一种热电材料器件的测试设备制造技术

技术编号:34886620 阅读:20 留言:0更新日期:2022-09-10 13:44
本申请公开了一种热电材料器件的测试设备,该测试设备包括测试基体、门体结构和至少两个测试台装置,测试基体具有测试内腔,测试内腔的一侧具有开口,门体结构连接于测试基体。测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件。控温元件设置于测试基座,控温元件具有接触侧,控温元件能够调整接触侧的温度。支撑结构具有第一端和第二端,第一端与测试基座连接,第二端与活动块可转动地连接,第一驱动组件与活动块连接。使用者可以通过支撑结构和第一驱动组件改变测试基座和控温元件的姿态和位置,从而改变测试设备施加在待测试器件上的温差方向,进而有利于提升测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。适应性。适应性。

【技术实现步骤摘要】
一种热电材料器件的测试设备


[0001]本申请涉及热电测试装置
,具体涉及一种热电材料器件的测试设备。

技术介绍

[0002]热电材料能够实现热能与电能之间的直接转换,对工业余热、环境热能回收具有重要意义。热电材料回收热能的能力与材料的性能息息相关,其中主要研究参数包括seebeck系数S、热导率κ、电导率σ,以及热电器件的转化效率η。而由于无机热电材料的seebeck系数S较小,对于低温差环境而言所能产生的电势比较小,特别是在可穿戴领域,热电器件所能产生的电势远远小于传感器和可穿戴设备的工作电压,尽管可以通过利用dc

dc电路对其进行升压,但是在升压后其效率会有巨大损失。因此,在近些年涌现出众多关于高热电势的离子型热电材料器件的研究工作,然而对于这一类离子热电材料器件的研究缺乏相关专业的测试设备。特别是,现有的测试设备在进行测试时,其施加在待测试器件上的温差方向通常是固定且单一的,这降低了测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。

技术实现思路

[0003]本专利技术主要解决的技术问题是:现有的测试设备施加在待测试器件上的温差方向通常是固定且单一的,导致测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性差。
[0004]第一方面,一种实施例中提供一种热电材料器件的测试设备,包括:
[0005]测试基体,所述测试基体具有测试内腔,所述测试内腔的一侧具有开口;
[0006]门体结构,所述门体结构连接于所述测试基体,所述门体结构用于封闭所述开口;以及
[0007]至少两个测试台装置,所述测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件;所述测试基座用于承载待测试器件,所述控温元件设置于所述测试基座,所述控温元件具有接触侧,所述控温元件能够调整所述接触侧的温度,所述接触侧用于与所述待测试器件接触;所述支撑结构具有第一端和第二端,所述第一端与所述测试基座连接,所述第二端与所述活动块可转动地连接,所述第一驱动组件与所述活动块连接,用以带动所述活动块作直线升降运动。
[0008]一种实施例中,测试台装置还包括转轴件和第一锁紧件,所述转轴件与所述活动块可转动地连接,所述转轴件具有贯通的第一安装孔,所述支撑结构的第二端插入所述第一安装孔;所述第一锁紧件贯穿所述第一安装孔的孔壁,并与所述支撑结构的第二端接触,所述第一锁紧件与所述转轴件螺纹连接,用以将所述支撑结构的第二端抵紧在第一安装孔内。
[0009]一种实施例中,测试台装置还包括套接件和第二锁紧件,所述套接件具有贯通的第二安装孔,所述支撑结构的第一端插入所述第二安装孔;所述第二锁紧件贯穿所述第二安装孔的孔壁,并与所述支撑结构的第一端接触,所述第二锁紧件与所述套接件螺纹连接,
用以将所述支撑结构的第一端抵紧在第二安装孔内。
[0010]一种实施例中,所述第一驱动组件包括驱动电机、驱动丝杆和导向杆,所述驱动丝杆转动设置,所述导向杆平行于所述驱动丝杆,所述活动块与所述驱动丝杆和导向杆套接,所述驱动电机的输出端与所述驱动丝杆连接,所述驱动电机用于驱动所述驱动丝杆转动,以带动所述活动块沿所述驱动丝杆和导向杆的延伸方向运动。
[0011]一种实施例中,测试台装置还包括第二驱动组件,所述控温元件与所述测试基座活动连接,所述第二驱动组件与所述控温元件连接,所述第二驱动组件用于驱动所述控温元件在所述测试基座上运动。
[0012]一种实施例中,还包括冷热壁装置,所述冷热壁装置包括第一导热块和第一导热通道,所述第一导热块设置在所述测试内腔的侧壁上;所述第一导热通道设置在所述第一导热块内部,所述第一导热通道的两端分别具有第一导热入口和第一导热出口,以使工质能够通过所述第一导热入口进入第一导热通道和通过所述第一导热出口排出所述第一导热通道。
[0013]一种实施例中,所述控温元件包括半导体制冷片、第二导热块和第二导热通道,所述第二导热块与所述测试基座连接,所述半导体制冷片的一侧与所述第二导热块接触,另一侧用于与待测试器件接触,所述第二导热通道设置在所述第二导热块内部,所述第二导热通道的两端分别具有第二导热入口和第二导热出口,以使工质能够通过所述第二导热入口进入第二导热通道和通过所述第二导热出口排出所述第二导热通道。
[0014]一种实施例中,还包括控制座、控制面板和控制装置,所述控制座与测试基体连接,所述控制面板和控制装置连接于所述控制座,所述控制面板与所述控制装置电连接。
[0015]一种实施例中,所述控制座具有控制内腔,所述控制内腔内设有循环装置,所述循环装置包括水箱和加热制冷循环器,所述循环装置用于提供起换热作用的循环水。
[0016]一种实施例中,还包括紫外灯箱和湿度控制模块,所述紫外灯箱和湿度控制模块设置在所述测试内腔内;所述测试基体内设有气体接口和真空抽气接口,所述气体接口用于与气体源连接,以调节测试内腔的气体环境,所述真空抽气接口用于与真空泵连接,以调节测试内腔的真空度。
[0017]依据上述实施例的热电材料器件的测试设备,该测试设备包括测试基体、门体结构和至少两个测试台装置,测试基体具有测试内腔,测试内腔的一侧具有开口。门体结构连接于测试基体,门体结构用于封闭开口。测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件。测试基座用于承载待测试器件,控温元件设置于测试基座,控温元件具有接触侧,控温元件能够调整接触侧的温度,接触侧用于与待测试器件接触。支撑结构具有第一端和第二端,第一端与测试基座连接,第二端与活动块可转动地连接,第一驱动组件与活动块连接,用以带动活动块作直线升降运动。当需要对待测试器件进行测试时,可以将支撑结构相对活动块转动,并通过第一驱动组件驱动活动块作直线升降运动,以改变测试基座和控温元件的姿态和位置,从而改变测试设备施加在待测试器件上的温差方向,进而有利于提升测试设备对于不同测试环境和测试要求的适应性。
附图说明
[0018]图1为本申请一种实施例中测试设备的立体视角的结构示意图;
[0019]图2为本申请一种实施例中测试设备的正面视角的结构示意图;
[0020]图3为本申请图2中沿A

