本实用新型专利技术涉及测试针加工技术领域，且公开了一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，包括加工底板，所述加工底板的上表面固定安装有龙门架，所述龙门架的上表面固定安装有十字稳定架，所述十字稳定架的上表面设有可滑动的滑动横板，所述滑动横板的上表面固定安装有稳定立板，所述稳定立板的内侧面固定安装有弹性夹持装置。该晶圆测试针加工的高精密加工装置，通过控制转动圆盘带动稳定立板和挤压杆向内移动在挤压弹簧柱弹力的作用下带动弧形夹持架对测试针进行夹持固定，对测试针具有更好的夹持固定效果，能够更加快速高效的对测试针进行夹持操作，有利于更好的对测试针进行加工操作，进一步提高了使用的便利性。进一步提高了使用的便利性。进一步提高了使用的便利性。
【技术实现步骤摘要】
一种晶圆测试针加工的高精密加工装置
[0001]本技术涉及测试针加工技
，具体为一种晶圆测试针加工的高精密加工装置。
技术介绍
[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，半导体行业所使用的一种测试针，属于一种高端精密型的电子元件，主要应用于电子产品的测试；目前现有的测试针加工装置一般是直接将测试针固定在夹板上进行加工操作；现有的测试针加工装置在使用时对测试针夹持的稳定性较差，难以更加快速高效的对测试针进行夹持操作，不利于更好的对测试针进行加工操作，降低了使用的便利性。
技术实现思路
[0003](一)解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005](二)技术方案
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，包括加工底板，所述加工底板的上表面固定安装有龙门架，所述龙门架的上表面固定安装有十字稳定架，所述十字稳定架的上表面设有可滑动的滑动横板，所述滑动横板的上表面固定安装有稳定立板，所述稳定立板的内侧面固定安装有弹性夹持装置，所述稳定立板内侧面的底部固定安装有延伸横板，所述延伸横板的上表面设有可滑动的滑动支架，所述滑动支架的顶部设有可转动的联动杆，所述滑动支架的内侧面固定安装有夹持弧板，所述十字稳定架的上表面设有可转动的转动圆盘。
[0007]优选的，所述龙门架顶部内壁固定安装有电动推杆，电动推杆的输出端固定安装有钻头。
[0008]优选的，所述弹性夹持装置包括固定安装在稳定立板内侧面顶部的固定支架，固定支架的内侧设有可转动的挤压杆，挤压杆的内侧设有可转动的弧形夹持架，弧形夹持架的外侧面固定安装有与稳定立板的内侧面相连接的挤压弹簧柱，弧形夹持架的外侧面固定安装有稳定轴，稳定轴的外表面设有可转动的推动杆，推动杆的底部可转动的设有与稳定立板的内侧面相互滑动的移动支架并与联动杆的顶部转动连接。
[0009]优选的，所述十字稳定架的上表面开设有T形滑槽，T形滑槽的尺寸与滑动横板的尺寸相适配。
[0010]优选的，所述转动圆盘的上表面开设有弧形通孔，滑动横板的上表面固定安装有
移动柱，弧形通孔与移动柱相适配。
[0011]优选的，所述十字稳定架的上表面开设有转动滑槽，转动圆盘的下表面固定安装有转动滑块，转动滑槽与转动滑块转动连接。
[0012]优选的，所述挤压杆的数量为八组，八组挤压杆的中部均贯穿有连接轴。
[0013]优选的，所述稳定立板内侧面的中部开设有稳定滑槽，移动支架的外侧面固定安装有稳定滑块，稳定滑槽与稳定滑块滑动连接。
[0014]优选的，所述夹持弧板和弧形夹持架的内侧面均固定安装有防滑凸块。
[0015]优选的，所述延伸横板的上表面开设有移动滑槽，滑动支架的下表面固定安装有移动滑块，移动滑槽与移动滑块相适配。
[0016](三)有益效果
[0017]与现有技术相比，本技术提供了一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，具备以下有益效果：
[0018]1、该晶圆测试针加工的高精密加工装置，通过控制转动圆盘带动稳定立板和挤压杆向内移动在挤压弹簧柱弹力的作用下带动弧形夹持架对测试针进行夹持固定，对测试针具有更好的夹持固定效果，能够更加快速高效的对测试针进行夹持操作，有利于更好的对测试针进行加工操作，进一步提高了使用的便利性。
[0019]2、该晶圆测试针加工的高精密加工装置，通过弧形夹持架和推动杆在移动时带动联动杆和滑动支架推动夹持弧板向内移动对测试针进行辅助夹持固定操作，进一步提高了对测试针的夹持固定效果，便于更好的对测试针进行加工操作，有效提高了对测试针的加工质量，便于更好的进行使用。
