用于偏振测量的方法和设备技术

用于偏测量的一种方法和设备。使用一个检偏振镜能确定光学信号的偏振状态，该检偏振镜包括一个偏振控制器、一个偏振镜、一个波长分散元件及一个光电探测器。该方法和设备能应用于在波长分隔多路复用通信系统中的偏振和偏振模式分散测量。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种偏振测量的方法，包括：（ａ）把一个特征在于偏振状态的光学信号引导到一个偏振控制器中；（ｂ）把来自偏振控制器的光学信号引导到一个偏振镜中；（ｃ）把来自偏振镜的光学信号引导到一个波长分散元件，以产生包括每个特征在于一个波长范围的 多个频谱分量的分散光学信号；（ｄ）把分散光学信号引导到一个用来检测多个频谱分量的光电探测器中；（ｅ）把偏振控制器设置到多个位置；（ｆ）对于偏振控制器的多个位置的每一个，使用光电探测器测量光学信号的功率；及（ｇ）通过分析在（ｅ ）测量的光学信号的功率，得到光学信号的偏振状态。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：罗沙贝内迪科特尔哈德约瑟夫摩勒，保罗斯帝芬伟斯特布鲁克，
申请(专利权)人：朗迅科技公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]