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一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置制造方法及图纸
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下载一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置的技术资料
文档序号:34541630
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本实用新型涉及电子元件检测技术领域,具体是一种用于电子元器件的热冲击性能检测装置,所述工作台的两侧对称安装有侧边,且工作台上对称转动安装有转筒,两个所述转筒之间设有传输带,所述传输带上对称安装有限位条,且传输带的上表面位于两个限位条之间等间...
该专利属于深圳市联旗电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市联旗电子有限公司授权不得商用。
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