本实用新型专利技术公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板上侧壁固定连接有两个支撑板，所述底板上设有两个移动板，所述底板上设有夹持机构，所述夹持机构包括横板，所述横板上侧壁固定连接有电机，所述电机的输出轴固定连接有转杆，所述转杆右端固定连接有第一齿轮，位于左侧的所述支撑板侧壁转动连接有双头螺纹杆，所述双头螺纹杆侧壁固定连接有第二齿轮，两个所述移动板均与双头螺纹杆侧壁螺纹连接。本实用新型专利技术实现对芯片夹持与固定，防止在对芯片进行测试时芯片发生移动，还能够使两个移动板相互靠近的速度较慢，使员工可以根据芯片的尺寸缓慢调节两个移动板之间的距离，还能避免移动板因移动过快将芯片夹坏。坏。坏。
【技术实现步骤摘要】
一种带限位结构的芯片测试装置
[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
技术介绍
[0002]芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。
[0003]现有的芯片测试由于没有对芯片进行固定，使得芯片在测试过程中会因为探针的触碰发生偏移，需要员工一直注意芯片的位置，增加了员工的工作量，为了解决上述问题，需要设计一种带限位结构的芯片测试装置。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板上侧壁固定连接有两个支撑板，所述底板上设有两个移动板，所述底板上设有夹持机构，所述夹持机构包括横板，所述横板上侧壁固定连接有电机，所述电机的输出轴固定连接有转杆，所述转杆右端固定连接有第一齿轮，位于左侧的所述支撑板侧壁转动连接有双头螺纹杆，所述双头螺纹杆侧壁固定连接有第二齿轮，两个所述移动板均与双头螺纹杆侧壁螺纹连接。
[0007]优选地，两个所述支撑板的相对侧壁共同固定连接有限位杆，所述限位杆贯穿两个移动板侧壁。
[0008]优选地，两个所述移动板的相对侧壁均设有凹槽，两个所述凹槽均为弧形结构。
[0009]优选地，两个所述凹槽侧壁均固定连接有缓冲垫，两个所述缓冲垫均由橡胶制成。
[0010]优选地，所述双头螺纹杆贯穿位于左侧的支撑板侧壁，所述双头螺纹杆与支撑板的贯穿处通过轴承转动连接。
[0011]优选地，所述第一齿轮与第二齿轮啮合，所述第一齿轮的直径小于第二齿轮的直径。
[0012]本技术具有以下有益效果：
[0013]1、本技术通过电机带动第一齿轮转动，从而带动第二齿轮转动，从而带动双头螺纹杆转动，从而带动两个移动板相互靠近，实现对芯片夹持与固定，防止在对芯片进行测试时芯片发生移动；
[0014]2、本技术中，由于第一齿轮的直径远小于第二齿轮的直径，使得第二齿轮转速较慢，从而使得两个移动板相互靠近的速度较慢，员工可以根据芯片的尺寸缓慢调节两个移动板之间的距离，还能避免移动板因移动过快将芯片夹坏。
附图说明
[0015]图1为本技术提出的一种带限位结构的芯片测试装置的结构示意图；
[0016]图2为本技术提出的一种带限位结构的芯片测试装置的A
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A向截面图。
[0017]图中：1底板、2支撑板、3横板、4电机、5转杆、6第一齿轮、7第二齿轮、8双头螺纹杆、9移动板、10凹槽、11缓冲垫、12限位杆。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0019]参照图1
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2，一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板1，底板1上侧壁固定连接有两个支撑板2，底板1上设有两个移动板9，两个移动板9的相对侧壁均设有凹槽10，两个凹槽10均为弧形结构，两个凹槽10侧壁均固定连接有缓冲垫11，两个缓冲垫11均由橡胶制成，防止芯片被移动板9夹坏。
[0020]底板1上设有夹持机构，夹持机构包括横板3，横板3与右侧支撑板2上侧壁固定连接，横板3上侧壁固定连接有电机4，电机4的输出轴固定连接有转杆5，转杆5右端固定连接有第一齿轮6，位于左侧的支撑板2侧壁转动连接有双头螺纹杆8，双头螺纹杆8贯穿位于左侧的支撑板2侧壁，双头螺纹杆8与支撑板2的贯穿处通过轴承转动连接，双头螺纹杆8侧壁固定连接有第二齿轮7，第一齿轮6与第二齿轮7啮合，第一齿轮6的直径小于第二齿轮7的直径，第一齿轮6转动数圈才能带动第二齿轮7转动一圈，两个移动板9均与双头螺纹杆8侧壁螺纹连接，两个支撑板2的相对侧壁共同固定连接有限位杆12，限位杆12贯穿两个移动板9侧壁，确保两个移动板9只能移动。
[0021]本技术可通过以下操作方式阐述其功能原理：使用时，启动电机4，电机4带动转杆5转动，从而带动第一齿轮6转动，从而带动第二齿轮7转动，从而带动双头螺纹杆8转动，从而带动两个移动板9相互靠近，能够实现对芯片的夹持与固定，并且，由于第一齿轮6直径小于第二齿轮7的直径，使得第二齿轮7转动速度较慢，从而使得双头螺纹杆8的转速较慢，两个移动板9相互靠近的速度也较慢，员工可以根据芯片的尺寸对两个移动板9之间的距离进行调整，还能防止移动板9移动过快将芯片夹坏。
[0022]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上侧壁固定连接有两个支撑板(2)，所述底板(1)上设有两个移动板(9)，所述底板(1)上设有夹持机构，所述夹持机构包括横板(3)，所述横板(3)上侧壁固定连接有电机(4)，所述电机(4)的输出轴固定连接有转杆(5)，所述转杆(5)右端固定连接有第一齿轮(6)，位于左侧的所述支撑板(2)侧壁转动连接有双头螺纹杆(8)，所述双头螺纹杆(8)侧壁固定连接有第二齿轮(7)，两个所述移动板(9)均与双头螺纹杆(8)侧壁螺纹连接。2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个所述支撑板(2)的相对侧壁共同固定连接有限位杆(12)，所述限位杆(12)贯穿两个移动板(9...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈宗廷，陈建光，
申请(专利权)人：深圳市耀星微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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