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本发明提出了一种快速识别IR组件脏污位面的检测方法，该方法包括以下步骤：S1、对包含有I R组件的摄像头模组进行拆解；S2、将拆解后的镜头和I R组件放置在显微镜下观察；S3、观察I R组件上是否存在脏污，并进一步观察脏污是否有红色辉光；S...
该专利属于湖北三赢兴光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖北三赢兴光电科技股份有限公司授权不得商用。

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