一种测试系统技术方案

本申请实施例提供一种测试系统，其中，所述系统包括：脉冲发生器，与待测存储单元连接，用于向所述待测存储单元施加高频脉冲信号；电压测试模块，与所述待测存储单元连接，用于在所述高频脉冲信号的作用下，测试所述待测存储单元在进行读操作或写操作时的电压信号；电流测试模块，与所述待测存储单元连接，用于在所述高频脉冲信号的作用下，测试所述待测存储单元在进行所述读操作或所述写操作时的电流信号。号。号。

【技术实现步骤摘要】
一种测试系统


[0001]本申请实施例涉及性能测试领域，涉及但不限于一种测试系统。

技术介绍

[0002]相变存储器作为一种新型的存储器，由于具有低操作电压、快的读取速度以及可以进行单个比特(binary digit，bit)的读写等特点，被认为是可以代替闪存的主流非易失性存储器。
[0003]但是，相关技术中对相变存储器进行性能测试时，需要施加一个很长的电压脉冲，这种测量方式会带来很大的读取扰动，从而使得获取的数据不可靠，并且不利于器件的可靠性测试。

技术实现思路

[0004]基于相关技术中的问题，本申请实施例提供一种测试系统。
[0005]本申请实施例的技术方案是这样实现的：
[0006]本申请实施例提供一种测试系统，所述测试系统包括：脉冲发生器，与待测存储单元连接，用于向所述待测存储单元施加高频脉冲信号；
[0007]电压测试模块，与所述待测存储单元连接，用于在所述高频脉冲信号的作用下，测试所述待测存储单元在进行读操作或写操作时的电压信号；
[0008]电流测试模块，与所述待测存储单元连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，其特征在于，所述系统包括：脉冲发生器，与待测存储单元连接，用于向所述待测存储单元施加高频脉冲信号；电压测试模块，与所述待测存储单元连接，用于在所述高频脉冲信号的作用下，测试所述待测存储单元在进行读操作或写操作时的电压信号；电流测试模块，与所述待测存储单元连接，用于在所述高频脉冲信号的作用下，测试所述待测存储单元在进行所述读操作或所述写操作时的电流信号。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：高频脉冲信号修正模块，分别与所述脉冲发生器和所述待测存储单元连接，用于对所述高频脉冲信号进行修正。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述待测存储单元为相变存储单元，所述相变存储单元至少包括位线和字线；所述位线和所述字线分别位于所述相变存储单元的两侧。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述系统还包括至少一个第一衬垫和至少一个第二衬垫；所述字线通过一个第一衬垫与所述电压测试模块连接，并通过一个第二衬垫与所述电流测试模块连接；所述位线通过另一个第一衬垫与所述电压测试模块连接，并通过另一个第二衬垫与所述脉冲...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭文林，刘峻，杨海波，刘广宇，付志成，李松，
申请(专利权)人：长江先进存储产业创新中心有限责任公司，
类型：新型
国别省市：