一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法技术

本发明专利技术涉及一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法，该平台包括：平台准入模块，用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件，基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限；信息采集模块，用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息；平台管理模块，用于对失效芯片信息进行审核，针对发布虚假信息企业基于惩戒，并考评企业给予激励；统计分析模块，用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。本发明专利技术有效的将各种零散的失效分析案例整合起来，实现信息的规范化、统一化管理，消除“信息孤岛”，打破信息壁垒，形成可共享的知识平台；该平台对于芯片选型和芯片失效快速分析有重要支撑作用。有重要支撑作用。有重要支撑作用。

A chip based failure analysis platform and chip selection method

【技术实现步骤摘要】
一种基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法


[0001]本专利技术属于芯片数据库管理及应用
，具体涉及基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法。

技术介绍

[0002]一般来说芯片在研制、生产、储存和使用等多个环节过程中，受设计、制程工艺以及高温、静电、湿气等多种综合环境应力的影响，不可避免的会出现失效问题。导致失效的原因复杂多变，分析难度大，需要花费大量人力、物力和财力。
[0003]随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，失效分析工作也显得越来越重要。
[0004]对于汽车厂而言，车载芯片作为智能网联汽车网络安全、功能安全的核心部件，其安全性、可靠性贯穿着汽车的整个生命周期，一旦车载芯片失效将会引起汽车功能的紊乱，比如汽车突然加速或者无法刹车灯，这对车上乘客的生命安全都将会造成严重威胁。
[0005]芯片失效分析通过确定失效模式和失效机理，提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理重现，减少和预防同类芯片的失效现象重复发生，保障产品质量，提高产品竞争力，同时还可以为企业技术开发、技术改造提供反馈信息，增强企业产品核心竞争力，从而获得更大的经济效益。
[0006]芯片品类繁多，涉及的知识面广且信息量大，失效分析过程的复杂性及不可逆性（遵从非破坏性、半破坏性、破坏性的分析原则）、失效原因的排它性，对失效分析技术人员知识储备、专业能力要求较高。芯片失效分析搭建在于宝贵经验的记录，成果案例的几何，形成几何后的统计分析。芯片失效分析平台也是企业经验延续的载体，可以给失效分析技术人员以及时的咨询和知道，在工作中无形提供解决方案的快速提取，如何充分利用芯片失效分析平台防患于未然，有效的把控芯片选型的风险系数，降低使用风险，提高整机的可靠性，成为越来越多企业关注的重点。
[0007]目前芯片失效分析案例库平台呈现碎片化和零散性的特征，主要以团体或者个体为单位，无法实现个体之间、个体与团队之间、团体之间的资源共享，缺乏资源可持续性、延续性。随着资源信息不断迅速增长，如何实现信息的规范化、统一化管理，消除“信息孤岛”，打破信息壁垒，避免重复建设成为目前亟需解决的问题。

