TFT-LCD单屏幕光电参数的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种TFT

【技术实现步骤摘要】
TFT
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LCD单屏幕光电参数的测试方法


[0001]本专利技术涉及LCD测试领域，特别是涉及一种TFT
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LCD单屏幕光电参数的测试方法。

技术介绍

[0002]TFT
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LCD单屏幕测试得到的光电参数至少包括单体屏幕的电压
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亮度曲线、响应速度曲线、透过率，现有的TFT
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LCD单屏幕测试的技术方案是：TFT面板的引线脚上设有基本测试点(GATE、VCOM、Data
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RGB、VGG)测试点与面板内部的相应电极通过导电引线连接，使用电测夹具通过金属线或金属探针与测试点电性连接，并通过电测夹具向测试点输入不同的电压进行光电参数测试。在TFT面板中常规的导电引线选择Mo(钼)材质，然而，对部分对湿度敏感的产品来说，VCOM测试点的导电引线采用ITO(氧化铟锡)材质，由于ITO的电阻较大，此时VCOM端等同于串联了一个较大的电阻，导致TFT
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LCD单屏幕进行光电参数测试(如电压
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亮度曲线、响应速度曲线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种TFT
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LCD单屏幕光电参数的测试方法，其特征在于，包括：提供TFT
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LCD单屏幕，所述TFT
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LCD单屏幕上设有测试点、SOURCE IC绑定位、FPC绑定位，所述SOURCE IC绑定位上涂覆有锡层，所述测试点包括VGG、GATE、VCOM、DATA
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RGB，所述DATA
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RGB位于所述SOURCE IC绑定位上，所述DATA
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RGB上涂覆有所述锡层；提供电测夹具，所述电测夹具上设有与所述测试点相对应的探头，所述VGG、所述GATE分别与相对应的所述探头连接，所述电测夹具上用于与所述DATA
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RGB连接的所述探头与涂覆在所述DATA
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RGB上的所述锡层连接，所述电测夹具上用于与所述VCOM连接的所述探头与所述FPC绑定位上的过孔连接；通过所述电测夹具向所述TFT
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LCD单屏幕与所述探头的连接点输入测试电压进行测试。2.根据权利要求1所述的TFT
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LCD单屏幕光电参数的测试方法，其特征在于，所述测试点与所述TFT
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LCD单屏幕内部的相应电极通过导电引线连接，所述导电引线包括第一导电引线和第二导电引线，所述第二导电引线的电阻值大于所述第一导电引线。3.根据权利要求2所述的T...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄广明，叶穗丰，许振泉，
申请(专利权)人：信利惠州智能显示有限公司，
类型：发明
国别省市：