【技术实现步骤摘要】
一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置
[0001]本技术涉及电子元件检测
，具体是一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置。
技术介绍
[0002]电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点，电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上，电子元件也许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群组，电子元件在出厂前会进行冷热冲击测试，从而确保生产的质量。
[0003]在中国专利申请号(CN202023101665.1)公布了一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，该结构通过设置真空层和保温板，将冷测试仓和热测试仓之间的温度隔绝，防止彼此受到影响，防止温度错乱，提升测试的准确性。但是，该结构在使用时不利于厂家流水作业，降低了设备的检测效率。因此，本领域技术人员提供了一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术内...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)的两侧对称安装有侧边(3)，且工作台(1)上对称转动安装有转筒(2)，两个所述转筒(2)之间设有传输带(5)，所述传输带(5)上对称安装有限位条(4)，且传输带(5)的上表面位于两个限位条(4)之间等间距放置有承载架(6)，所述承载架(6)的上表面对称开设有放置槽(22)，且承载架(6)的中段位置处开设有定位槽(21)，两个所述转筒(2)之间安装有设备箱(7)，所述设备箱(7)的下表面中部位置处安装有与定位槽(21)滑动连接的定位板(20)，且设备箱(7)的内部开设有传动腔(15)，所述设备箱(7)的下表面对称安装有与放置槽(22)适配的热冲击检测板(17)，所述传动腔(15)的内部设有用于驱动热冲击检测板(17)上下往复运动的传动组件。2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置，其特征在于，所述传动组件包括固定安装在传动腔(15)内部顶端的双轴电机(11)，所述双轴电机(11)的输出端均安装有传动轴(12)，两个所述传动轴(12)上固定套设有偏心轮...
【专利技术属性】
技术研发人员：张雪奎，张伟，郑耀春，
申请(专利权)人：深圳市联旗电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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