一种摄像头模组测试治具及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种摄像头模组测试治具及系统，该摄像头模组测试治具包括治具本体，所述治具本体的底座或/和上盖上固定有加热装置以及测温装置，所述上盖上设有通光孔，与底座上定位的摄像头模组的镜头对应，所述上盖上固定有用于密封其通光孔的密封盖，所述密封盖的内侧固定有光源，光源发出的光通过上盖的通光孔到达摄像头模组的镜头。本测试治具温度可调，可根据不同客户要求，在不同温度下对产品进行密封测试，了解产品在不同环境下功能及性能是可以否保持正常。可以否保持正常。可以否保持正常。

【技术实现步骤摘要】
一种摄像头模组测试治具及系统


[0001]本专利技术属于摄像头模组测试
，具体涉及一种摄像头模组测试治具及系统。

技术介绍

[0002]目前模组行业所有生产环境均在恒温恒湿环境下进行生产、测试，无法确定产品在高温环境下是否保持功能正常，无法解析在高温环境下对产品性能是否有不利影响。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种摄像头模组测试治具及系统，该测试治具温度可调，可根据不同客户要求，在不同温度下对产品进行密封测试，了解产品在不同环境下功能及性能是可以否保持正常。
[0004]本专利技术是这样实现的：本专利技术公开了一种摄像头模组测试治具，包括治具本体，所述治具本体的底座或/和上盖上固定有加热装置以及测温装置，所述治具本体的上盖上设有通光孔，与底座上定位的摄像头模组的镜头对应，所述上盖上固定有用于密封其通光孔的密封盖，所述密封盖的内侧固定有光源，光源发出的光通过上盖的通光孔到达摄像头模组的镜头。
[0005]进一步地，所述治具本体的底座内固定有第一加热块，所述第一加热块上端设有用于对摄像头模组进行限位的限位凹槽，所述第一加热块上还设有用于对探针固定块进行限位的限位槽，所述限位槽上下贯穿第一加热块，探针固定块位于第一加热块的限位槽内，所述探针固定块上设有若干针孔，针孔内插有探针，探针一端用于与摄像头模组的连接器电连接，探针的另一端用于与底座下端固定的PCB板电连接；
[0006]所述第一加热块包括第一导热块本体以及设置在第一导热块本体内的第一电加热元件；第一导热块本体内设有第一测温仪，第一电加热元件、第一测温仪均设有用于与温控系统电连接的引出线。
[0007]进一步地，所述探针固定块上固定有针模，用于对摄像头模组的连接器进行支撑、限位；第一加热块的限位凹槽靠近限位槽的一侧设置开口，使限位凹槽与针模的限位槽连通。
[0008]进一步地，所述底座上设有上下贯穿底座的加热块容置槽，所述第一加热块镶嵌固定在底座的加热块容置槽内。
[0009]进一步地，所述第一加热块的下端设有第一隔热板，所述第一隔热板上设有通孔，与第一加热块上的通孔连通，用于供探针固定块嵌入。
[0010]进一步地，所述治具本体的上盖内固定有第二加热块，所述第二加热块的下端面固定有用于压紧摄像头模组的连接器的压块，当底座与上盖合盖时，所述压块与探针固定块上下对应；所述第二加热块的下端面固定有用于对摄像头模组本体进行限位的限位块，所述限位块设有上下贯穿限位块的通光孔，限位块的通光孔与第二加热块上设有的通光孔
连通，第二加热块的通光孔与上盖的通光孔连通；当底座与上盖合盖时，所述限位块的通光孔与摄像头模组的镜头上下对应；
[0011]所述第二加热块包括第二导热块本体以及设置在第二导热块本体内的第二电加热元件；第二导热块本体内设有第二测温仪，第二电加热元件、第二测温仪均设有用于与温控系统电连接的引出线；
[0012]所述第二加热块的下端设有用于安装压块和限位块的凹槽，第二加热块上设有的通光孔设置在其凹槽区域。
[0013]进一步地，所述上盖包括上盖本体和第二隔热板，所述第二隔热板固定在上盖本体上端，形成上盖，所述上盖本体设有上下贯穿上盖本体的加热块容置槽，所述第二加热块镶嵌固定在上盖本体的加热块容置槽内；所述第二隔热板上设有通光孔，与第二加热块上设有的通光孔连通，用于供光源的光通过。
[0014]第二隔热板与上盖本体固定连接，第二加热块通过螺钉与第二隔热板固定连接。
[0015]进一步地，所述密封盖的内腔与上盖的通光孔连通；光源设有引出密封盖内腔的引出线；光源通过引出线光源控制系统电连接。
[0016]密封盖不透光。本实施例的密封盖具有环上盖的通光孔设置的侧壁以及固定在侧壁上端的密封板。光源固定在密封板的下端。光源为LED灯珠。
[0017]进一步地，所述治具本体的上盖与底座铰接，上盖与底座之间设有合盖装置。
[0018]本专利技术公开了一种摄像头模组测试治具，包括治具本体，所述治具本体的上盖上设有通光孔，与底座上定位的摄像头模组的镜头对应，所述上盖上固定有用于密封其通光孔的密封盖，所述密封盖的内侧固定有光源，光源发出的光通过上盖的通光孔到达摄像头模组的镜头。
