电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

本公开提供了一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质。该方法包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。该方法能够提高可靠性评估结果的准确性。够提高可靠性评估结果的准确性。够提高可靠性评估结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质


[0001]本公开属于设备测试领域，特别涉及一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质。

技术介绍

[0002]可靠性是指产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定的功能的能力。
[0003]对于可靠性水平较高且使用寿命较长的电子设备，当其可靠性指标为给定任务时长下的任务可靠度，通过开展可靠性试验进行可靠性评估时，通常需要假定电子设备服从寿命型指数分布，将可靠度转化为平均故障间隔时间后，再根据相关标准确定可靠性统计试验方案，开展试验，基于试验结果进行可靠性评估。
[0004]由于存在基于假定条件的转换，所以该方式得到的可靠性评估结果不够准确。

技术实现思路

[0005]本公开实例提供了一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质，能够提供可靠性评估结果的准确性。所述技术方案如下：
[0006]一方面，本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估方法，所述方法包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
[0007]可选地，所述根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和所述任务时间对应的可靠度；根据抽样原理，基于所述可靠度，确定所述试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数。
[0008]可选地，所述根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性，包括以下至少一种：
[0009]根据所述试验总次数和所述成功试验次数，确定所述电子设备的可靠度的点估计结果；
[0010]根据所述试验总次数、所述成功试验次数和置信度，确定电子设备的可靠度的单侧置信下限，所述置信度是基于所述可靠性指标确定的；
[0011]根据任务时间和所述可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的；
[0012]根据任务时间和所述可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的。
[0013]可选地，所述方法还包括：
[0014]根据电子设备包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率，其中，第一失效率为每种所述元器件在第一环境温度下的工作失效率，第二失效率为所述电子设备在所
述第一环境温度下的工作失效率，所述第一环境温度为所述电子设备正常工作时的环境温度；
[0015]根据所述加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子；
[0016]根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子；
[0017]根据所述任务时长和所述电子设备的加速因子，确定所述加速寿命试验的试验时长。
[0018]可选地，所述根据加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子，包括：确定每种所述元器件的激活能；基于所述第一环境温度、第二环境温度和所述激活能，根据所述加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。
[0019]可选地，所述根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子，包括：
[0020]将每种所述元器件的加速因子与对应的权重值相乘的乘积之和，确定为所述电子设备的加速因子，每种所述元器件对应的所述权重值等于所述元器件对应的所述第一失效率与所述第二失效率的比值。
[0021]另一方面，本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估装置，所述装置包括：试验方案确定模块、获得模块和评估模块。其中，试验方案确定模块用于根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得模块用于获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；评估模块用于根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
[0022]又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器。其中，所述处理器被配置为执行所述可执行指令，以实现前述方法。
[0023]又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，当计算机可读存储介质中的指令由计算机设备的处理器执行时，使得计算机设备能够执行前述方法。
[0024]又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现前述方法。
[0025]本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果包括：
[0026]本公开实施例无需先根据假定条件对可靠性指标进行转换，再确定统计试验方案，这样，能够避免假定条件带来的不确定性，有利于提高可靠性评估结果的准确性。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1是本公开实施例提供的一种电子设备的可靠性评估方法的流程图；
[0029]图2是本公开实施例提供的另一种电子设备的可靠性评估方法的流程图；
[0030]图3是本公开实施例提供的一种电子设备的可靠性评估装置的结构示意图；
[0031]图4是本公开实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
[0032]为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。
[0033]为了便于理解本公开实施例，下面先对相关名词进行解释。
[0034]可靠度：可靠性的概率度量。产品的可靠度越高，产品可以无故障工作的时间就越长。
[0035]平均故障间隔时间：在规定的条件下和在规定的时间内，产品故障的总数与寿命单位总数之比称为“故障率”。平均故障间隔时间是故障率的倒数。
[0036]本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估方法，如图1所示，该方法包括：
[0037]101：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，统计试验方案包括试验总次数以及试验总次数对应的最低成功试验次数。
[0038]也即是，在本公开实施例中，通过二项分布确定可靠性试验的统计试验方案。二项分布是多个独立的成功/失败试验中成功的次数的离散概率分布，其中每次试验的成功概率为p。
[0039]本公开实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备的可靠性评估方法，其特征在于，所述方法包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和所述任务时间对应的可靠度；根据抽样原理，基于所述可靠度，确定所述试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性，包括以下至少一种：根据所述试验总次数和所述成功试验次数，确定所述电子设备的可靠度的点估计结果；根据所述试验总次数、所述成功试验次数和置信度，确定电子设备的可靠度的单侧置信下限，所述置信度是基于所述可靠性指标确定的；根据任务时间和所述可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的；根据任务时间和所述可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据电子设备包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率，其中，第一失效率为每种所述元器件在第一环境温度下的工作失效率，第二失效率为所述电子设备在所述第二环境温度下的工作失效率，所述第一环境温度为所述电子设备正常工作时的环境温度；根据所述加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子；根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国胜，李万，金晶，宋刚，樊进，陆军，仇玲萍，胡刚，马苗，詹孟宇，邹杨思，许传农，丁嵘，张鹏，
申请(专利权)人：武汉船舶通信研究所中国船舶重工集团公司第七二二研究所，
类型：发明
国别省市：