功耗测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。所述测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。本公开采用小于或等于系统的数据处理量的测试数据量进行测试，获取其测试功耗，将功耗与系统的数据处理量相结合，实现对存储器的功耗的量化分析，提高测试的准确性以及测试结果的可靠性。的准确性以及测试结果的可靠性。的准确性以及测试结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
功耗测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]无论是移动设备还是大型数据中心，都会消耗相当大的电量，其中，存储器的功耗占了很大一部分。因此，存储器的功耗是一个很重要的性能指标。但是在以往分析存储器的功耗时，只能进行定性分析，无法进行定量分析。

技术实现思路

[0003]以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质。
[0005]根据本公开实施例的第一方面，提供一种功耗测试方法，所述功耗测试方法包括：根据所述待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。
[0006]根据本公开的一些实施例，根据待测数据量确定预设时长及所述预设时长对应的测试数据量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功耗测试方法，其特征在于，所述功耗测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。2.根据权利要求1所述的功耗测试方法，其特征在于，根据待测数据量确定预设时长及所述预设时长对应的测试数据量，包括：根据所述待测数据量，确定所述预设测试操作的运行时长；根据第一预设规则将所述运行时长分成N份所述预设时长，根据第二预设规则将所述待测数据量分成N份所述测试数据量，其中， N为大于或等于1的整数。3.根据权利要求2所述的功耗测试方法，其特征在于，所述第一预设规则包括按照时长等分，所述第二预设规则包括按照所述第一预设规则的等分数量对所述待测数据量等分。4.根据权利要求2所述的功耗测试方法，其特征在于，根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗，包括：将N份所述预设时长内的测试功耗之和，作为所述存储单元的功耗。5.根据权利要求1所述的功耗测试方法，其特征在于，所述功耗测试方法还包括：获取所述预设测试操作的测试时长；当所述测试时长小于或等于所述预设时长时，将所述测试功耗作为所述存储单元在所述预设时长内的功耗。6.根据权利要求5所述的功耗测试方法，其特征在于，所述预设测试操作包括预设读写操作，所述获取所述预设时长内的测试功耗，包括：获取向所述存储单元执行所述预设读写操作的第一测试功耗；将所述第一测试功耗作为所述预设时长内的测试功耗。7.根据权利要求6所述的功耗测试方法，其特征在于，对所述存储单元执行预设测试操作，包括：在对所述存储单元执行所述预设读写操作后，使所述存储单元处于休眠状态。8.一种功耗测试装置，其特征在于，所述功耗测试装置包括：第一确定模块，被配置为，根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数...

【专利技术属性】
技术研发人员：张曙光，
申请(专利权)人：长鑫集电北京存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：