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本发明公开了一种半导体器件检测的可循环仓储装置，包括仓储单元、控制器和控制开关，所述仓储单元包括料仓组、推送机构、升降机构，所述料仓组包括左右并列设置的第一料仓和第二料仓，所述控制开关设置于所述料仓组上，推送机构包括设置于所述第一料仓顶部的...
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