本发明专利技术公开了薄膜生产检测设备技术领域的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台，所述检测台上设置有定位机构；所述助推机构包括设置于检测板中部的轨道槽，所述轨道槽内滑动配合有推块，所述轨道槽沿检测板的长度方向延伸。本发明专利技术通过设置助推机构，实现对检测头的推动和加速，避免震动影响检测结果，通过设置定位机构，将微纳米光学薄膜压紧定位，防止其在检测过程中偏移滑动，通过设置碰撞传感器，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据。数据。数据。
【技术实现步骤摘要】
一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备
[0001]本专利技术涉及薄膜生产检测设备
，具体为一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备。
技术介绍
[0002]微纳米光学薄膜在经济建设和发展中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视，光学薄膜按应用分为反射膜、增透膜、滤光膜、光学保护膜、偏振膜、分光膜和位相膜，光学反射膜用以增加镜面反射率，常用来制造反光、折光和共振腔器件，光学增透膜沉积在光学元件表面，用以减少表面反射，增加光学系统透射，又称减反射膜。
[0003]经检索，国家专利公开号为CN113049412A公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置的实施方法，包括支撑固定机构、高压吹出机构和落块冲击机构，高压吹出机构固定安装在支撑固定机构上，且落块冲击机构活动安装在高压吹出机构上，通过高压气流将安装在连接管头上的落块冲击机构吹出，并冲击在薄膜上，完成对薄膜的冲击，无需将落块冲击机构置于特定的高度上。
[0004]然而上述方案中依然存在不足，不足之处如下：
[0005]1、该方案通过高压气泵产生高压气流，吹动落块冲击机构下落，实现对微纳米光学薄膜的承压曲张检测，然而高压气泵在工作过程中会产生较大震动，从而容易引起落块冲击机构发生震动，震动会对检测造成影响，导致检测结果不准确；
[0006]2、该方案通过调节高压气泵的输出气压，改变落块冲击机构的冲击力度，然而高压气泵的调节操作较为麻烦，降低了检测效率；
[0007]3、该方案虽然可以通过高压气泵的输出气压判断落块冲击机构的冲击力度，然而这种方式并不能直观的、快速且精确的掌握冲击力度数据，在进行多次冲击检测时，数据的记录十分不便。
技术实现思路
[0008]本专利技术的目的在于提供一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的容易产生震动影响检测结果、检测效率较低和冲击力度判断不直观精确的问题。
[0009]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台，所述检测台上设置有定位机构；
[0010]所述助推机构包括设置于检测板中部的轨道槽，所述轨道槽内滑动配合有推块，所述轨道槽沿检测板的长度方向延伸，所述轨道槽的两侧均设置有侧板，所述侧板采用C字形结构，两块所述侧板固定连接于检测板上，两块所述侧板上均滑动连接有滑块，两块所述侧板上均转动连接有丝杆，所述丝杆沿侧板的长度方向延伸，所述丝杆上贯穿滑块并与滑
块之间螺纹配合，两个所述滑块分别通过第一弹簧与推块弹性连接，所述推块的底部采用磁性材料制成，所述检测头上端固定连接有永磁块，所述永磁块与推块之间异极相对。
[0011]优选的，所述定位机构包括设置于检测台上方的定位环，所述定位环的周侧壁上均布有四个安装块，所述安装块的下端固定连接有导向杆，所述导向杆贯穿并滑动连接于检测台上，所述导向杆的下端固定连接有固定板，所述导向杆上套设有第二弹簧，所述第二弹簧的两端分别与固定板和检测台连接。
[0012]优选的，所述定位环采用磁性材料制成，所述检测台上表面嵌设有与定位环共轴的环形电磁铁，所述环形电磁铁与定位环之间异极相对，所述检测板上设置有用于为环形电磁铁供电的电磁感应机构。
[0013]优选的，所述电磁感应机构包括多组导电线圈和蓄电池，多组所述导电线圈均匀嵌设于轨道槽的侧壁内，并且所述导电线圈的绕置方向沿轨道槽的长度方向延伸，所述蓄电池安装于检测板的侧壁上，所述导电线圈与蓄电池耦合连接，所述蓄电池与环形电磁铁电性连接。
[0014]优选的，所述丝杆的上端贯穿侧板并固定连接有手柄。
[0015]优选的，所述检测头的底部设置有滑槽，所述滑槽内滑动配合有滑动杆，所述滑槽的内顶面安装有碰撞传感器，所述滑动杆的下端固定连接有测压头。
[0016]优选的，所述滑槽两侧的侧壁上设置有凹槽，所述凹槽内设置有定位块，所述滑动杆的侧壁上设置有与定位块匹配的定位槽，所述定位块的一端固定连接有连接杆，所述连接杆远离定位块的一端延伸至检测头外并固定连接有翼板，所述翼板远离连接杆的一面为凸起的弧面，另一面为平面。
