产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：根据模板图像的纹理边界对所述模板图像进行连通域分析，得到所述模板图像的各个连通区域；基于各个连通区域中每个像素点的灰度值得到各个连通区域的检测超差阈值；根据各个连通区域的位置信息以及各个连通区域的检测超差阈值生成模板阈值图；基于所述模板阈值图对产品图像进行缺陷检测，得到检测结果。通过本发明专利技术，解决了现有技术中检测产品表面缺陷的人工成本较高，且检测结果不够精确的问题。测结果不够精确的问题。测结果不够精确的问题。

【技术实现步骤摘要】
产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及缺陷检测
，尤其涉及一种产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]AOI（Automated Optical Inspection，自动光学检测），是基于光学原理对工业生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。传统的AOI检测产品表面缺陷时，需要用户手动设置检测区域，遇到复杂的纹理区域则很难准确划分检测区域，且每个检测区域的检测阈值凭借人工经验设置，导致检测产品表面缺陷的人工成本较高，且检测结果不够精确。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中检测产品表面缺陷的人工成本较高，且检测结果不够精确的问题。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种产品缺陷检测方法，所述产品缺陷检测方法包括：根据模板图像的纹理边界对所述模板图像进行连通域分析，得到所述模板图像的各个连通区域；基于各个连通区域中每个像素点的灰度值得到各个连通区域的检测超差阈值；根据各个连通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品缺陷检测方法，其特征在于，所述产品缺陷检测方法包括：根据模板图像的纹理边界对所述模板图像进行连通域分析，得到所述模板图像的各个连通区域；基于各个连通区域中每个像素点的灰度值得到各个连通区域的检测超差阈值；根据各个连通区域的位置信息以及各个连通区域的检测超差阈值生成模板阈值图；基于所述模板阈值图对产品图像进行缺陷检测，得到检测结果。2.如权利要求1所述的产品缺陷检测方法，其特征在于，所述基于各个连通区域中每个像素点的灰度值得到各个连通区域的检测超差阈值的步骤，包括：获取各个连通区域中每个像素点的灰度值并基于3sigma原则剔除异常灰度值；根据各个连通区域中剩余的每个像素点的灰度值，确定各个连通区域中同一灰度值的个数；根据各个连通区域中同一灰度值的个数和所述模板图像的宽、高以及灰度等级，计算得到各个连通区域中同一灰度值的频率；基于各个连通区域中同一灰度值的频率，计算得到各个连通区域的检测超差阈值。3.如权利要求2所述的产品缺陷检测方法，其特征在于，所述基于各个连通区域中同一灰度值的频率，计算得到各个连通区域的检测超差阈值的步骤，包括：基于各个连通区域中同一灰度值的频率，得到各个连通区域的灰度直方图；基于灰度直方图，计算得到各个连通区域的检测超差阈值。4.如权利要求3所述的产品缺陷检测方法，其特征在于，所述基于灰度直方图，计算得到各个连通区域的检测超差阈值的步骤，包括：基于灰度直方图分别获取每个连通区域中各个像素点的灰度值以及像素点的个数；分别将每个连通区域中各个像素点的灰度值以及像素点的个数代入第一预设公式，得到各个连通区域的检测超差阈值，第一预设公式如下：其中，为每个连通区域的检测超差阈值，为每个连通区域的灰度方差，，，n为每个连通区域内像素点的个数，表示每个连通区域内第n个像素点的灰度值。5.如权利要求1所述的产品缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述模板阈值图对产品图像进行缺陷检测，得到检测结果的步骤，包括：以产品图像中的任一最小重复单元图像作为待检测图像，根据待检测图像的纹理周期从产品图像中获取参考图像；对待检测图像进行预处理；计算预处理后的待检测图像中各个像素点的灰度值减去参考图像对应位置处的各个像素点的灰度值的第一差值，根据所述第一差值得到待检测图像与参考图像的第一差影
图；计算第一差影图中各个像...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙杰，杨义禄，张国栋，李波，
申请(专利权)人：武汉中导光电设备有限公司，
类型：发明
国别省市：