技术实现思路

[0008]本专利技术的目的是提供一种基于芯片的失效平台及芯片选型方法，解决的技术问题：目前芯片失效分析平台呈现出碎片化和零散性的特征，主要以团体或者个体为单位，无法实现个体之间、个体与团队之间、团体之间的资源共享，缺乏资源可持续性、延续性，随着资源信息不断迅速增长，如何实现信息的规范化、统一化管理，消除“信息孤岛”，打破信息壁垒，避免重复建设成为目前亟需解决的问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种基于芯片失效分析平台，包
括：平台准入模块，用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件，基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限，其中，已进入平台的企业均可向平台提供芯片失效分析案例以形成案例库；信息采集模块，用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息；平台管理模块，用于对失效芯片信息进行审核，针对发布虚假信息企业基于惩戒，并考评企业给予激励；统计分析模块，用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。
[0009]优选地，所述准入模块包括准入模式和企业权限，企业加入平台有两种方式：对龙头企业或者TOP100企业，企业被平台主动邀请而获得平台准入资格；对于初创企业或者弱实力企业可以主动向平台申请访问权限，平台认可后即可获得平台准入资格。
[0010]优选地，在所述信息采集模块中，所述芯片失效分析信息包括芯片信息、失效模式、失效机理和失效改善；所述芯片信息包括芯片类型、芯片型号、生产厂商、生产批次，其中，所述生产厂商包括晶圆厂、封测厂和设计公司；所述芯片类型包括计算类、控制类、存储类、通信类、电源类、传感器及分立元器件；所述失效模式指失效表现形式，包括开路、短路、参数漂移及功能性能失效；所述失效机理指导致失效的外部或内部因素，所述失效机理包括使用不当、环境因素、静电、设计缺陷、制造缺陷、外围电路不匹配，其中所述制造缺陷包括封装缺陷和晶圆缺陷；所述失效改善按照效果可以分为已完全改善、部分改善且不影响主要功能使用、部分改善仍有影响功能可能、无法改善。
[0011]优选地，在所述平台管理模块中，平台按季度对企业进行考评，评价维度从发布信息的有效性、价值水平方面进行；所述激励的措施包括可优先获得有深度信息。
[0012]优选地，在所述统计分析模块中，平台将采集信息即芯片信息、失效机理及失效改善进行关联，提取关键信息，所述关键信息包括芯片失效风险系数、特定制程芯片在特定环境失效风险水平；所述芯片失效风险系数由失效模式系数、失效机理系数、失效改善系数综合得出。
[0013]优选地，所述失效模式系数根据失效现象对产品功能影响程度分为四个指数等级，包括第一指数、第二指数、第三指数、第四指数；第一指数，其表示影响人身安全；第二指数，其表示功能完全丧失；第三指数，其表示功能部分丧失；第四指数，其表示功能无明显影响。
[0014]优选地，所述失效机理系数根据失效原因分为四个指数等级，包括第五指数、第六指数、第
七指数、第八指数；第五指数，其表示设计缺陷；第六指数，其表示制造缺陷；第七指数，其表示应用环境因素；第八指数，其表示使用不当因素。
[0015]优选地，所述失效改善系数根据改善情况分为四个指数等级，包括第九指数、第十指数、第十一指数、第十二指数；第九指数，其表示已完全改善；第十指数，其表示已部分改善不影响主要功能使用；第十一指数，其表示部分改善仍有影响功能可能；第十二指数，其表示未改善。
[0016]优选地，所述芯片失效风险系数为δ ；所述失效模式系数为α ；所述失效机理系数为β ；所述失效改善系数为γ ；δ=α
×
β
×
γ ；本专利技术还提供一种基于上述的基于芯片的失效分析平台的芯片选型方法，包括的步骤为：A01，芯片选型平台采集选型芯片信息及辅助信息；A02，将所选的芯片的选型芯片信息及辅助信息与所述失效分析平台进行匹配；A03，如果匹配有结果，则判定所选的芯片的风险等级；A04，如果判定结果为高风险，则专家组评估是否可用；A05，如果判定结果为低风险，，则进行溯源备份。
[0017]优选地，在所述A01中，所述选型芯片信息包括芯片类型、芯片型号、生产厂商、生产批次，其中，所述芯片类型包括计算类、控制类、存储类、通信类、电源类、传感器、分立元器件；所述辅助信息包括芯片出货量、芯片紧急程度、可替换性。
[0018]优选地，在所述A03中，根据所述芯片出货量得到出货指数，所述出货指数有四个等级，四个等级分别代表的含义为超大出货量、大出货量、小出货量、新品；根据芯片紧急程度，得到需求指数，所述需求指数反映了三种情况，分别为预留采用、正常采用及应急采用；根据可替换性，得到可替换指数，所述可替换指数分为三类，分别是必选型、可选型、多选型；芯片失效风险系数为δ；出货指数为з ；需求指数为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于芯片的失效分析平台，其特征在于，包括：平台准入模块，用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件，基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限，其中，已进入平台的企业均可向平台提供芯片失效分析案例以形成案例库；信息采集模块，用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息；平台管理模块，用于对失效芯片信息进行审核，针对发布虚假信息企业基于惩戒，并考评企业给予激励；统计分析模块，用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。2.根据权利要求1所述的平台，其特征在于，所述平台准入模块包括准入模式和企业权限，企业加入平台有两种方式：对强实力企业，企业被平台主动邀请而获得平台准入资格；对于初创企业或者弱实力企业可以主动向平台申请访问权限，平台认可后即可获得平台准入资格。3.根据权利要求1所述的平台，其特征在于，在所述信息采集模块中，所述芯片失效分析信息包括芯片信息、失效模式、失效机理和失效改善；所述芯片信息包括芯片类型、芯片型号、生产厂商、生产批次，其中，所述生产厂商包括晶圆厂、封测厂和设计公司；所述芯片类型包括计算类、控制类、存储类、通信类、电源类、传感器及分立元器件；所述失效模式指失效表现形式，包括开路、短路、参数漂移及功能性能失效；所述失效机理指导致失效的外部或内部因素，所述失效机理包括使用不当、环境因素、静电、设计缺陷、制造缺陷、外围电路不匹配，其中所述制造缺陷包括封装缺陷和晶圆缺陷；所述失效改善按照效果可以分为已完全改善、部分改善且不影响主要功能使用、部分改善仍有影响功能可能、无法改善。4.根据权利要求1所述的平台，其特征在于，在所述平台管理模块中，平台按季度对企业进行考评，评价维度从发布信息的有效性、价值水平方面进行；所述激励的措施包括可优先获得有深度信息。5.根据权利要求1所述的平台，其特征在于，在所述统计分析模块中，平台将采集信息即芯片信息、失效机理及失效改善进行关联，提取关键信息，所述关键信息包括芯片失效风险系数、特定制程芯片在特定环境失效风险水平；所述芯片失效风险系数由失效模式系数、失效机理系数、失效改善系数综合得出。6.根据权利要求5所述的平台，其特征在于，所述失效模式系数根据失效现象对产品功能影响程度分为四个指数等级，包括第一指数、第二指数、第三指数、第四指数；第一指数，其表示影响人身安全；第二指数，其表示功能完全丧失；第三指数，其表示功能部分丧失；第四指数，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴海波，关鹏辉，谢先立，李静艳，娄晓康，
申请(专利权)人：重庆长安汽车股份有限公司，
类型：发明
国别省市：