本实用新型专利技术涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，所述底架的内部设置有第三电动伸缩杆，所述第三电动伸缩杆的伸缩端连接有伸缩架，所述伸缩架的下表面在放置板的上方设置有放置架，所述放置架的内部设置有检测块，所述放置板的上表面设置有检测板，所述检测板的上表面设置有安装板，且检测板的上表面在安装板的后方设置有夹紧板。通过底架内部设置的第三电动伸缩杆的工作，能够调节伸缩架的高度，同时利用第二电动伸缩杆的工作可调节放置架的位置，并利用第一电动伸缩杆的工作可将卡板与检测块分开，这样能够将检测块释放，从而通过检测块可对检测板上的电子元器件冲击检测。块可对检测板上的电子元器件冲击检测。块可对检测板上的电子元器件冲击检测。
【技术实现步骤摘要】
一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置
[0001]本技术涉及电子元器件检测
，具体是一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置。
技术介绍
[0002]电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其包括电阻、电容、电子管、传感器、继电器、印制电路板等，这样会使得电子元器件可广泛的各个领域，而电子元器件在使用前需要对电子元器件进行耐冲击性能检测，只有达到规定的耐冲击强度才可投入使用。
[0003]中国专利公开了一种应用于电子产品的耐冲击质量检测机(授权公告号CN 206756412U)，该专利技术通过设置连接绳以及在连接绳上设置金属球，将金属球提拉到预设高度并释放，最终金属球冲击到挡板的表面，挡板上的力传感器检测到受到的冲击力；再将待测的电子产品放到置物板上，同样将金属球提拉到预设高度，观察待测电子产品受到冲击后的受损程度，进而判断电子产品的耐冲击质量，但是，该专利通过金属球来判断电子产品的耐冲击质量，可是无法对金属球的高度以及位置进行调节，这样使得检测的数据较差，并且需要人员操作，这样会增加工作人员的劳动强度，同时在检测时也无法对元件进行固定，容易发生移动而影响检测。因此，本领域技术人员提供了一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，包括放置板以及设置在放置板上表面的底架，所述底架的内部设置有第三电动伸缩杆，所述第三电动伸缩杆的伸缩端连接有伸缩架，所述伸缩架的下表面在放置板的上方设置有放置架，所述放置架的内部设置有检测块，所述放置板的上表面设置有检测板，所述检测板的上表面设置有安装板，且检测板的上表面在安装板的后方设置有夹紧板。
[0007]作为本技术再进一步的方案：所述放置架的一侧设置有第一电动伸缩杆，所述第一电动伸缩杆的伸缩端外部套接有连接套，所述连接套的一端连接有卡板。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述放置架的上表面安装有固定杆，所述固定杆的上端连接有滑块，所述伸缩架的下表面开设有与滑块相互滑动的滑槽。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述安装板的下表面对称设置有定位杆，所述放置板的上表面开设有与定位杆相互适配的定位孔。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述安装板的后表面对称设置有连接杆，所述连接杆的后端设置有调节杆，所述调节杆的后端连接在夹紧板的前表面。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述连接杆的内部设置有固定槽，所述固定槽的内部设置有弹簧，所述弹簧的后端连接有限位板，所述限位板的后表面与调节杆的前端连接。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述伸缩架的内侧设置有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆的伸缩端连接在放置架的一侧。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]1、本技术通过底架内部设置的第三电动伸缩杆的工作，能够调节伸缩架的高度，这样能够调节放置架内部设置的检测块的高度，使得能够在不同高度下进行检测，同时利用第二电动伸缩杆的工作，可调节放置架的位置，同时利用第一电动伸缩杆的工作，可快速的将卡板与检测块分开，这样能够将检测块释放，从而通过检测块能够对放置在检测板上的电子元器件进行冲击检测，该检测效率快，并能够在不同的位置下进行检测，使得检测的效果更好，同时能够减轻工作人员的劳动强度；
