测色装置制造方法及图纸

技术编号:34835753 阅读:19 留言:0更新日期:2022-09-08 07:30
本发明专利技术涉及测色装置。若反射基准面被污染,则无法获取适当的反射基准值,但在以往的测色装置中未考虑反射基准面的维护性。测色装置具备:开口部,形成于在装置的底部配置的开口部形成构件,用于将从测定对象发来的光取入到装置内部;发光部,朝向所述测定对象发出测定用的光;入射光处理部,对通过所述开口部入射的光进行处理;以及快门单元,能够切换覆盖所述开口部的封闭状态和进行测色时的状态即开放所述开口部的开放状态,在所述封闭状态下在面向所述开口部的位置具有作为反射率的基准的反射基准面,所述快门单元被设置为,除了所述封闭状态以及所述开放状态之外,还能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态。出状态。出状态。

【技术实现步骤摘要】
测色装置


[0001]本专利技术涉及基于从测定对象发来的光进行测色的测色装置。

技术介绍

[0002]以往,已知有基于从测定对象发来的光进行测色的测色装置。在测色装置中,例如存在如下测色装置:使从测定对象发来的光入射到分光滤光器,通过分光滤光器取出规定波长分量并通过光电二极管受光,通过检测从光电二极管输出的电压来进行测色。在这样的测色装置中,开口部设置于装置主体的底面。若保持开放该开口部的状态,则尘埃等进入装置内部,因此如专利文献1所示,存在设置能够对覆盖开口部的状态和露出开口部的状态进行切换的构件的情况。
[0003]在专利文献1中,覆盖开口部的构件被称为支承板。支承板设置成能够在覆盖作为开口部的测定窗口的位置和使测定窗口露出的位置之间移动。在支承板上设置有白色基准砖作为反射基准面,在支承板覆盖测定窗口的状态下,构成为能够获取白色基准值。
[0004]专利文献1:美国专利申请公开第2010/0328656号说明书
[0005]若反射基准面被污染,则无法获取适当的反射基准值,但在以往的测色装置中,未考虑过反射基准面的维护性。

技术实现思路

[0006]用于解决上述课题的本专利技术的测色装置的特征在于,具备:开口部,形成于在装置的底部配置的开口部形成构件,用于将从测定对象发来的光取入到装置内部;发光部,朝向所述测定对象发出测定用的光;入射光处理部,对通过所述开口部入射的光进行处理;以及快门单元,能够切换覆盖所述开口部的封闭状态和作为进行测色时的状态的开放所述开口部的开放状态,在所述封闭状态下所述快门单元在面向所述开口部的位置具有作为反射率的基准的反射基准面,所述快门单元被设置为,除了所述封闭状态和所述开放状态之外,还能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态。
附图说明
[0007]图1是表示测色装置的功能的框图。
[0008]图2是光学滤波器设备的剖视图。
[0009]图3是表示测色装置的上表面的立体图。
[0010]图4是表示快门单元处于封闭状态的测色装置的底面的立体图。
[0011]图5是测色装置的上表面的俯视图。
[0012]图6是快门单元处于封闭状态的测色装置的底面的俯视图。
[0013]图7是快门单元处于开放状态的测色装置的底面的俯视图。
[0014]图8是图6的A

A剖视图。
[0015]图9是图7的B

B剖视图。
[0016]图10是快门单元的立体图。
[0017]图11是快门单元处于开放状态的测色装置的底面的立体图。
[0018]图12是从图11的状态拆下底部第二框架后的状态的图。
[0019]图13是使快门单元从图12的状态向+Y方向滑动后的状态的图。
[0020]图14是使快门构件从图13的状态旋转后的状态的图。
[0021]图15是图6的C

