的，无需分别针对待测钛扩散直波导芯片的不同偏振模式对接输出尾纤，简化了测试过程，节约了测试时间，而且无需受到输出尾纤与待测钛扩散直波导芯片耦合精度
的影响，提高了测试结果的稳定性和准确性。
附图说明
[0030]下面将通过附图详细描述本申请中优选实施例，将有助于理解本申请的目的和优点，其中:
[0031]图1为本申请一个实施例所述钛扩散直波导芯片的结构示意图；
[0032]图2为本申请一个实施例所述钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统的结构框图；
[0033]图3为本申请另一个实施例所述钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统的结构框图；
[0034]图4为本申请一个实施例所述偏振控制器、透镜校准装置和光功率计的设置方式示意图；
[0035]图5为本申请一个实施例所述光学平台表面固定槽的示意图；
[0036]图6为本申请一个实施例所述钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试方法的流程图。
具体实施方式
[0037]下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0038]在本申请的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于，包括：光源，其输出端与待测钛扩散直波导芯片的输入端连接，所述光源向所述待测钛扩散直波导芯片输入光；偏振控制器，沿光传播方向设置于所述待测钛扩散直波导芯片的输出端之后，对所述待测钛扩散直波导芯片的输出光进行调节后输出TE模式和TM模式；光功率计，沿光传播方向设置于所述偏振控制器之后，接收TE模式和TM模式，并测量TE模式的光功率和TM模式的光功率；损耗计算模块，根据所述TE模式的光功率和所述TM模式的光功率，得到所述待测钛扩散直波导芯片的偏振相关损耗。2.根据权利要求1所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于，还包括：透镜校准装置，沿光传播方向设置于所述偏振控制器和所述光功率计之间；所述透镜准直装置用于将所述偏振控制器输出的TE模式和TM模式进行校准后传输至所述光功率计。3.根据权利要求2所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于：所述透镜校准装置包括固定支架和安装于所述固定支架上的透镜。4.根据权利要求3所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于：所述偏振控制器包括固定装置以及依序设置于所述固定装置上的前置准直透镜、线偏振控制片和后置准直透镜。5.根据权利要求4所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于：旋转所述线偏振控制器中的所述线偏振控制片至第一角度时所述线偏振控制器输出TE模式；旋转所述线偏振控制器中的所述线偏振控制片至第二角度时所述线偏振控制器输出TM模式；所述第一角度和所述第二角度具有90
°
角度差。6.根据权利要求5所述的钛扩散直波导芯片偏振相关损耗测试系统，其特征在于：所述固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：马超，杨成惠，
申请(专利权)人：北京世维通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：