一种快速识别IR组件脏污位面的检测方法技术

本发明专利技术提出了一种快速识别IR组件脏污位面的检测方法，该方法包括以下步骤：S1、对包含有I R组件的摄像头模组进行拆解；S2、将拆解后的镜头和I R组件放置在显微镜下观察；S3、观察I R组件上是否存在脏污，并进一步观察脏污是否有红色辉光；S4、确定脏污在I R组件上的位面。该检测方法将光谱原理与模组工艺特性结合，利用I R截止滤光片的吸收特性：透射可见光、吸收红外光，将I R组件放置在显微镜下观察时通过脏污显示的颜色可以快速锁定脏污位面。该检测方法只需要去掉摄像头模组的镜头，不需要再高温加热拆解I R组件，节约分析时间，提升摄像头模组不良品分析效率，减少非必要拆解和造成的产品报废，为高效锁定不良位面提升良率的改善方向提供保障。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及镜头检测，特别一种快速识别ir组件脏污位面的检测方法。

技术介绍

1、摄像模组又称为摄像头模组，当前，摄像模组已成为智能手机等消费电子终端产品中必不可少的内置部件。随着人们生活品质的提高，以及科技的逐步发展，人们对于摄像拍照的品质的要求越来越高。相应的，手机市场的发展趋势要求摄像模组具有大像素、大光圈和小型化等诸多特性，这给摄像模组的组装和质检都带来了难题。

2、现有的摄像头模组的生产制造过程中，容易产生污点(即影像中存在的成型的黑点)，由于摄像头模组中的污点会影响摄像头模组成像品质异常，因此需要对生产的摄像头模组进行分析和质检，以保证摄像头的品质。

3、不良品分析工程师在对pog模组(含ir组件)进行fa拆解分析总是要扭下镜头，然后在光学显微镜下进行观察，发现有脏污在ir片位置，但是位面不清晰，则需要进一步拆解ir组件，拆解ir组件要用到加热台，拆解过程中有可能会造成ir组件产品的报废，且检测分析效率低。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种快速识别ir组件脏本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种快速识别IR组件脏污位面的检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的快速识别IR组件脏污位面的检测方法，其特征在于：所述IR组件包括IR截止滤光片，所述IR截止滤光片的截止波长为600nm-700nm。

3.根据权利要求1所述的快速识别IR组件脏污位面的检测方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：使用调焦环轻轻扭开摄像头模组的镜头，扭镜头时可以将模组的基板面与工作台面保持垂直方向。

4.根据权利要求1所述的快速识别IR组件脏污位面的检测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：

5.根据权利要求2所述的快速...

【技术特征摘要】

1.一种快速识别ir组件脏污位面的检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的快速识别ir组件脏污位面的检测方法，其特征在于：所述ir组件包括ir截止滤光片，所述ir截止滤光片的截止波长为600nm-700nm。

3.根据权利要求1所述的快速识别ir组件脏污位面的检测方法，其特征在于，所述步骤s1具体包括：使用调焦环轻轻扭开摄像头模组的镜头，扭镜头时可以将模组的基板面与工作台面保持垂直方向。

【专利技术属性】
技术研发人员：何其三，黎作伟，
申请(专利权)人：湖北三赢兴光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：

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