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本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。所述测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时...
该专利属于长鑫集电（北京）存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫集电（北京）存储技术有限公司授权不得商用。

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