A方向的剖视图;
[0021]图4为本申请一种实施例中垂直形态下两个测试台装置的结构示意图;
[0022]图5为本申请一种实施例中水平形态下两个测试台装置的结构示意图;
[0023]图6为本申请一种实施例中垂直形态下两个测试基座和控温元件的结构示意图;
[0024]图7为本申请一种实施例中单个测试台装置的结构示意图;
[0025]图8为本申请一种实施例中冷热壁装置的立体视角的结构示意图;
[0026]图9为本申请一种实施例中冷热壁装置的正面视角的结构示意图;
[0027]图10为本申请图9中沿B

B方向的剖视图;
[0028]图11为本申请一种实施例中测试台装置装夹薄膜型待测试器件的结构示意图;
[0029本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种热电材料器件的测试设备,其特征在于,包括:测试基体,所述测试基体具有测试内腔,所述测试内腔的一侧具有开口;门体结构,所述门体结构连接于所述测试基体,所述门体结构用于封闭所述开口;以及至少两个测试台装置,所述测试台装置包括测试基座、控温元件、支撑结构、活动块和第一驱动组件;所述测试基座用于承载待测试器件,所述控温元件设置于所述测试基座,所述控温元件具有接触侧,所述控温元件能够调整所述接触侧的温度,所述接触侧用于与所述待测试器件接触;所述支撑结构具有第一端和第二端,所述第一端与所述测试基座连接,所述第二端与所述活动块可转动地连接,所述第一驱动组件与所述活动块连接,用以带动所述活动块作直线升降运动。2.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于,测试台装置还包括转轴件和第一锁紧件,所述转轴件与所述活动块可转动地连接,所述转轴件具有贯通的第一安装孔,所述支撑结构的第二端插入所述第一安装孔;所述第一锁紧件贯穿所述第一安装孔的孔壁,并与所述支撑结构的第二端接触,所述第一锁紧件与所述转轴件螺纹连接,用以将所述支撑结构的第二端抵紧在第一安装孔内。3.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于,测试台装置还包括套接件和第二锁紧件,所述套接件具有贯通的第二安装孔,所述支撑结构的第一端插入所述第二安装孔;所述第二锁紧件贯穿所述第二安装孔的孔壁,并与所述支撑结构的第一端接触,所述第二锁紧件与所述套接件螺纹连接,用以将所述支撑结构的第一端抵紧在第二安装孔内。4.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述第一驱动组件包括驱动电机、驱动丝杆和导向杆,所述驱动丝杆转动设置,所述导向杆平行于所述驱动丝杆,所述活动块与所述驱动丝杆和导向杆套接,所述驱动电机的输出端与所述驱动丝杆连接,所述驱动电机用于驱动所述驱动丝杆转动,以带动所述活动块沿所述驱动丝杆和导向杆的延伸方向运动。5.如权利要求1所述的测试设备,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘玮书邓彪张澎祥李其锴
申请(专利权)人:南方科技大学
类型:发明
国别省市:

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