【技术实现步骤摘要】
集成电路管脚检测装置
[0001]本技术涉及半导体检测仪器
,尤其涉及集成电路管脚检测装置。
技术介绍
[0002]集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路专利技术者为杰克
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基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特
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诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。
[0003]现有的集成电路管脚在生产过程中可能会出现管脚倾斜或接触不良的情况,因此需要后期的质检,而现有的集成电路管脚倾斜情况在检测时一般采用人工目视测量,增强工作人员工作量的同时对工作人员的视力有较大的损伤,且人工检测存在一定误 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.集成电路管脚检测装置,包括置物台(1),其特征在于,所述置物台(1)内部开设有第一滑槽(2),所述第一滑槽(2)内部设置有第一矫正装置(3),所述置物台(1)一侧外壁设置有集成电路结构(4),所述集成电路结构(4)包括集成电路板(401)和引脚(402),所述置物台(1)靠近集成电路板(401)的一侧外壁且位于集成电路板(401)的两侧设置有第二矫正装置(5),所述引脚(402)的数量与第二矫正装置(5)的数量相匹配,所述集成电路板(401)远离第二矫正装置(5)的两侧设置有第一固定轴(6),所述第一固定轴(6)内部设置有第一轴承(7),所述第一轴承(7)远离置物台(1)的一侧设置有固定装置(8)。2.根据权利要求1所述的集成电路管脚检测装置,其特征在于,所述第一矫正装置(3)包括横向矫正块(301)、滑块(302)和按钮(303),所述横向矫正块(301)内部开设有限位槽且限位槽为梯形设计,同时限位槽的最小开口尺寸与引脚(402)的宽度相适配,所述横向矫正块(301)通过滑块(302)和第一滑槽(2)与置物台(1)滑动连接,所述按钮(303)的大小大于第一滑槽(2)。3.根据权利要求1所述的集成电路管脚检测装置,其特征在于,所述第二矫正装置(5)包括纵向矫正块(501)、纵向矫正槽(502)和第二滑槽(503),所述纵向矫正槽(502)为上宽下窄的梯形设计,所述纵向矫正槽(502)的最小开口尺寸与引...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘海水,
申请(专利权)人:厦门锐祺毅信息科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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