[0019]本专利技术公开了一种摄像头模组测试系统，包括计算机、测试盒、光源控制系统以及如上所述的摄像头模组测试治具，摄像头模组测试治具内的光源与光源控制系统电连接，所述摄像头模组测试治具上定位的摄像头模组通过PCB板与测试盒电连接，所述测试盒通过通信线缆与计算机连接。
[0020]所述测试盒内设有测试主板，所述测试盒设有排母，与测试主板电连接，所述测试治具位于测试盒上，所述测试治具固定在PCB板的上端面，所述PCB板的下端面固定有排针，所述PCB板下端的排针插入测试盒的排母中，摄像头模组定位在测试治具上，通过若干探针与PCB板上的探针焊盘电连接，所述PCB板上的探针焊盘与排针对应电连接。
[0021]本专利技术具有如下有益效果：本专利技术的治具具备加热功能以及温度监控功能，使该测试治具温度可调，可根据不同客户要求，在不同温度下对产品进行密封测试，了解产品在不同环境下功能及性能是可以否保持正常。
[0022]且本专利技术的底座和上盖各配置加热管以及高灵敏智能控温器和温度测量仪，可控制治具温度的精准，加热块上下有隔热板装置，有效隔热防止操作人员烫伤。
[0023]本专利技术的上盖上设有通光孔，与底座上定位的摄像头模组的镜头对应，所述上盖上固定有用于密封其通光孔的密封盖，通过设置密封盖，可以使治具内处于密封状态，保温效果较好。所述密封盖的内侧固定有光源，光源发出的光通过上盖的通光孔到达摄像头模组的镜头。当治具合盖后，上盖内部配置LED灯珠亮起时，如果产品没有问题，则电脑屏幕上可显示亮点，如果产品有问题，则电脑屏幕上不会显示亮点。
附图说明
[0024]图1为本专利技术一种实施例提供的具有模仿高温环境功能的摄像头模组测试治具在合盖后的结构示意图；
[0025]图2为本专利技术一种实施例提供的具有模仿高温环境功能的摄像头模组测试治具在开盖后的结构示意图；
[0026]图3为本专利技术一种实施例提供的第一加热块的结构示意图；
[0027]图4为本专利技术一种实施例提供的第二加热块的结构示意图；
[0028]图5为本专利技术一种实施例提供的底座的结构示意图；
[0029]图6为本专利技术一种实施例提供的上盖的结构示意图。
[0030]附图中，1为底座，1
‑
1为底座的加热块容置槽，2为上盖，2
‑
1为上盖的加热块容置槽，3为PCB板，4为第一加热块，41为第一电加热元件的引出线，42为第一测温仪的引出线，43为限位凹槽，5为探针固定块，6为针模，7为第一隔热板，8为第二加热块，81为第二电加热元件的引出线，82为第二测温仪的引出线，9为压块，10为限位块，11为螺钉，12为第二隔热板，13为密封盖，14为光源的引出线。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种摄像头模组测试治具，包括治具本体，其特征在于：所述治具本体的底座或/和上盖上固定有加热装置以及测温装置，所述治具本体的上盖上设有通光孔，与底座上定位的摄像头模组的镜头对应，所述上盖上固定有用于密封其通光孔的密封盖，所述密封盖的内侧固定有光源，光源发出的光通过上盖的通光孔到达摄像头模组的镜头。2.根据权利要求1所述的摄像头模组测试治具，其特征在于：所述治具本体的底座内固定有第一加热块，所述第一加热块上端设有用于对摄像头模组进行限位的限位凹槽，所述第一加热块上还设有用于对探针固定块进行限位的限位槽，所述限位槽上下贯穿第一加热块，探针固定块位于第一加热块的限位槽内，所述探针固定块上设有若干针孔，针孔内插有探针，探针一端用于与摄像头模组的连接器电连接，探针的另一端用于与底座下端固定的PCB板电连接；所述第一加热块包括第一导热块本体以及设置在第一导热块本体内的第一电加热元件；第一导热块本体内设有第一测温仪，第一电加热元件、第一测温仪均设有用于与温控系统电连接的引出线。3.根据权利要求2所述的摄像头模组测试治具，其特征在于：所述探针固定块上固定有针模，用于对摄像头模组的连接器进行支撑、限位；第一加热块的限位凹槽靠近限位槽的一侧设置开口，使限位凹槽与针模的限位槽连通。4.根据权利要求2所述的摄像头模组测试治具，其特征在于：所述底座上设有上下贯穿底座的加热块容置槽，所述第一加热块镶嵌固定在底座的加热块容置槽内。5.根据权利要求2所述的摄像头模组测试治具，其特征在于：所述第一加热块的下端设有第一隔热板，所述第一隔热板上设有通孔，与第一加热块上的通孔连通，用于供探针固定块嵌入。6.根据权利要求1所述的摄像头模组测试治具，其特征在于：所述治具本体的上盖内固定有第二加热块，所述第二加热块的下端面固定有用于压紧摄像头模组的连接器的压块，当底座与上盖合盖时，所述压块与探针固定块上下对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴红，刘正，张雄，王环环，
申请(专利权)人：湖北三赢兴光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：