球面近场测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种球面近场测试系统及测试方法，属于天线测试技术领域，所述系统包括探头阵列、方位转台、接收机和控制分机，被测天线固定在方位转台上，接收机用以为被测天线提供信号，控制分机用以控制方位转台移动；探头阵列呈螺旋式结构，其包括多个微波探头，相邻所述微波探头在俯仰方向按照第一角度间隔Δ

【技术实现步骤摘要】
球面近场测试系统及测试方法


[0001]本专利技术涉及天线测试
，具体涉及一种球面近场测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]球面近场测试系统是一种用于测量天线辐射性能的系统，它通常由近场测试采样架与射频仪表子系统组成。球面近场测试系统可以分为单探头测试系统与多探头测试系统，单探头测试系统由单个微波探头完成整个球面空间的采样工作；多探头测试系统由多个微波探头加上矩阵开关完成整个球面空间的采样工作。相比于其它近场测试系统，球面近场能够得到立体空间的天线性能，测试范围更加广；同时由于其结构完全对称，容易实现探头补偿工作，更容易采用宽带探头；球面近场测试系统配合多个采样探头加电子开关切换可以提升天线测试速度一个数量级。
[0003]在现有多探头球面近场测试系统中，为了提升近场测试速度，使用多个具备相同电性能的探头组成探头阵列，探头阵列中的每一个探头在方位角度上都处于同一位置，在俯仰方向上等角度间隔排布，在每个方位角度上通过切换电子开关通道完成所有探头阵列的采样。
[0004]因此多探头球面近场测试系统在采样过程有两种工作模式本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种球面近场测试系统，其特征在于，所述系统包括探头阵列、方位转台、接收机和控制分机，被测天线固定在所述方位转台上，所述接收机/信号源用以为所述被测天线提供信号，所述控制分机用以控制所述方位转台移动；所述探头阵列呈螺旋式结构，其包括多个微波探头，相邻所述微波探头在俯仰方向按照第一角度间隔Δ
θ
排列、在方位方向按照第二角度间隔排列，排列，为固定角度间隔，度间隔，为角度最大可用采样间隔，N
p
为所述探头阵列中微波探头的数量。2.如权利要求1所述的球面近场测试系统，其特征在于，所述微波探头的数量满足如下公式：N≤N
p
*N
s
其中，N为第一角度测试点数量，N
s
为测试次数。3.如权利要求1所述的球面近场测试系统，其特征在于，所述第一角度间隔Δ
θ
满足如下公式：其中，θ
max
为探头阵列俯仰角度范围最大值。4.如权利要求1所述的球面近场测试系统，其特征在于，所述方位转台上开设有用于安装所述被测天线的安装孔，且所述方位转台包括旋转机构和升降机构，所述升降机构用于控制所述被测天线在竖直方向升降，所述旋转机构用于控制所述被测天线沿方位方向匀速旋转。5.如权利要求4所述的球面近场测试系统，其特征在于，所述探头阵列安装于旋转导轨，所述旋转导轨用于调节所述探头阵列中每个微波探头的俯仰角度。6.如权利要求1所述的球面近场测试系统，其特征在于，所述控制分机包括：参数设置模块，用于设置测试参数，所述测试参数包括测试系统的固定角度间隔和测试频率；采样时间获取模块，用于获取当前测试频率下接收机采样时间t
p
；采样...

【专利技术属性】
技术研发人员：张重阳，孔凡泉，黄文涛，盛永鑫，明章健，汪尊武，张再庆，陈旭，鲍房睿，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：发明
国别省市：