一种性能测试数据的分析方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种性能测试数据的分析方法，涉及元件识别领域，包括：采对测试数据和设计资料进行分类，并存放于不同文件类型中，以同一个文件类型中的元件为键，以元件的功能测试结果为值的键值对；对每类元件进行数据分析；对所有元件的测试数据通过机器学习进行监督学习，并获取测试数据集合；对获取的元件进行初步标识；对初步标识的元件进一步判断；对进一步判断的元件进行纵向扩展判断；判断元件的性能是否满足系统要求；把匹配到的所有参数相似的元件进行理论值仿真，记录所有仿真的结果，生成报告推荐给用户。本发明专利技术通过推荐适合的元件，提高了生产效率以及推荐的精确度。提高了生产效率以及推荐的精确度。提高了生产效率以及推荐的精确度。

A method and system for analyzing performance test data

【技术实现步骤摘要】
一种性能测试数据的分析方法及系统


[0001]本专利技术涉及电子元件识别领域，尤其是涉及一种性能测试数据的分析方法及系统。

技术介绍

[0002]电子元件的选型在板卡的制造过程中是非常重要的部分，在设计阶段，电子工程师都是按照需要实现的功能进行选型，比如功耗，存储空间，速度等，一般会选择高出实际应用的元件；在板卡升级的过程中，如果已选择的元件没有出现问题，都不会进行更换。上述的过程都是通过人工进行选择，需要有经验才能选择出比较好的元件，在这种情况下，避免不了选到不合适的元件，到后期升级，需要又需要花费大量的时间去选择匹配的元件，并伴随了生产效率低下，升级性能不足。且目前测试数据的零散性，没有把设计资料跟测试数据整合起来，出现问题只针对一个元件进行分析。为了解决上述的问题，急需设计出一种专门针对电子板卡在升级过种中自动辨别性能低下的电子元件的方法。

