光电场波形观测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种可适用于相位调制信号或现有强度调制信号等所有的高速调制光信号的光电场波形的简易观测法。以高的时间倍率来精密测定光信号的电场波形。在分支激光光源（１０１）的输出光，用光调制器（１０８）调制一个输出光，由延迟线同量延迟另一输出光后，输入到相位分散电路（１１３），构筑零差干涉仪。光输入采样示波器测试头（１２０－１）以图案同步信号（１０９）为基准，稳定化可变光移相器（１１０），使特定时刻的光相位变为一定值，另一方面，光输入采样示波器测试头（１２０－２）取得光波形，重复实施平均化，ＣＰＵ（１２２）三维显示去除噪声后的光电场波形。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光电场波形观测装置，其特征在于：具有测定机构，按每个同相分量和正交分量、或每个振幅分量和相位角分量，对数字调制的输入光信号的光电场进行时间采样，并进行测定；并且具备对将所述两个电场分量按时间系列排列的三维光电场波形进行三维显示的机构，或具备将沿时间系列方向以数字调制的１比特或１代码时间的整数倍的时间单位、对所述两个光电场分量进行翻折的三维光电场眼图合成并三维显示的机构。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：菊池信彦，
申请(专利权)人：日立通讯技术株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]