[0020]3、该晶圆测试针加工的高精密加工装置，通过电动推杆带动钻头向下移动对被固定的测试针进行加工操作，便于更好的对测试针进行加工操作，便于操作人员更加高效的对测试针进行加工，有助于提高对测试针的加工质量，有助于更好的进行加工操作。
附图说明
[0021]图1为本技术结构示意图；
[0022]图2为本技术局部结构示意图；
[0023]图3为本技术弹性夹持装置结构分解示意图。
[0024]图中：1、加工底板；2、龙门架；3、十字稳定架；4、滑动横板；5、稳定立板；6、弹性夹持装置；601、固定支架；602、挤压杆；603、弧形夹持架；604、挤压弹簧柱；605、稳定轴；606、推动杆；607、移动支架；7、延伸横板；8、滑动支架；9、联动杆；10、夹持弧板；11、转动圆盘；12、电动推杆；13、钻头。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1
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3，本技术提供一种技术方案：一种晶圆测试针加工的高精密加工
装置，包括加工底板1，加工底板1的上表面固定安装有龙门架2，龙门架2的上表面固定安装有十字稳定架3，十字稳定架3的上表面设有可滑动的滑动横板4，滑动横板4的上表面固定安装有稳定立板5，稳定立板5的内侧面固定安装有弹性夹持装置6，稳定立板5内侧面的底部固定安装有延伸横板7，延伸横板7的上表面设有可滑动的滑动支架8，滑动支架8的顶部设有可转动的联动杆9，滑动支架8的内侧面固定安装有夹持弧板10，十字稳定架3的上表面设有可转动的转动圆盘11，为了便于进行加工操作，从而龙门架2顶部内壁固定安装有电动推杆12，电动推杆12的具体型号为LAP22，电动推杆12的输出端固定安装有钻头13，通过电动推杆12带动钻头13向下移动对被固定的测试针进行加工操作，便于更好的对测试针进行加工操作，便于操作人员更加高效的对测试针进行加工，有助于提高对测试针的加工质量，有助于更好的进行加工操作。
[0027]在本技术中为了便于进行稳定的夹持，从而弹性夹持装置6包括固定安装在稳定立板5内侧面顶部的固定支架601，固定支架601的内侧设有可转动的挤压杆602，挤压杆602的内侧设有可转动的弧形夹持架603，弧形夹持架603的外侧面固定安装有与稳定立板5的内侧面相连接的挤压弹簧柱604，通过控制转动圆盘11带动稳定立板5和挤压杆602向内移动在挤压弹簧柱604弹力的作用下带动弧形夹持架603对测试针进行夹持固定，对测试针具有更好的夹持固定效果，能够更加快速高效的对测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，包括加工底板(1)，其特征在于：所述加工底板(1)的上表面固定安装有龙门架(2)，所述龙门架(2)的上表面固定安装有十字稳定架(3)，所述十字稳定架(3)的上表面设有可滑动的滑动横板(4)，所述滑动横板(4)的上表面固定安装有稳定立板(5)，所述稳定立板(5)的内侧面固定安装有弹性夹持装置(6)，所述稳定立板(5)内侧面的底部固定安装有延伸横板(7)，所述延伸横板(7)的上表面设有可滑动的滑动支架(8)，所述滑动支架(8)的顶部设有可转动的联动杆(9)，所述滑动支架(8)的内侧面固定安装有夹持弧板(10)，所述十字稳定架(3)的上表面设有可转动的转动圆盘(11)。2.根据权利要求1所述的一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，其特征在于：所述龙门架(2)顶部内壁固定安装有电动推杆(12)，电动推杆(12)的输出端固定安装有钻头(13)。3.根据权利要求1所述的一种晶圆测试针加工的高精密加工装置，其特征在于：所述弹性夹持装置(6)包括固定安装在稳定立板(5)内侧面顶部的固定支架(601)，固定支架(601)的内侧设有可转动的挤压杆(602)，挤压杆(602)的内侧设有可转动的弧形夹持架(603)，弧形夹持架(603)的外侧面固定安装有与稳定立板(5)的内侧面相连接的挤压弹簧柱(604)，弧形夹持架(603)的外侧面固定安装有稳定轴(605)，稳定轴(605)的外表面设有可转动的推动杆(606)，推动杆(606)的底部可转动的设有与稳定...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗强，
申请(专利权)人：湖北熙之翼电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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