技术实现思路

[0003]为了解决以上技术问题，本专利技术提供了一种性能测试数据的分析方法。
[0004]为了实现本专利技术的目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]一种性能测试数据的分析方法，包括以下步骤：
[0006]步骤S1：对测试数据以及设计资料进行分类，将分类后的测试数据再以文件类型进行分类，得到以分配到同一个文件类型中的元件为键，以元件的功能测试结果为值的键值对；
[0007]步骤S2：对电子板卡上的每类元件进行数据分析，并根据元件的类型针对每类元件创建数据分析模型；其中的每类元件指代的是同一类元件，该同一类元件是指完全相同的元件，比如厂家、型号等完全相同的电子元件；
[0008]步骤S3：对电子板卡上安装的所有元件的测试数据通过机器学习采用KNN算法进行监督学习，获取每类元件在同一工况下所有的测试数据集合；
[0009]步骤S4：通过判断步骤S3中获取的每类元件的测试数据通过型号进行汇总，并判断在同一工况下的测试数据是否符合正态分布，对于不符合正态分布的元件，进行初步标识，并把不符合正态分布的标识元件放入待分析队列中，同时根据爬取到的每类元件的预设阈值范围进行判断，把不符合预设阈值范围的每类元件标识出来并放入待分析队列中；
[0010]步骤S5：从待分析队列中一一获取每个标识元件，并对获取的每个标识元件分别在不同工况下的测试数据进行单独分析，并根据分析结果进行判断是否符合设计要求；若不符合设计要求，则直接放入到有问题队列；若符合设计要求则进行步骤S6；
[0011]步骤S6：将步骤S5中获取的符合设计要求的标识元件进行纵向扩展，判断每个符合设计要求的标识元件在单一电路网络中的测试值是否正常；若不正常，则把元件放入到有问题的队列，若正常，则舍弃标识元件；
[0012]步骤S7：从有问题的队列中获取任意元件，通过采用数据模型分析方法对同一类元件所连接的电路网络进行误差计算，从而判断该元件的性能是否满足待测电子板卡的要求；若判断的同一类元件的性能满足待测电子板卡要求，则直接输出；若判断的同一类元件的性能不满足待测电子板卡要求，会自动的从设计资料中获取该元件的各类参数，从板卡电子元件库中匹配参数相近的元件；
[0013]步骤S8：把匹配到的所有参数相似的元件进行理论值仿真，记录所有仿真的结果，生成报告。
[0014]进一步地，采用软件的数据加载模块加载电子板卡上安装的所有元件的测试数据，以及设计资料；对测试数据以及设计资料进行分类，将分类后的测试数据结果和设计资料结果分别存放于不同的文件类型中；
[0015]进一步地，不同的文件类型使用不同的库，至少包括csv、pdf、xls和net中的一种或多种类型。
[0016]进一步地，所述步骤S1，在测试过程中，不同的测试工站对每一类元件进行测试，获取针对每一类元件在不同测试环境下的所有测试数据，且每一类元件中的同一类元件在不同的测试工站中使用同样的名字标识，并通过聚类的方式，获取针对同一类元件在不同测试环境下的所有测试数据。
[0017]进一步地，采用数据分析模型对同一类元件进行测试分析，包括如下步骤：
[0018]步骤1：获取元件分类后的测试数据；
[0019]步骤2：通过聚类的方式获取获取同一类元件的测试数据；分离包含指定元件的所有链路数据，用同一类元件个体在不同工况下的测试数据进行拟合，确定拟合函数；
[0020]步骤3：将推导出的拟合函数用于同一类元件的不同个体；
[0021]步骤4：不同个体通过采用皮尔逊相关系数判断相似度，并根据相似度分别获得这一批次的元件性能是否相近的判断结果。
[0022]进一步地，所述步骤S5，基于最大值、最小值以及均值进行判断在指定工况下的测试数据值是否符合设计要求。
[0023]进一步地，所述设计资料包括设计原理图、板卡电子元件库、网络针点关系表和BOM表中的一种或多种。
[0024]进一步地，对于单一电路网络，需获取到该单一电路网络起始点的电压值作为源端值，通过替换源端值的方式进行计算判断测试值是否在允许的范围内。
[0025]进一步地，根据元件的性能以及设定的筛选条件进行判断每类元件的参数是否相似。
[0026]进一步地，测试数据是对所有元件进行性能测试的数据。
[0027]进一步地，筛选条件包括温度和读取速度是否一致。
[0028]一种分析电子元件性能的系统，包括数据采集模块、数据整合模块、数据分析模块和数据导出模块；数据采集模块包括设计原理图、板卡电子元件库、网络针点关系表和测试数据；数据分析模块包括基于Python的数据爬虫、基于pandas和scilkit
‑
leam数据分析和tensorflow机器学习；数据导出模块可以导出异常报告以及推荐合适的元件；数据采集模块将采集到的数据输入至数据整合模块进行整合，并将整合的数据输入至数据分析模块进行分析，若在分析过程中出现异常，则会导出异常报告并推荐其他合适的元件，若未出现异
常，则直接输出。
[0029]进一步地，通过将数据分析模块与网络连接，分析系统会自动把不符合设计要求的元件的性能参数传输至指定的网站进行匹配元件，最终输出相应的报告。
[0030]与现有技术相比，本专利技术的有益效果具体体现在：
[0031]本专利技术方案采用数据分析、筛选以及机器学习的方法，从已有测试数据中分析每一个电子元件的性能，且会对整个设计过程的数据进行分析，如果从测试数据中发现只要跟某个电子元件相关的测试值都相对偏低或偏高或者异常，就会把这部分的电路标记，以及通过连接网络可以搜索匹配的元件供选择，从而推荐适合的元件，降低了花费的时间成本，并且提供了生产效率以及推荐合适元件的精确度。
附图说明
[0032]图1为本专利技术的方法流程图；
[0033]图2为实施例1的示例图；
[0034]图3为本专利技术的系统结构图；
[0035]图4为本专利技术中的数据分析模型流程图。
具体实施方式
[0036本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种性能测试数据的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：对测试数据以及设计资料进行分类，将分类后的测试数据再以文件类型进行分类，得到以分配到同一个文件类型中的元件为键，以元件的功能测试结果为值的键值对；步骤S2：对电子板卡上的每类元件进行数据分析，并根据元件的类型针对每类元件创建数据分析模型；步骤S3：对电子板卡上安装的所有元件的测试数据通过机器学习采用KNN算法进行监督学习，获取每类元件在同一工况下所有的测试数据集合；步骤S4：通过判断步骤S3中获取的每类元件的测试数据通过型号进行汇总，并判断在同一工况下的测试数据是否符合正态分布，对于不符合正态分布的元件，进行初步标识，并把不符合正态分布的标识元件放入待分析队列中，同时根据爬取到的每类元件的预设阈值范围进行判断，把不符合预设阈值范围的每类元件标识出来并放入待分析队列中；步骤S5：从待分析队列中一一获取每个标识元件，并对获取的每个标识元件分别在不同工况下的测试数据进行单独分析，并根据分析结果进行判断是否符合设计要求；若不符合设计要求，则放入到有问题队列；若符合设计要求则进行步骤S6；步骤S6：将步骤S5中获取的符合设计要求的标识元件进行纵向扩展，判断每个符合设计要求的标识元件在单一电路网络中的测试值是否正常；若不正常，则把元件放入到有问题的队列，若正常，则舍弃标识元件；步骤S7：从有问题的队列中获取任意元件，通过采用数据模型分析方法对同一类元件所连接的电路网络进行误差计算，从而判断该元件的性能是否满足待测电子板卡的要求；若判断的同一类元件的性能满足待测电子板卡要求，则直接输出；若判断的同一类元件的性能不满足待测电子板卡要求，会自动的从设计资料中获取该元件的各类参数，从板卡电子元件库中匹配参数相近的元件；步骤S8：把匹配到的所有参数相似的元件进行理论值仿真，记录所有仿真的结果，生成报告。2.根据权利要求1所述的一种性能测试数据的分析方法，其特征在于，不同的文件类型使用不同的库，至少包括csv、pdf、xls和net中的一种或多种类型。3.根据权利要求1所述的一种性能测试数据的分析方法，其特征在于，所述步骤S1，在测试过程中，不同的测试工站对每一类元件进行测试，获取针对每一类元件在不同测试环境下的所有测试数据，且每一类元件中的同一类元件在不同的测试工站中使用同样的名字标识，并通过聚类的方式，获取针对同一类元件在不同测试环境下...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄金辉，郜继成，李兴雄，文雯，
申请(专利权)人：珠海市精实测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：