一种导电粒子压痕检测装置制造方法及图纸

技术编号:34564511 阅读:55 留言:0更新日期:2022-08-17 12:53
本实用新型专利技术公开了一种导电粒子压痕检测装置,包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件,所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动,所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降,所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。本实用新型专利技术提供由横移模组带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测,取代人力,排除人为参与对产品接触的不良影响,不会对产品造成损伤,减小劳动强度,节省成本。节省成本。节省成本。

【技术实现步骤摘要】
一种导电粒子压痕检测装置


[0001]本技术涉及光学检测
,具体涉及一种导电粒子压痕检测装置。

技术介绍

[0002]随着现代社会的高速发展,人们生活的丰富绚丽,满足人们生活的各种现代产品越来越多,其中电子产品占据了很大一部分,电子产品上的显示屏以液晶屏为主,液晶屏的使用效果直接体现在屏的品质上,品质体现在一道道加工及检测工艺中,目前绝大多数液晶盒玻璃和IC器件的连接都采用COG技术(晶粒

玻璃接合技术),在COG技术中主要是利用ACF(各向异性导电膜)进行连接,其粒子排列是否均匀决定了品质的高低,因此检测过程十分重要,目前对COG技术中的导电粒子检测主要为人工通过显微镜对热压后的粒子进行观察,判断压痕是否合格,导电粒子是否均匀,但是人工判断的主观性很大,人眼长时间观察出错的概率也极大,最主要的是产品的品质很难稳定掌控,品质一致性差。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种导电粒子压痕检测装置用于解决上述问题。
[0004]为实现上述目的,本技术采用以下技术方案:r/>[0005]一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导电粒子压痕检测装置,其特征在于:包括底座、横移模组、横移台、升降模组、安装基台、偏移检测组件及粒子检测组件,所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平线扫方向移动,所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降,所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述安装基台的上侧和下侧用于进行偏移检测和粒子检测。2.如权利要求1所述的一种导电粒子压痕检测装置,其特征在于:所述安装基台的上侧和下侧分别固设有上连接架和下连接架,所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述上连接架和下连接架上。3.如权利要求2所述的一种导电粒子压痕检测装置,其特征在于:所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机,所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置,所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上,所述偏移检测相机的检测镜头朝下。4.如权利要求3所述的一种导电粒子压痕检测装置,其特征在于:所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机,所述第二调节台固...

【专利技术属性】
技术研发人员:洪亚德林中龙王士奇
申请(专利权)人:厦门福信光电集成有限公司
类型:新型
国别省市:

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