[0015]2、将安装板放置到检测板上，即安装板下表面设置的定位杆会嵌入到定位孔的内部，这样可将安装板进行固定，在将夹紧板向后拉动时会使得固定槽内部设置的弹簧受到拉力发生形变，此时将需要检测的电子元器件放置到检测板上，放置后可将夹紧板释放，这样能够使得弹簧恢复形变，并且使得夹紧板向安装板的位置移动，从而对电子元器件进行夹紧固定，该设置结构简单，固定效果好，避免在检测时发生移动而影响检测效率。
附图说明
[0016]图1为一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置的结构示意图；
[0017]图2为图1中A部分的放大图；
[0018]图3为一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置调节杆的结构示意图；
[0019]图4为一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置中滑块的结构示意图。
[0020]图中：1、伸缩架；2、第一电动伸缩杆；3、检测块；4、放置架；5、第二电动伸缩杆；6、放置板；7、检测板；8、夹紧板；9、安装板；10、底架；11、连接杆；12、定位杆；13、定位孔；14、弹簧；15、限位板；16、固定槽；17、调节杆；18、连接套；19、卡板；20、滑块；21、固定杆。
具体实施方式
[0021]请参阅图1～4，本技术实施例中，一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，包括放置板6以及设置在放置板6上表面的底架10，底架10的内部设置有第三电动伸缩杆，第三电动伸缩杆的伸缩端连接有伸缩架1，伸缩架1的下表面在放置板6的上方设置有放置架4，放置架4的内部设置有检测块3，放置架4的一侧设置有第一电动伸缩杆2，第一电动伸缩杆2的伸缩端外部套接有连接套18，连接套18的一端连接有卡板19，放置架4的上表面安装有固定杆21，固定杆21的上端连接有滑块20，伸缩架1的下表面开设有与滑块20相互滑动的滑槽，伸缩架1的内侧设置有第二电动伸缩杆5，第二电动伸缩杆5的伸缩端连接在放置架4的一侧，本技术通过底架10内部设置的第三电动伸缩杆的工作，能够调节伸缩架1的高度，这样能够调节放置架4内部设置的检测块3的高度，使得能够在不同高度下进行检测，同时利用第二电动伸缩杆5的工作，可调节放置架4的位置，同时利用第一电动伸缩杆2的工作，可快速的将卡板19与检测块3分开，这样能够将检测块3释放，从而通过检测块3能
够对放置在检测板7上的电子元器件进行冲击检测，该检测效率快，并能够在不同的位置下进行检测，使得检测的效果更好，同时能够减轻工作人员的劳动强度。
[0022]在图1、图2和图3中：放置板6的上表面设置有检测板7，检测板7的上表面设置有安装板9，安装板9的下表面对称设置有定位杆12，放置板6的上表面开设有与定位杆12相互适配的定位孔13，且检测板7的上表面在安装板9的后方设置有夹紧板8，安装板9的后表面对称设置有连接杆11，连接杆11的后端设置有调节杆17，调节杆17的后端连接在夹紧板8的前表面，连接杆11的内部设置有固定槽16，固定槽16的内部设置有弹簧14，弹簧14的后端连接有限位板15，限位板15的后表面与调节杆17的前端连接，将安装板9放置到检测板7上，即安装板9下表面设置的定位杆12会嵌入到定位孔13的内部，这样可将安装板9进行固定，在将夹紧板8向后拉动时会使得固定槽16内部设置的弹簧14受到拉力发生形变，此时将需要检测本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，包括放置板(6)以及设置在放置板(6)上表面的底架(10)，其特征在于，所述底架(10)的内部设置有第三电动伸缩杆，所述第三电动伸缩杆的伸缩端连接有伸缩架(1)，所述伸缩架(1)的下表面在放置板(6)的上方设置有放置架(4)，所述放置架(4)的内部设置有检测块(3)，所述放置板(6)的上表面设置有检测板(7)，所述检测板(7)的上表面设置有安装板(9)，且检测板(7)的上表面在安装板(9)的后方设置有夹紧板(8)。2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，其特征在于，所述放置架(4)的一侧设置有第一电动伸缩杆(2)，所述第一电动伸缩杆(2)的伸缩端外部套接有连接套(18)，所述连接套(18)的一端连接有卡板(19)。3.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件的耐冲击性能检测装置，其特征在于，所述放置架(4)的上表面安装有固定杆(21)，所述固定杆(21)的上端连接有滑块(20)，所述伸缩架(1)的下表面开设有与滑块(20)...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵军友，郑耀春，郑伟，
申请(专利权)人：深圳市联旗电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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