一种用于生产半导体器件蚀刻系统技术方案

技术编号:34784629 阅读:30 留言:0更新日期:2022-09-03 19:44
本发明专利技术公开了一种用于生产半导体器件蚀刻系统,包括底座,所述底座的顶部安装有支撑柱,所述支撑柱的顶部安装有储物箱;所述储物箱的内表面安装有保温层,所述储物箱的顶部贯穿设置有溢流式冲水槽和恒温液槽,所述储物箱的顶部中心处设置有置物孔,所述置物孔位于溢流式冲水槽和恒温液槽的中间,所述储物箱的顶部设置有前后布置的置物槽,所述置物孔位于置物槽的中间,两组所述置物槽的内部均嵌合安装有挡块,两组所述挡块相互靠近的表面安装有集液框。本发明专利技术通过安装有底座、置物槽、置物孔和集液框,通过集液框的设置,可以在清洗半导体前,将承片架上残留的多余蚀刻液滴落收集进集液框的内部。从而在一定程度上能够提高清洗半导体的效率。导体的效率。导体的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于生产半导体器件蚀刻系统


[0001]本专利技术涉及半导体、光伏产业中的硅片蚀刻
,具体为一种用于生产半导体器件蚀刻系统。

技术介绍

[0002]在半导体器件制造过程中,常需要在晶圆上定义出极细微尺寸的图案,这些图案主要的形成方式,乃是藉由蚀刻技术,将微影后所产生的光阻图案忠实地转印至光阻下的材质上,因此蚀刻技术在半导体制造过程中占有极重要的地位,并转成可溶于此溶液的化合物后加以排除,而达到蚀刻的目的,湿式蚀刻的进行主要是藉由溶液与待蚀刻材质间的化学反应,因此可藉由调配与选取适当的化学溶液,得到所需的蚀刻速率,以及待蚀刻材料与光阻及下层材质良好的蚀刻选择比。
[0003]现有的蚀刻系统存在的缺陷是:
[0004]1、专利文件CN216541399U,公开了一种二维码蚀刻系统,包括传送机构、喷涂机构、风干机构、雕刻机构和称重机构,喷涂机构包括涂料桶、输送管和喷头,涂料桶与传送机构固定连接,输送管与涂料桶连通,喷头与输送管连通,输送管将涂料桶内的耐热涂料输送至喷头,喷头将耐热涂料喷涂至传送机构传送的金属载体上,风干机构将本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于生产半导体器件蚀刻系统,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的顶部安装有支撑柱(2),所述支撑柱(2)的顶部安装有储物箱(3);所述储物箱(3)的内表面安装有保温层(4),所述储物箱(3)的顶部贯穿设置有溢流式冲水槽(5)和恒温液槽(6),且溢流式冲水槽(5)位于恒温液槽(6)的一侧,所述储物箱(3)的顶部中心处设置有置物孔(8),且置物孔(8)呈长条状,所述置物孔(8)位于溢流式冲水槽(5)和恒温液槽(6)的中间,所述储物箱(3)的顶部设置有前后布置的置物槽(7),所述置物孔(8)位于置物槽(7)的中间,两组所述置物槽(7)的内部均嵌合安装有挡块(9),两组所述挡块(9)相互靠近的表面安装有集液框(10),且集液框(10)与置物孔(8)相嵌合;两组所述挡块(9)的顶部安装有拉杆(11),且拉杆(11)呈“L”字形。2.根据权利要求1所述的一种用于生产半导体器件蚀刻系统,其特征在于:所述溢流式冲水槽(5)和恒温液槽(6)的底壁均安装有鼓泡板(35),其中一组鼓泡板(35)的顶部安装有置物套(13),置物套(13)的内部滑动安装有承片架(12),承片架(12)的顶部中心处安装有连接套(14),承片架(12)的顶部设置有插槽(15),且插槽(15)位于连接套(14)的外侧,插槽(15)的内部嵌合安装有插块(16),插块(16)的顶部安装有顶盖(17),承片架(12)和顶盖(17)的外表面均安装有连接板(18),且两组连接板(18)交错分布。3.根据权利要求2所述的一种用于生产半导体器件蚀刻系统,其特征在于:所述连接套(14)的内部螺纹安装有连接杆(19),底座(1)的顶部安装有对称布置的支撑杆(20),且支撑杆(20)位于支撑柱(2)的两侧,其中一组支撑杆(20)的顶部安装有置物框(21),置物框(21)的一侧内壁通过轴件安装有往复丝杆(24),往复丝杆(24)的外表面滑动安装有滑套,滑套的外表面安装有第一置物箱(25),第一置物箱(25)的底壁安装有液压推杆(26),液压推杆(26)的输出端贯穿第一置物箱(25)的底壁安装有第二置物箱(27),第二置物箱(27)的底壁安装有转动电机(28),且转动电机(28)的输出端与连接杆(19)的顶端相连接。4.根据权利要求2所述的一种用于生产半导体器件蚀刻系统,其特征在于:所述储物箱(3)的一侧外壁贯穿安装有第一出液管(29)和第一进液管(30),且第一出液管(29)位于第一进液管(30)前方,保温层(4)的内表面安装有冷却箱(31),且冷却箱(31)的底部与其中一组鼓泡板(35)的顶部相接触,冷却箱(31)位于承片架(12)的外侧,冷却箱(31)的顶部安装有第二出液管(33)和第二进液管(32),且第二出液管(33)位于第二进液管(32)后方。5.根据权利要求1

4任意一项所述的一种用于生产半导体器件蚀刻系统,其特征在于:所述置物槽(7)和置物孔(8)的连接截面...

【专利技术属性】
技术研发人员:王黎明
申请(专利权)人:江苏晟驰微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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