[0017]优选的，所述检测头内开设有通孔，所述连接杆滑动设置于通孔内。
[0018]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0019](1)本专利技术通过设置助推机构，可通过第一弹簧拉动推块在轨道槽内快速移动，实现对检测头的推动和加速，无需将检测头置于一定高度的位置上，相较于现有技术，避免高压气泵工作时产生的震动影响检测，导致检测结果不准确的问题发生；
[0020]并且，可通过转动丝杆调节滑块的位置，即改变第一弹簧的拉伸蓄力程度，实现对检测头的冲击力度的改变，调节快捷方便，有利于工作效率的提高。
[0021](2)本专利技术通过设置定位机构，以检测头在轨道槽内的滑动为驱动力，对环形电磁铁充电，通过磁吸作用，将定位环向下吸引，并将微纳米光学薄膜压紧定位，防止其在检测过程中偏移滑动，影响检测结果的准确性，无需工作人员手动控制固定，降低检测工作时的劳动强度。
[0022](3)本专利技术通过设置碰撞传感器、测压头和滑动杆，检测过程中，测压头与微纳米光学薄膜表面碰撞接触后，推挤滑动杆向滑槽内滑动，滑动杆上端与碰撞传感器接触碰撞，碰撞传感器即可检测出冲击力度，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据；
[0023]并且，通过设置定位块和翼板，初始时，定位块卡设于定位槽内，使得滑动杆无法在滑槽内滑动，避免碰撞传感器被误触，影响检测结果，当检测头快速向下滑动时，根据伯努利原理，翼板在气流影响下，可将定位块拉出定位槽外，则滑动杆可在滑槽内自由移动，进而可通过碰撞传感器对冲击力度进行检测。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备的结构示意图；
[0026]图2为图1中A处放大图；
[0027]图3为本专利技术微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备中检测板的侧面结构示意图；
[0028]图4为本专利技术微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备中检测头的内部结构示意图。
[0029]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0030]1、底座；2、检测头；3、支撑柱；4、固定杆；5、检测板；6、检测台；7、轨道槽；8、推块；9、侧板；10、滑块；11、丝杆；12、第一弹簧；13、永磁块；14、定位环；15、安装块；16、导向杆；17、固定板；18、第二弹簧；19、环形电磁铁；20、导本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座(1)和检测头(2)，其特征在于，所述底座(1)上固定连接有支撑柱(3)，所述支撑柱(3)上通过固定杆(4)固定连接有检测板(5)，所述检测板(5)上设置有用于推动检测头(2)的助推机构，所述检测板(5)的正下方设置有检测台(6)，所述检测台(6)上设置有定位机构；所述助推机构包括设置于检测板(5)中部的轨道槽(7)，所述轨道槽(7)内滑动配合有推块(8)，所述轨道槽(7)沿检测板(5)的长度方向延伸，所述轨道槽(7)的两侧均设置有侧板(9)，所述侧板(9)采用C字形结构，两块所述侧板(9)固定连接于检测板(5)上，两块所述侧板(9)上均滑动连接有滑块(10)，两块所述侧板(9)上均转动连接有丝杆(11)，所述丝杆(11)沿侧板(9)的长度方向延伸，所述丝杆(11)上贯穿滑块(10)并与滑块(10)之间螺纹配合，两个所述滑块分别通过第一弹簧(12)与推块(8)弹性连接，所述推块(8)的底部采用磁性材料制成，所述检测头(2)上端固定连接有永磁块(13)，所述永磁块(13)与推块(8)之间异极相对。2.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位机构包括设置于检测台(6)上方的定位环(14)，所述定位环(14)的周侧壁上均布有四个安装块(15)，所述安装块(15)的下端固定连接有导向杆(16)，所述导向杆(16)贯穿并滑动连接于检测台(6)上，所述导向杆(16)的下端固定连接有固定板(17)，所述导向杆(16)上套设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)的两端分别与固定板(17)和检测台(6)连接。3.根据权利要求2所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位环(14)采用磁性材料制成，所述检测台(6)上表面嵌设有与定位环(14)共轴的环形电磁铁(...
【专利技术属性】
技术研发人员：王水华，
申请(专利权)人：王水华，
类型：发明
国别省市：
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