一种可实现连续导体多点电阻的测量方法技术

本发明专利技术涉及电阻测量技术领域，具体地说，涉及一种可实现连续导体多点电阻的测量方法。其包括以下步骤：选取一条连续导体作为试验导体；将试验导体根据长度分为若干个测量段，每段之间为统一长度；选用双臂电桥法测量，对试验导体的测量段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录；将试验导体的测量段，分别取两段中点之间的叠合部分进行标记，分为若干个叠合段；选用双臂电桥法测量，对试验导体的叠合段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录；将测量段电阻数值进行比较，叠合段电阻数值进行比较，两组平均值进行比较；测量段与叠合段数值偏差较大时，说明为该连续导体的内部存在电阻差异，不能用作出厂标准。不能用作出厂标准。不能用作出厂标准。

【技术实现步骤摘要】
一种可实现连续导体多点电阻的测量方法


[0001]本专利技术涉及电阻测量
，具体地说，涉及一种可实现连续导体多点电阻的测量方法。

技术介绍

[0002]随着社会经济的快速发展，国家对电线、电缆的标准要求，越来越严格。但由于电线、电缆的生产厂家较多，目前国内电线、电缆的质量水平明显低于国外，且劣质的电线、电缆充斥市场。目前市场上的电线、电缆，其不合格项目涉及标准要求的各个方面,主要是电性能试验，特别是直流电阻和绝缘电阻。
[0003]现有的连续导体的电阻测量方式，通常为双臂电桥法和单臂电桥法测量，一般将整个连续导体进行测量，这种方式导致导体中间部位的电阻数值无法确定，虽然能通过合格的电阻标准，但导体中间部位可能因生产差异，导致电阻值差异，为了解决这种现象，需要一种可实现连续导体多点电阻的测量方法来改善现有技术的不足。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种可实现连续导体多点电阻的测量方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种可实现连续导体多点电阻的测量方法，包括以下步骤：
[0006]S1、选取一条连续导体作为试验导体，并进行记录，将试验导体置于测量室内适应温度，使其达到温度平衡；
[0007]S2、将试验导体根据长度分为若干个测量段，每段之间为统一长度，每个测量段依次标记为D1、D2、D3...Dn，单位为Ω；
[0008]S3、选用双臂电桥法测量，对试验导体的D1、D2、D3...Dn测量段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将测量段的电阻数值取平均值；
[0009]S4、将试验导体的测量段，分别取两段中点之间的叠合部分进行标记，分为若干个叠合段，叠合段位于每相邻的两个测量段之间，每个叠合段依次标记为M1、M2、M3...Mn，单位为Ω；
[0010]S5、选用双臂电桥法测量，对试验导体的M1、M2、M3...Mn叠合段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将叠合段的电阻数值取平均值；
[0011]S6、将D1、D2、D3...Dn测量段电阻数值进行比较，M1、M2、M3...Mn叠合段电阻数值进行比较，两组平均值进行比较，合格后，再取测量段和叠合段平均值为标准电阻即可。
[0012]作为本技术方案的进一步改进，所述S1中，试验导体位于测量室的试验区域，放置时间为30
‑
40min。
[0013]作为本技术方案的进一步改进，所述S3中，每进行一次测量段的电阻测量，需对试验导体放置5min，避免电阻测量时电流导致测量段温度变化，从而影响下次测量工作。
[0014]作为本技术方案的进一步改进，所述S3中，测量段的电阻数值记录为DR1、DR2、DR3...DRn，单位为Ω。
[0015]作为本技术方案的进一步改进，所述S5中，每个叠合段的电阻数值记录为MR1、MR2、MR3...MRn，单位为Ω。
[0016]作为本技术方案的进一步改进，所述S5中，每进行一次叠合段的电阻测量，需对试验导体放置5min，，避免电阻测量时电流导致叠合段温度变化，从而影响下次测量工作。
[0017]作为本技术方案的进一步改进，所述S3中，测量段电阻数值的平均值记录为D0，单位为Ω。
[0018]作为本技术方案的进一步改进，所述S5中，叠合段数值的平均值记录为M0，单位为Ω。
[0019]作为本技术方案的进一步改进，所述S6中，测量段电阻平均值与叠合段电阻平均值相差过大，测量段D1
‑
Dn电阻数值相差过大，叠合段M1
‑
Mn电阻数值相差过大，均为不合格。
[0020]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0021]1、该可实现连续导体多点电阻的测量方法中，通过对连续导体多点电阻进行测量，将测量段D1
