一种测量大型双反射面天线损耗的方法技术

本发明专利技术公开了一种测量大型双反射面天线损耗的方法。本发明专利技术首先利用射电源法测量大型双反射面天线的功率增益；然后用地球同步轨道静止卫星的信标，测量有限角域内的天线方位和俯仰功率方向图，利用数值积分的方法计算天线的方向性增益；最后由测量的天线功率增益和方向性增益，并考虑天线照射漏失修正、支撑遮挡修正、轴向交叉极化损失修正和失配修正，计算大型双反射面天线的损耗。本发明专利技术的方法简单可行，具有推广和应用价值。具有推广和应用价值。具有推广和应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种测量大型双反射面天线损耗的方法


[0001]本专利技术涉及双反射面天线，特别适用于大型双反射面天线损耗的测量。

技术介绍

[0002]随着卫星通信技术、射电天文技术和深空探测技术的发展，大型双反射面天线获得了广泛地应用。常见的双反射面天线形式有：卡塞格伦天线、环焦天线、格里高利天线和双偏置天线。双反射面天线一般由主反射面(也称主面)、副反射面(也称副面)和馈源网络等组成。表征双反射面天线性能参数有：天线增益、天线方向图、天线交叉极化、天线噪声温度和天线损耗等。天线损耗是天线的重要性能指标之一，天线损耗不仅降低了天线的功率增益，而且会增加系统噪声温度，从而降低天线接收系统的灵敏度。因此，精确测量双反射面天线损耗是非常重要的。天线损耗通常很小，测量起来很困难。目前，常采用馈源网络损耗，并计算金属反射面的欧姆损耗，来确定反射面天线的损耗。该方法忽略了反射面涂层和油漆的影响，因此其结果是近似的。该方法测量大型双反射面天线损耗存在以下局限性：
[0003]1、在传统的测量方法中，通过测量天线馈源网络损耗，并考虑金属反射面的欧姆损耗，忽略了反射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量大型双反射面天线损耗的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)测量天线的功率增益：通过测量大型双反射面天线指向射电源及其附近晴空的噪声功率之比的Y因子，利用下式计算天线的功率增益：式中：G―天线的功率增益，单位dBi；k―波尔兹曼常数，k＝1.38
×
10
‑
23
J/K；T―天线系统噪声温度，单位K；λ―工作波长，单位m；S―射电源的通量密度，单位Wm
‑2Hz
‑1；Y―测量的Y因子；K1―大气衰减修正系数，单位dB；K2―波束展宽修正系数，单位dB；(2)测量的天线方向性增益：利用卫星信标，测量天线的方位功率方向图P
AZ
(θ)和俯仰功率方向图P
EL
(θ)；测量角度范围为
±
θ
m
，θ
m
大于或等于5倍天线半功率波束宽度；利用下式计算天线方位和俯仰方向性增益：计算天线方位和俯仰方向性增益：式中：D
AZ
―天线方位方向性增益；D
EL
―天线俯仰方向性增益；(3)计算双反射面天线损耗：由测量天线功率增益、方向性增益，并考虑各种修正因子，利用下式计算大型双反射面天线损耗：式中：L
ant
—天线损耗，单位dB；δ
spillover
—天线照射漏失修正，单位dB；δ
strut
—天线支撑遮挡修正，单位dB；δ
cross
—天线轴向交叉极化损失修正，单位dB；δ
mis
—天线失配修正，单位dB；完成大型双反射面天线损耗的测量。2.根据权利要求1所述的一种测量大型双反射面天线损耗的...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦顺友，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十四研究所，
类型：发明
国别省市：