可移动式紧缩场天线测量系统技术方案

一种天线测量系统，用于测量固定于基准面的待测天线辐射场型。天线测量系统包含多关节机器人、测量构件以及处理器。多关节机器人座设于基准面的周边，且其活动端部可以扫描由基准面定义的短距区域；测量构件配置于多关节机器人的活动端部，测量构件的正面为特定几何表面，用以面向待测天线进行辐射测量；处理器耦接至活动端部，用以控制活动端部带动测量构件相对于待测天线沿事先定义的扫描路径移动，并在沿扫描路径移动的过程中保持特定几何表面朝向待测天线。朝向待测天线。朝向待测天线。

【技术实现步骤摘要】
可移动式紧缩场天线测量系统


[0001]本专利技术关于一种天线辐射测量系统，尤其关于一种可针对实际测试需求而调整结构的天线辐射测量系统。

技术介绍

[0002]现有的天线辐射测量方式需要很大的空间作为测量场地，在毫米波频段要达到天线辐射远场测量距离须符合2D2/λ这项条件(其中D为待测件的尺寸(例如长度或宽度)、λ＝测量频率的波长)，如测量物件为8厘米长和8厘米宽，在28GHz测量频段距离需要至少2米，以现有的天线测量方式要满上述测量条件需要非常高的成本。
[0003]此外，在毫米波频段的天线测量时，需要馈入待测天线，并将其安置于一个旋转基座。当此基座旋转时，会对待测天线产生震动。对于以探针馈入机构进行测量的方式，震动易使探针折断。对于使用射频接头馈入机构进行测量的方式，震动会使得测量产生相当大的误差。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种可移动式紧缩场(compact
‑
range)天线测量系统，其适于短距测量的天线测量系统，亦避免待测天线的移动，以解决上述问题。
[0005本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线测量系统，用于测量固定于一基准面的一待测天线辐射，其特征在于，该天线测量系统包含：一多关节机器人，座设于该基准面的周边；一测量构件，配置于该多关节机器人的一活动端部，该测量构件包含一特定几何表面以及一馈入天线，该特定几何表面用以接收来自该馈入天线的信号，并且据以对该待测天线提供一入射信号；以及一处理器，耦接至该活动端部，用以控制该活动端部带动该测量构件相对于该待测天线沿一扫描路径移动，并在沿该扫描路径移动的过程中保持该特定几何表面朝向该待测天线。2.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为一碟形反射面，用以反射来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该馈入天线位于该碟形反射面与该待测天线之间。3.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为一透镜元件，用以聚焦来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该透镜元件位于该待测天线与该馈入天线之间。4.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为具有M
×
N个反射单元的反射矩阵，用以反射来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该馈入天线位于该反射矩阵与该待测天线之间，M、N为正整数。5.如权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，该特定几何表面为具有M
×
N个透射单元的透射矩阵，用以聚焦来自该馈入天线的信号以作为该入射信号，其中当该处理器控制该测量构件相对于该待测天线沿该扫描路径移动时，该透射矩阵位于该待测天线与该馈入天线之间，M、N为正整数。6.如权利要求2
‑
5任一项的天线测量系统，其特征在于，于进行测量时，该待测天线保持静止，该处理器控制该特定几何表面朝向该待测天线进行对应不同经...

【专利技术属性】
技术研发人员：周锡增，邱志伟，
申请(专利权)人：周锡增，
类型：发明
国别省市：