‑
Dn的电阻数值进行测量，对DR1
‑
DRn的电阻数值进行比较，若发现差异较大，可视为不合格，进一步提升了连续导体的安全性。
[0022]2、该可实现连续导体多点电阻的测量方法中，将叠合段M1
‑
Mn的电阻数值进行测量，对MR1
‑
MRn的电阻数值进行比较，若发现差异较大，说明每相邻的两个测量段电阻不同，亦可视为不合格，若测量段与叠合段数值偏差较大时，说明为该连续导体的内部存在电阻差异，不能用作出厂标准，从而对连续导体的合格率进一步提高。
附图说明
[0023]图1为本专利技术的整体流程框图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本
人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]实施例1一种可实现连续导体多点电阻的测量方法，包括：
[0026]1、选取一条连续导体作为试验导体，并进行记录，将试验导体置于测量室内适应温度，放置时间为30
‑
40min，使其达到温度平衡；
[0027]2、将试验导体根据长度分为若干个测量段，每段之间为统一长度，每个测量段依次标记为D1、D2、D3...Dn，单位为Ω；
[0028]3、选用双臂电桥法测量，对试验导体的D1、D2、D3...Dn测量段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将测量段的电阻数值取平均值，每进行一次测量段的电阻测量，需对试验导体放置5min，避免电阻测量时电流导致测量段温度变化，从而影响下次测量工作，测量段的电阻数值记录为DR1、DR2、DR3...DRn，单位为Ω，测量段电阻数值的平均值记
录为D0，单位为Ω；
[0029]4、将试验导体的测量段，分别取两段中点之间的叠合部分进行标记，分为若干个叠合段，叠合段位于每相邻的两个测量段之间，每个叠合段依次标记为M1、M2、M3...Mn，单位为Ω；
[0030]5、选用双臂电桥法测量，对试验导体的M1、M2、M3...Mn叠合段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将叠合段的电阻数值取平均值，每进行一次叠合段的电阻测量，需对试验导体放置5min，，避免电阻测量时电流导致叠合段温度变化，从而影响下次测量工作，每个叠合段的电阻数值记录为MR1、MR2、MR3...MRn，单位为Ω，叠合段数值的平均值记录为M0，单位为Ω；
[0031]6、将D1、D2、D3...Dn测量段电阻数值进行比较，M1、M2、M3...Mn叠合段电阻数值进行比较，两组平均值进行比较，测量段电阻平均值与叠合段电阻平均值相差过大，测量段D1
‑
Dn电阻数值相差过大，叠合段M1
‑
Mn电阻数值相差过大，均为不合格，若合格后，再取测量段和叠合段平均值为标准电阻即可。
[0032]本专利技术中，通过对连续导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可实现连续导体多点电阻的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、选取一条连续导体作为试验导体，并进行记录，将试验导体置于测量室内适应温度，使其达到温度平衡；S2、将试验导体根据长度分为若干个测量段，每段之间为统一长度，每个测量段依次标记为D1、D2、D3...Dn，单位为Ω；S3、选用双臂电桥法测量，对试验导体的D1、D2、D3...Dn测量段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将测量段的电阻数值取平均值；S4、将试验导体的测量段，分别取两段中点之间的叠合部分进行标记，分为若干个叠合段，叠合段位于每相邻的两个测量段之间，每个叠合段依次标记为M1、M2、M3...Mn，单位为Ω；S5、选用双臂电桥法测量，对试验导体的M1、M2、M3...Mn叠合段依次进行电阻测量，测量后对电阻数值记录，并将叠合段的电阻数值取平均值；S6、将D1、D2、D3...Dn测量段电阻数值进行比较，M1、M2、M3...Mn叠合段电阻数值进行比较，两组平均值进行比较，合格后，再取测量段和叠合段平均值为标准电阻即可。2.根据权利要求1所述的可实现连续导体多点电阻的测量方法，其特征在于：所述S1中，试验导体位于测量室的试验区域，放置时间为30
‑
40min。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯博，朱瑾瑜，
申请(专利权)人：深圳业疆测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：