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本发明公开了薄膜生产检测设备技术领域的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台...
该专利属于王水华所有，仅供学习研究参考，未经过王水华授权不得商用。

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