C剖视图。
[0022]图16是从图15的状态拆下底部第二框架后的状态的图。
[0023]图17是底部第二框架的立体图。
[0024]图18是表示另一实施方式所涉及的快门单元向露出状态的切换的图。
[0025]附图标记说明
[0026]1:测色装置;1a:主体组件;2:入射光处理部;3:光学滤波器设备;4:受光部;4a:光电二极管;5:PD基板;6:静电电容检测部;7:带通滤波器;9:发光部;10:MCU;12:有线IF;13:无线通信部;14:操作部;15:显示部;16:电池控制部;17:电池;21:开口部形成构件;21a:开口部;21c:第一下引导部;21d:第二下引导部;21e:第三下引导部;21f:移动限制部;21g:快门对置面;21h:螺纹孔;30:第一玻璃构件;31:第二玻璃构件;32:壳体;33:接合构件;34:固定件;35:引线接合;36:电极;37:基底基板;38:膜片基板;39:反射镜;40:固定电极;41:可动电极;42:膜片部;43:接合膜;45:波长可变干涉滤波器;49:底部第二框架;49a:重叠部;49b:移动限制部;49c:肋;49d:上引导部;49e:螺钉覆盖部;50:装置主体;50a:前表面;50b:右侧面;50c:左侧面;50d:后表面;50e:上表面;50f:底面;50g:把持部;51:主框体;51a:前方壁部;51b:右壁部;51c:左壁部;51d:后方壁部;51g:凹部;52:上部框架;53:底部第一框架;53c:第一上引导部;53d:第二上引导部;53e:第三上引导部;53g:重叠部;53h:引导槽;53j:移动限制部;53k:移动限制部;54:确定按钮;55:电源按钮;56:返回按钮;57:显示部罩;59:发光部;60:十字按钮;61:上按钮;62:下按钮;63:左按钮;64:右按钮;87:聚光构件;87a:测定用窗部;110:快门单元;111:快门保持构件;111d:轴保持部;111e:手指钩挂缘部;111f:手指钩挂凹部;111g:开放方向标记;111h:封闭方向标记;112:快门构件;112a:接触面;113:连杆构件;114:连结轴;115:弹簧挂轴;117:扭簧;118:板簧;121:第一引导轴;122:第二引导轴;123:第三引导轴;125:白色板;127:磁铁;128:快门传感器;130:第一螺钉;131:垫圈;132:第二螺钉;133:螺母;145:弹簧支承构件;145a:轴部;200:测定对象。
具体实施方式
[0027]以下,概略地说明本专利技术。
[0028]第一方式所涉及的测色装置的特征在于,具备:开口部,形成于在装置的底部配置的开口部形成构件,用于将从测定对象发来的光取入到装置内部;发光部,朝向所述测定对象发出测定用的光;入射光处理部,对通过所述开口部入射的光进行处理;以及快门单元,能够切换覆盖所述开口部的封闭状态和进行测色时的状态即开放所述开口部的开放状态,在所述封闭状态下在面向所述开口部的位置具有作为反射率的基准的反射基准面,所述快门单元被设置为,除了所述封闭状态以及所述开放状态之外,还能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态。
[0029]根据本方式,所述快门单元被设置为,除了所述封闭状态和所述开放状态之外,还
能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态,因此能够容易地维护所述反射基准面,进而能够获取适当的反射基准值。
[0030]第二方式的特征在于,在第一方式的基础上,所述快门单元具有:滑动构件,能够沿着装置的底面滑动;以及快门构件,是能够与所述滑动构件一起沿着所述底面滑动的构件,且具有所述反射基准面,并能够相对于所述滑动构件旋转,通过所述快门构件相对于所述滑动构件旋转,切换为所述露出状态。
[0031]根据本方式,所述快门单元通过所述快门构件相对于所述滑动构件旋转而切换为所述露出状态,因此能够以简单的结构进行向所述露出状态的切换。
[0032]第三方式的特征在于,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测色装置,其特征在于,具备:开口部,形成于在装置的底部配置的开口部形成构件,用于将从测定对象发来的光取入到装置内部;发光部,朝向所述测定对象发出测定用的光;入射光处理部,对通过所述开口部入射的光进行处理;以及快门单元,能够切换覆盖所述开口部的封闭状态和作为进行测色时的状态的开放所述开口部的开放状态,在所述封闭状态下所述快门单元在面向所述开口部的位置具有作为反射率的基准的反射基准面,所述快门单元被设置为,除了所述封闭状态和所述开放状态之外,还能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态。2.根据权利要求1所述的测色装置,其特征在于,所述快门单元具备:滑动构件,能够沿着装置的底面滑动;以及快门构件,能够与所述滑动构件一起沿着所述底面滑动,且具有所述反射基准面,并能够相对于所述滑动构件旋转,通过所述快门构件相对于所述滑动构件旋转,从而所述快门单元切换为所述露出状态。3.根据权利要求2所述的测色装置,其特征在于,所述快门构件在所述露出状态下与所述底面抵接。4.根据权利要求2或3所述的测色装置,其特征在于,所述快门单元通过从所述封闭状态向第一方向滑动而切换为所述开放状态,通过从所述开放状态向与所述第一方向相反的第二方向滑动而切换为所述封闭状态,所述快门构件具备:凸台,向与滑动方向交叉的方向突出;底部第一框架,构...

【专利技术属性】
技术研发人员:三宅俊生宫坂阳挥古屋贤一赤羽久幸
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:

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