本发明专利技术公开了一种机械电子插件自动测试设备,其结构包括转轴、盖板、密封圈、测试卡槽、底座,转轴转动配合在盖板和底座之间,盖板内连接有密封圈,密封圈间隙配合在测试卡槽上,在助力体上设有操控装置和承压结构,利用操控装置和承压结构在翻叠套管上相配合,当顶锉在圆底工件外圆周上改变自身的倾斜角度时,将会先借助背部的承压结构横向按压在套垫上,初步缓解顶锉进一步倾斜,使得承压结构压制着操控装置沿着翻叠套管上内收,配合着梳理条齿推动卷环在套垫上向外滚动,以递进式有效整理着网格套的网格密度,确保网格套稳定承接着圆底工件至指定深度进行检测。件至指定深度进行检测。件至指定深度进行检测。
【技术实现步骤摘要】
一种机械电子插件自动测试设备
[0001]本专利技术涉及自动测试设备领域,特别的,是一种机械电子插件自动测试设备。
技术介绍
[0002]自动测试设备是一种对被测对象自动进行性能验证和故障诊断并对故障予以隔离的测试设备,现有的机械电子插件自动测试设备一般会利用网格套配合指引杆,让顶锉控制卡板呈四爪收拢状态,引导圆底工件至指定深度内进行自动测试,提高该设备的测试效率,当指引杆以满弓状牵引套垫沿着顶锉下滑,将会改变顶锉在圆底工件外圆周上的倾斜角度,使其弧形开口会直接向下拨动多个网眼朝同向堆积,导致网格套内外圆周的网眼密度不一致,造成网格套提前绷紧附罩在圆底工件下,难以根据需要延伸至指定深度,降低该设备对圆底工件自动测试的能力。
技术实现思路
[0003]针对上述问题,本专利技术提供一种机械电子插件自动测试设备,其结构包括转轴、盖板、密封圈、测试卡槽、底座,所述转轴转动配合在盖板和底座之间,所述盖板内连接有密封圈,所述密封圈间隙配合在测试卡槽上,所述测试卡槽包括套垫、指引杆、顶锉、助力体、卡板、网格套,所述套垫连接在卡板上,且通过指引杆过渡配合在网格套上,所述网格套与顶锉之间设有助力体,所述卡板连接在底座上。
[0004]作为本专利技术的进一步改进,所述助力体包括卷环、操控装置、梳理条齿、翻叠套管、承压结构,所述卷环通过操控装置滚动配合在翻叠套管一侧和网格套之间,所述翻叠套管上安装有承压结构,且之间连接有梳理条齿。
[0005]作为本专利技术的进一步改进,所述梳理条齿通过承压结构间隙配合在网格套上,能够初步改变网格套的网眼密度。
[0006]作为本专利技术的进一步改进,所述操控装置包括滚球、扩围件、磨合层、定框、填充棉花、挂带,所述滚球通过定框滚动配合在卷环上,所述定框通过扩围件连接在挂带上,所述挂带连接在磨合层上,所述磨合层间隙配合在梳理条齿上,所述定框内连接有填充棉花。
[0007]作为本专利技术的进一步改进,所述定框通过填充棉花间隙配合在卷环上,便于整顿卷环转向力度。
[0008]作为本专利技术的进一步改进,所述扩围件包括滑轨、止停块、压垫、滑条、突出柄,所述滑轨通过突出柄连接在挂带上,且滑动配合有滑条,所述滑条间隙配合在压垫上,所述压垫滑动配合在挂带上,所述止停块过渡配合在定框上。
[0009]作为本专利技术的进一步改进,所述承压结构包括弧面夹、偏向件、顶位囊、导向划片,所述弧面夹通过偏向件滚动配合在顶锉上,且间隙配合在顶位囊上,所述顶位囊连接在导向划片上,所述导向划片内贯穿滑动配合在磨合层和挂带上,且通过翻叠套管另一侧间隙配合在压垫上。
[0010]作为本专利技术的进一步改进,所述偏向件包括摆翼、内收片、外沿条、连杆、活动卡,
所述摆翼连接在连杆上,且通过外沿条间隙配合在弧面夹和顶锉上,所述连杆和内收片连接在活动卡上,且连杆连接在导向划片上,所述活动卡活动卡合在顶位囊上。
[0011]有益效果与现有技术相比,本专利技术的有益效果:1、本专利技术在助力体上设有操控装置和承压结构,利用操控装置和承压结构在翻叠套管上相配合,当顶锉在圆底工件外圆周上改变自身的倾斜角度时,将会先借助背部的承压结构横向按压在套垫上,初步缓解顶锉进一步倾斜,使得承压结构压制着操控装置沿着翻叠套管上内收,配合着梳理条齿推动卷环在套垫上向外滚动,以递进式有效整理着网格套的网格密度,确保网格套稳定承接着圆底工件至指定深度进行检测。
[0012]2、本专利技术由于卷环的椭圆结构,能提供给滚球滑动轨迹,使其到位后,能顺势引导定框同向打开滑动在卷环上,推动卷环在网格套上反向转动的重量和方向,有利于下一进程的推进。
[0013]3、本专利技术通过偏向件按压在导向划片和顶位囊之间,扩大缩小为磨合层和挂带留存的空间,能有效控制住磨合层和挂带的延伸长度,加强结构之间的相互配合。
附图说明
[0014]图1为本专利技术一种机械电子插件自动测试设备的结构示意图。
[0015]图2为本专利技术测试卡槽的平面结构示意图。
[0016]图3为本专利技术助力体的平面结构示意图。
[0017]图4为本专利技术操控装置的平面结构示意图。
[0018]图5为本专利技术扩围件的平面结构示意图。
[0019]图6为本专利技术承压结构的平面结构示意图。
[0020]图7为本专利技术偏向件的俯视结构示意图。
[0021]图中:转轴
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3、盖板
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1、密封圈
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2、测试卡槽
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4、底座
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5、套垫
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q5、指引杆
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w2、顶锉
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e1、助力体
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r3、卡板
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t4、网格套
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u6、卷环
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y34、操控装置
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u33、梳理条齿
