多功能自适应芯片测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多功能自适应芯片测试夹具，包括下述部分结构：滑动杆上设有弹簧，滑动杆底部插入绝缘固定块的上侧，绝缘固定块的侧面设有4条位置标线，门极测试笔从绝缘固定块最右侧的位置标线处下端穿过，其上连接门极引出线，可伸缩阴极测试笔从绝缘固定块最左侧的位置标线处下端穿过，其上连接阴极引出线，阳极测试板、阳极绝缘底块依次在芯片下方到底板之间排列，阳极引出线从阳极绝缘底块侧面引出。本实用新型专利技术测试笔与底块是一体式的，位置找好后，就可以让夹具固定好测试笔，这样就可以保证测试的连续性。可以快速筛选大量合格芯片，由于固定了测试点，因而提高了准确率。因而提高了准确率。因而提高了准确率。

【技术实现步骤摘要】
多功能自适应芯片测试夹具


[0001]本技术属于少子寿命测试领域，涉及多功能自适应芯片测试夹具，特别涉及带底座的测试夹具。

技术介绍

[0002]原有测试时，采用的是测试笔与底座相分离的方式，在操作时必须找好位置后，而且必须用手去固定住测试笔，由于手偶尔会动一下，就会导致测试中断，同时显示的数值就不是要求的测试值。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的缺陷，本技术提供多功能自适应芯片测试夹具。
[0004]本技术的技术解决方案是：多功能自适应芯片测试夹具，包括底块、夹块、立柱、横柱、握头、滑动杆、弹簧、力度调节挡块、绝缘固定块、位置标线、门极测试笔、门极引出线、阴极引出线、可伸缩阴极测试笔、阳极测试板、阳极绝缘底块、阳极引出线，底块和立柱通过夹块进行固定，立柱顶部设有横柱，横柱一端设有滑动杆，滑动杆的顶端设有握头，滑动杆上设有弹簧，弹簧底部滑动杆上设有力度调节挡块，滑动杆底部插入绝缘固定块的上侧，绝缘固定块的侧面设有4条位置标线，门极测试笔从绝缘固定块最右侧的位置标线处下端穿过，其上连接门极引出线，可伸缩阴极测试笔从绝缘固定块最左侧的位置标线处下端穿过，其上连接阴极引出线，阳极测试板、阳极绝缘底块依次在芯片下方到底板之间排列，阳极引出线从阳极绝缘底块侧面引出。
[0005]本技术的有益效果为：本技术测试笔与底块是一体式的，位置找好后，就可以让夹具固定好测试笔，这样就可以保证测试的连续性。可以快速筛选大量合格芯片，由于固定了测试点，因而提高了准确率。
[0006]本技术弹簧可以加强测试笔的固定。
附图说明
[0007]图1是本技术的结构示意图。
[0008]图中标注说明如下：
[0009]1：底座；2：夹块；3：螺母；4：螺杆；5：螺母；6：螺杆；7：立柱；8：螺母；9：螺杆；10：横柱；11：握头；12：滑动杆；13：弹簧；14：力度调节挡块；15：固定螺母；16：绝缘固定块；17：位置标线；18：门极测试笔；19：门极引出线；20：阴极引出线；21：可伸缩阴极测试笔；22：阳极测试板；23：阳极绝缘底块；24：阳极引出线。
具体实施方式
[0010]为了更清楚地说明本技术的技术方案，下面结合附图，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限
定本技术。
[0011]本技术提供多功能自适应芯片测试夹具，其结构如图1所示。用夹块2把底块1和立柱7进行固定，在夹块2上安装水平方向的螺母3、螺杆4，竖直方向的螺母5、螺杆6。在横柱10与立柱7的交接处上方安装螺母8、螺杆9。握头11位于滑动杆12的顶端。弹簧13套在滑动杆12上，并使用力度调节挡块14卡住弹簧13，用固定螺母15固定弹簧下端位置。把滑动杆12插入绝缘固定块16的上侧，在绝缘固定块16的侧面划出4条位置标线17。将门极测试笔18从绝缘固定块16最右侧的位置标线17处下端穿过，其上连接门极引出线19。将可伸缩阴极测试笔21从绝缘固定块16最左侧的位置标线17处下端穿过，其上连接阴极引出线20。上述两位置标线17可以根据芯片门极和阴极位置进行调整。在绝缘固定块16上的位置标线处从上而下设有与测试笔直径相匹配的通孔，可以随意组合门极测试笔18和可伸缩阴极测试笔21，根据芯片尺寸大小，插入到间隔较大的两个孔或者相邻的两个孔。阳极测试板22、阳极绝缘底块23依次在芯片下方到底板之间排列。阳极引出线24从阳极绝缘底块侧面引出。
[0012]本技术测试夹具的具体工作过程：根据芯片尺寸大小，把门极测试笔18和可伸缩阴极测试笔21插入到绝缘固定块16上的两个上下通孔中，此时门极测试笔18与可伸缩阴极测试笔21的间距在门极和阴极面边缘的间距之内，提起握头11，将芯片放置在阳极测试板22上面，在降低握头11的过程中，挪动芯片使门极测试笔18的笔尖接触在芯片的门极上，而可伸缩阴极测试笔21的笔尖则接触在阴极面上，按动测试按钮，等出结果后提起握头11，取出芯片，放入下一片，循环往复直至测试完毕。
[0013]结论
[0014]根据实际装配和测试实验，针对多功能自适应芯片测试夹具，测试方法合理、可靠，能够稳定地在大量芯片中进行合格品的筛选，已经应用于西安派瑞功率半导体变流技术股份有限公司的多功能自适应芯片测试夹具可以在少子寿命方面对芯片进行快速地测试并下传，取得了很好的效果。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.多功能自适应芯片测试夹具，包括底块(1)、夹块(2)、立柱(7)、横柱(10)、握头(11)、滑动杆(12)、弹簧(13)、力度调节挡块(14)、绝缘固定块(16)、位置标线(17)、门极测试笔(18)、门极引出线(19)、阴极引出线(20)、可伸缩阴极测试笔(21)、阳极测试板(22)、阳极绝缘底块(23)、阳极引出线(24)，其特征在于：底块(1)和立柱(7)通过夹块(2)进行固定，立柱(7)顶部设有横柱(10)，横柱(10)一端设有滑动杆(12)，滑动杆(12)的顶端设有握头(11)，滑动杆(12...

【专利技术属性】
技术研发人员：王旭梅，廉龙飞，张璐，张天明，刘思江，韩薇，
申请(专利权)人：西安派瑞功率半导体变流技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：