采样RF信号的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:3425149 阅读:149 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供用于在接收机中对RF信号进行采样的方法和装置,特别是提供了能够显著降低在RF频带内执行的采样率的方法和装置。本发明专利技术提供一种用于对RF信号进行采样的装置,该RF信号包括多个干扰频率分量和一个有用频率分量,该装置包括:滤波单元,用于从RF信号中滤出至少一个预定的干扰频率分量以产生陷波滤波RF信号;采样单元,用于以预定的采样率对陷波滤波RF信号进行采样以产生离散模拟信号。采样单元可以由多个陷波滤波器实现。通过使用根据本发明专利技术的方法和装置可以简单方便地实现RF采样,并且采样率可以降至约为有用频率分量的载波频率的1/N,这大大低于现有RF采样方案的采样率。根据本发明专利技术的方法和装置能够显著降低采样时的功耗。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于采样RF信号的装置,该RF信号包括多个干扰频率分量和一个有用频率分量,所述装置包括: 滤波单元,用于从RF信号中滤出至少一个预定的干扰频率分量以产生陷波滤波RF信号; 采样单元,用于以预定的采样率对所述陷波滤波RF信号进行采样以产生离散模拟信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:X钱
申请(专利权)人:NXP股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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