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i32、翻叠套管
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o31、承压结构
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p35、滚球
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3a3、扩围件
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3s2、磨合层
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3d1、定框
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3f4、填充棉花
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3g6、挂带
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3h5、滑轨
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j21、止停块
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k24、压垫
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l22、滑条
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z23、突出柄
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x25、弧面夹
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5c3、偏向件
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5v2、顶位囊
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5b1、导向划片
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5n4、摆翼
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w24、内收片
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e23、外沿条
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r22、连杆
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t21、活动卡
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y25。
具体实施方式
[0022]基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0023]实施例1如图1
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图3所示,本专利技术提供一种机械电子插件自动测试设备,其结构包括转轴3、盖板1、密封圈2、测试卡槽4、底座5,所述转轴3转动配合在盖板1和底座5之间,所述盖板1内固定连接有密封圈2,所述密封圈2间隙配合在测试卡槽4上,所述测试卡槽4包括套垫q5、指引杆w2、顶锉e1、助力体r3、卡板t4、网格套u6,所述套垫q5固定连接在卡板t4上,且通过指引杆w2过渡配合在网格套u6上,所述网格套u6与顶锉e1之间设有助力体r3,所述卡板t4焊接连接在底座5上,所述助力体r3包括卷环y34、操控装置u33、梳理条齿i32、翻叠套管o31、
承压结构p35,所述卷环y34通过操控装置u33滚动配合在翻叠套管o31一侧和网格套u6之间,所述翻叠套管o31上安装有承压结构p35,且之间固定连接有梳理条齿i32,所述梳理条齿i32为两条以上的齿状结构组成,通过承压结构p35间隙配合在网本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种机械电子插件自动测试设备,其特征在于:其结构包括转轴(3)、盖板(1)、密封圈(2)、测试卡槽(4)、底座(5),所述转轴(3)转动配合在盖板(1)和底座(5)之间,所述盖板(1)内连接有密封圈(2),所述密封圈(2)间隙配合在测试卡槽(4)上,所述测试卡槽(4)包括套垫(q5)、指引杆(w2)、顶锉(e1)、助力体(r3)、卡板(t4)、网格套(u6),所述套垫(q5)连接在卡板(t4)上,且通过指引杆(w2)过渡配合在网格套(u6)上,所述网格套(u6)与顶锉(e1)之间设有助力体(r3),所述卡板(t4)连接在底座(5)上。2.根据权利要求1所述的一种机械电子插件自动测试设备,其特征在于:所述助力体(r3)包括卷环(y34)、操控装置(u33)、梳理条齿(i32)、翻叠套管(o31)、承压结构(p35),所述卷环(y34)通过操控装置(u33)滚动配合在翻叠套管(o31)一侧和网格套(u6)之间,所述翻叠套管(o31)上安装有承压结构(p35),且之间连接有梳理条齿(i32)。3.根据权利要求2所述的一种机械电子插件自动测试设备,其特征在于:所述梳理条齿(i32)通过承压结构(p35)间隙配合在网格套(u6)上。4.根据权利要求2所述的一种机械电子插件自动测试设备,其特征在于:所述操控装置(u33)包括滚球(3a3)、扩围件(3s2)、磨合层(3d1)、定框(3f4)、填充棉花(3g6)、挂带(3h5),所述滚球(3a3)通过定框(3f4)滚动配合在卷环(y34)上,所述定框(3f4)通过扩围件(3s2)连接在挂带(3h5)上,所述挂带(3h5)连接在磨合层(3d1)上,所述磨合层(3d1)间隙配合在梳理条齿(i32)上,所述定框(...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑琳,刘金元,李生强,刘坤,
申请(专利权)人:荆楚理工学院,
类型:发明
国别省市:
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