一种半导体器件检测的可循环仓储装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上，推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构，升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器。其有益效果为：通过两个料仓可循环不间断的给抓取装置提供载盘，既增加了载盘的仓储数量，又提高了半导体器件的检测效率，托盘槽的设计便于托盘的放入和取出。设计便于托盘的放入和取出。设计便于托盘的放入和取出。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体器件检测的可循环仓储装置


[0001]本专利技术涉及半导体器件的生产检测领域，特别涉及一种半导体器件检测的可循环仓储装置。

技术介绍

[0002]半导体器件在完成生产后，大多装载于自吸附盒的载盘内等待下一步的检测，待通过检测后，再进行相应的封装。对于批量自动化的检测场景，一般是通过抓取装置逐个抓取载盘，依次有序地进行检测。目前是由人工先将多个载盘放入相应位置，再由抓取装置抓取，因装载的载盘数量有限，每次抓取完后，需停留一段时间，人工重新在所有空缺位置补充好载盘后，抓取装置才能再次进行抓取，此过程无法保证抓取的连续性，大大降低了批量检测的效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术为了克服现有技术的缺点，提供一种半导体器件检测的可循环仓储装置，通过两个可循环料仓的设置，可仓储多个载盘，并且可持续的对空缺位置进行载盘的补充，使抓取装置可连续的工作，无需中间过程的停留，保证了检测工作的连续性，提高了批量检测的自动化程度和工作效率。
[0004]本专利技术的一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，其特征在于：所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上；所述推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的第一推送机构和所述第二料仓底部的第二推送机构；所述升降机构包括多个用于放置载盘的托盘、设置于所述第一料仓的第一升降器、第一升降驱动器，设置于所述第二料仓的第二升降器、第二升降驱动器，两个升降器上沿竖直方向均开设有多个可插入托盘的托盘槽；所述控制器与控制开关、推送机构、升降机构电连接，所述第一升降驱动器和所述第二升降驱动器分别驱动所述第一升降器和所述第二升降器升降运动。2.根据权利要求1所述的一种半导体器件检测的可循环仓储装置，其特征在于：还包括依次设置于所述第一料仓一侧的第一限位板、所述第二料仓一侧的第二限位板和所述第一料仓与所述第二料仓间的第三限位板，所述第三限位板的上方和下方留有可供托盘横向通过的空间。3.根据权利要求2所述的一种半导体器件检测的可循环仓储...

【专利技术属性】
技术研发人员：饶炯辉，雷畅，
申请(专利权)人：武汉人和睿视科技有限公司，
类型：新型
国别省市：